一种高速测试分选装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种高速测试分选装置，转塔支撑立臂上端设有横向联接立臂，横向联接立臂左下端设有电气转换系统，电气转换系统下端设有独立下压机构，独立下压机构下端设有真空分配机构，真空分配机构下端设有取料吸嘴机构，取料吸嘴机构下端设有DDR电机系统，DDR电机系统下端设有设备工台板，设备工台板下端设有设备电气机柜，本实用新型专利技术能够满足现代工厂高产能、高质量的生产需求，采用了先进的DDR电机与实时控制系统，以及合理的机构设计与工序分布，实现对半导体分立器高速高性能的电性测试、外观检测、激光打标、分选分类、编带封装等，设备运行速度高且故障率低，以及便捷因生产需要对产品类型变更转换。

【技术实现步骤摘要】
一种高速测试分选装置
本技术涉及一种工业自动化
，具体是一种高速测试分选装置。
技术介绍
随着半导体分立器件产业在国际市场占有举足轻重的地位提升，并保持着持续、快速、稳定的发展，同时电子整机、消费类电子产品等市场的发展，使半导体分立器件的需求量的增长。因此，现代的生产工厂需要一种高速，高性能的测试分选设备以满足其生产需要，然而，常规的半导体分立器件测试分选机，因机械结构限制，设备运行速度较低，且设备故障率较高，工厂产能速度UPH较低，同时设备工位工序不容易拓展与产品类型变更转换，导致无法满足高产能、高质量的生产需求。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种高速测试分选装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种高速测试分选装置，包括转塔取放模组、高速送料模组、视像检测装置、转向纠正装置、电性测试装置、定位修正装置、打标副盘模组、DS检测模组、集中分料装置、编带封装模组、留拓展工位、测试拓展位置、极性测试装置、清料回收装置、操作控制系统、转塔支撑立臂、横向联接立臂、电气转换系统、独立下压机构、真空分配机构、取料吸嘴机构、DDR电机系统、设备工作台板、设备电气机柜、支脚和滑轮，所述转塔支撑立臂上端设有横向联接立臂，所述横向联接立臂左下端设有电气转换系统，所述电气转换系统下端设有独立下压机构，所述独立下压机构下端设有真空分配机构，所述真空分配机构下端设有取料吸嘴机构，所述取料吸嘴机构下端设有DDR电机系统，所述DDR电机系统下端设有设备工台板，所述设备工台板下端设有设备电气机柜。作为本技术进一步的方案：转塔取放模组包括转塔支撑立臂、横向联接立臂、电气转换系统、独立下压机构、真空分配机构、取料吸嘴机构、DDR电机系统、设备工作台板、设备电气机柜、支脚和滑轮，能够有效地提升生产效率。作为本技术进一步的方案：真空分配机构以圆型卫星状分布在DDR电机周围，即按整圆18位、24位以及36位均分，通过DDR电机相应按照20°、15°、10°等角度运转转塔取放模组内的真空吸嘴机构，与独立伺服下压机构配合将器件取放并运转到各工序，实现半导体分立器高速传递和取放器件，使半导体分立器件按照一定的生产工艺流程顺序进行相关的高速处理工作。作为本技术进一步的方案：设备电气机柜下端面设有支脚和滑轮，便于对装置进行移动和定位固定。作为本技术再进一步的方案：视像检测装置和3D5S检测模组内皆采用CCD高速工业相机，工作效率高。与现有技术相比，本技术的有益效果是：将DDR电机组成转塔取放模组安装置于工位中心位置，各工位以圆型卫星状分布在周围即按整圆18位、24位、36位均分，通过DDR电机相应按照20°、15°、10°等角度运转转塔取放模组内的真空吸嘴机构，与独立伺服下压机构配合将器件取放并运转到各工序，实现半导体分立器高速传递和取放器件，使半导体分立器件按照一定的生产工艺流程顺序进行相关的高速处理工作；实现对半导体分立器高速高性能的电性测试、外观检测、激光打标、分选分类、编带封装等，设备运行速度高且故障率低，可以跟据客户需求分为18工位、24工位、36工位等，方便工厂对设备工位工序拓展，以及便捷因生产需要对产品类型变更转换；解决了现代工厂高产能、高质量，多功能的生产需求，节约了成本，提高了工作效率。附图说明图1为一种高速测试分选装置的结构示意图。图2为一种高速测试分选装置的俯视图。图3为一种高速测试分选装置的俯剖视图。图4为一种高速测试分选装置中转塔取放模组的结构示意图。图5为一种高速测试分选装置中高速送料模组的结构示意图。图6为一种高速测试分选装置中视像检测装置的结构示意图。图7为一种高速测试分选装置中转向纠正装置的结构示意图。图8为一种高速测试分选装置中电性测试装置的结构示意图。图9为一种高速测试分选装置中定位修正装置的结构示意图。