一种感测装置及设备制造方法及图纸

技术编号:22008924 阅读:20 留言:0更新日期:2019-08-31 08:31
本实用新型专利技术适用于光学和电子技术领域,提供了一种感测装置,用于感测被测目标物的三维信息,其包括光学投影模组及感测模组。所述光学投影模组包括光源、光学元件及检测单元。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性。所述处理器与感测器相连接并根据所述感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。所述感测模组用于感测所述光学投影模组在被测目标物上投射的预设图案并通过分析所述预设图案的图像获取被测标的物的三维信息。本实用新型专利技术还提供一种使用该感测装置的设备。

A Sensing Device and Equipment

【技术实现步骤摘要】
一种感测装置及设备
本技术属于光学
,尤其涉及一种感测装置及设备。
技术介绍
现有的三维(ThreeDimensional,3D)感测模组通常采用发射能量较集中的激光器作为光源来投射感测光图案,所以一旦设置在光源出光侧用于形成投射光图案的光学元件出现破损的话,高能量的激光会直接照射到使用者的眼睛上造成损害。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于提供一种检测模组、光学装置及设备,可以检测出所述光学装置使用的光学元件是否完好而避免光源直接伤害到使用者眼睛。本技术实施方式提供一种感测装置,用于感测被测目标物的三维信息,其包括光学投影模组及感测模组。所述光学投影模组包括光源、光学元件及检测单元。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束。所述处理器根据所述感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。所述感测模组用于感测所述光学投影模组在被测目标物上投射的预设图案并通过分析所述预设图案的图像获取被测标的物的三维信息。在某些实施方式中,所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性,所述处理器与感测器相连接,将所感测的被测光学元件的光学特性与预存的被测光学元件完好情况下的标准光学特性进行比较,并在所感测的光学特性与标准光学特性的差异值超出误差范围时判断被测光学元件存在瑕疵。在某些实施方式中,若所感测的光学特性与标准光学特性相同或差异值在预设的误差范围内,则所述处理器判断被测光学元件为完好的。在某些实施方式中,所述处理器与光源相连接,所述处理器让光源保持正常工作状态,若所述被测光学元件被判断为存在瑕疵,则所述处理器关闭光源或检索光源的发光能量。在某些实施方式中,所述光源包括多个发光体,所述光源的部分发光体替代检测发光体的功能发出所述检测光束,而无需另设检测发光体。在某些实施方式中,所述光源的多个发光体区分为用于形成光强均匀分布的泛光光束的一个或多个第一发光体以及用于形成能够投射出预设图案的图案光束的一个或多个第二发光体,所述第二发光体形成在所述光源的中部,所述第一发光体围绕在第二发光体对称分布,其中一部分位于最外层的第一发光体用于替代检测发光体来发出检测光束。在某些实施方式中,所述第一发光体及第二发光体形成在同一个半导体基底上,并被分别独立控制发光。在某些实施方式中,所述第一发光体及第二发光体为垂直腔面发射激光器。在某些实施方式中,所述检测单元还包括光学发散元件,所述光学发散元件设置在用于发出检测光束的一部分第二发光体的发光面上以将所述第二发光体的发光角度扩大,使得检测光束能够覆盖到整个被测光学元件。在某些实施方式中,所述检测发光体设置在与被测光学投影模组的光源相同的平面上。在某些实施方式中,所述感测器设置在与被测光学投影模组的光源相同的平面上。在某些实施方式中,所述检测光束的光学特性包括光的强度、波长、亮度、能量分布、所形成的图案中的任意一种或几种的组合。在某些实施方式中,所述检测发光体包括LED。在某些实施方式中,所述光学投影模组的光路沿同一个方向,所述光源和光学元件的光轴相互重合并沿同一个方向延伸。在某些实施方式中,所述光学投影模组的光路经过偏转,所述光源沿第一方向所发出的光束经过偏转后沿第二方向投射出去。在某些实施方式中,所述光学元件包括光路偏转件和衍射光学元件,所述光路偏转件包括沿光路依次设置的入光侧、反射面及出光侧,所述光源设置在入光侧以沿第一方向朝向光路偏转件发光,所述光束经反射面反射后偏转至第二方向并投射至设置在出光侧的衍射光学元件上。本技术还提供一种设备,包括如上述实施方式所提供的感测装置。所述设备根据感测装置所感测到的被测目标物的三维信息来执行相应功能。在某些实施方式中,所述处理器设置在设备上除感测装置以外的其他位置处。本技术实施方式所提供的感测装置及设备通过比对被测光学元件的光学特性以方便地检测出光学装置所使用的光学元件的完整度,从而防止光源从光学元件的瑕疵处透出而对使用者的眼睛造成伤害。本技术实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本技术实施方式的实践了解到。附图说明图1是本技术第一实施方式提供的检测单元及第三实施方式提供的光学投影模组的结构示意图。图2是本技术第二实施方式提供的检测单元的结构示意图。图3是图2中所述光源的结构示意图。图4是本技术第四实施方式提供的光学投影模组的结构示意图。图5是本技术第五实施方式提供的感测装置的结构示意图。图6是本技术第六实施方式提供的设备的结构示意图。图7是本技术提供的一种检测方法的步骤流程图。具体实施方式下面详细描述本技术的实施方式,所述实施方式的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的,仅用于解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中,需要理解的是,术语“第一”、“第二”仅用于描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或排列顺序。由此,限定有“第一”、“第二”的技术特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述技术特征。在本技术的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定或限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体化连接;可以是机械连接,也可以是电连接或相互通信;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件之间的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。下文的公开提供了许多不同的实施方式或示例用来实现本技术的不同结构。为了简化本技术的公开,下文仅对特定例子的部件和设定进行描述。当然,它们仅仅为示例,并且目的不在于限制本技术。此外,本技术可以在不同例子中重复使用参考数字和/或参考字母,这种重复使用是为了简化和清楚地表述本技术,其本身不指示所讨论的各种实施方式和/或设定之间的特定关系。此外,本技术在下文描述中所提供的各种特定的工艺和材料仅为实现本技术技术方案的示例,但是本领域普通技术人员应该意识到本技术的技术方案也可以通过下文未描述的其他工艺和/或其他材料来实现。进一步地,所描述的特征、结构可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下文的描述中,提供许多具体细节以便能够充分理解本技术的实施方式。然而,本领域技术人员应意识到,即使没有所述特定细节中的一个或更多,或者采用其它的结构、组元等,也可以实践本技术的技术方案。在其它情况下,不详细示出或描述公知结构或者操作以避免模糊本技术之重点。如图1所示,本技术第一实施方式提供了一种检测单元1,用于检测一光学投影模组10内设置的光学元件12是否破损。所述光学投影模组10包括光源12及对应的光学元件14。所述光源12发出的光束经过光学元件14的调制后形成本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种感测装置,其特征在于:用于感测被测目标物的三维信息,其包括光学投影模组及感测模组,所述光学投影模组包括光源、光学元件及检测单元,所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器,所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束,所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性,所述处理器与感测器相连接并根据所述感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵,所述感测模组用于感测所述光学投影模组在