图10为一种高速测试分选装置中打标副盘模组的结构示意图。图11为一种高速测试分选装置中3D5S检测模组的结构示意图。图12为一种高速测试分选装置中集中分料装置的结构示意图。图13为一种高速测试分选装置中编带封装模组的结构示意图。图中：转塔取放模组1、高速送料模组2、视像检测装置3、转向纠正装置4、电性测试装置5、定位修正装置6、打标副盘模组7、3D5S检测模组8、集中分料装置9、编带封装模组10、留拓展工位11、测试拓展位置12、极性测试装置13、清料回收装置14、操作控制系统15、转塔支撑立臂16、横向联接立臂17、电气转换系统18、独立下压机构19、真空分配机构20、取料吸嘴机构21、DDR电机系统22、设备工作台板23、设备电气机柜24、支脚25、滑轮26。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1～13，本技术实施例中，一种高速测试分选装置，包括转塔取放模组1、高速送料模组2、视像检测装置3、转向纠正装置4、电性测试装置5、定位修正装置6、打标副盘模组7、3D5S检测模组8、集中分料装置9、编带封装模组10、留拓展工位11、测试拓展位置12、极性测试装置13、清料回收装置14、操作控制系统15、转塔支撑立臂16、横向联接立臂17、电气转换系统18、独立下压机构19、真空分配机构20、取料吸嘴机构21、DDR电机系统22、设备工作台板23、设备电气机柜24、支脚25和滑轮26，转塔支撑立臂16、横向联接立臂17、电气转换系统18、独立下压机构19、真空分配机构20、取料吸嘴机构21、DDR电机系统22、设备工作台板23、设备电气机柜24、支脚25和滑轮26，能够有效地提升生产效率，所述转塔支撑立臂16上端设有横向联接立臂17，所述横向联接立臂17左下端设有电气转换系统18，所述电气转换系统18下端设有独立下压机构19，所述独立下压机构19下端设有真空分配机构20，真空分配机构20以圆型卫星状分布在DDR电机周围，即按整圆18位、24位以及36位均分，通过DDR电机相应按照20°、15°、10°等角度运转转塔取放模组内的真空吸嘴机构，与独立伺服下压机构配合将器件取放并运转到各工序，实现半导体分立器高速传递和取放器件，使半导体分立器件按照一定的生产工艺流程顺序进行相关的高速处理工作，所述真空分配机构20下端设有取料吸嘴机构21，所述取料吸嘴机构21下端设有DDR电机系统22，所述DDR电机系统22下端设有设备工台板23，所述设备工台板23下端设有设备电气机柜24，设备电气机柜24下端面设有支脚25和滑轮26，便于对装置进行移动和定位固定，视像检测装置3和3D5S检测模组8内皆采用CCD高速工本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高速测试分选装置，包括转塔取放模组、高速送料模组、视像检测装置、转向纠正装置、电性测试装置、定位修正装置、打标副盘模组、3D5S检测模组、集中分料装置、编带封装模组、留拓展工位、测试拓展位置、极性测试装置、清料回收装置、操作控制系统、转塔支撑立臂、横向联接立臂、电气转换系统、独立下压机构、真空分配机构、取料吸嘴机构、DDR电机系统、设备工作台板、设备电气机柜、支脚和滑轮，其特征在于，所述转塔支撑立臂上端设有横向联接立臂，所述横向联接立臂左下端设有电气转换系统，所述电气转换系统下端设有独立下压机构，所述独立下压机构下端设有真空分配机构，所述真空分配机构下端设有取料吸嘴机构，所述取料吸嘴机构下端设有DDR电机系统，所述DDR电机系统下端设有设备工台板，所述设备工台板下端设有设备电气机柜。/n

【技术特征摘要】
1.一种高速测试分选装置，包括转塔取放模组、高速送料模组、视像检测装置、转向纠正装置、电性测试装置、定位修正装置、打标副盘模组、3D5S检测模组、集中分料装置、编带封装模组、留拓展工位、测试拓展位置、极性测试装置、清料回收装置、操作控制系统、转塔支撑立臂、横向联接立臂、电气转换系统、独立下压机构、真空分配机构、取料吸嘴机构、DDR电机系统、设备工作台板、设备电气机柜、支脚和滑轮，其特征在于，所述转塔支撑立臂上端设有横向联接立臂，所述横向联接立臂左下端设有电气转换系统，所述电气转换系统下端设有独立下压机构，所述独立下压机构下端设有真空分配机构，所述真空分配机构下端设有取料吸嘴机构，所述取料吸嘴机构下端设有DDR电机系统，所述DDR电机系统下端设有设备工台板，所述设备工台板下端设有设...

【专利技术属性】
技术研发人员：王体，李辉，李俊强，陈俊安，
申请(专利权)人：深圳市诺泰自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44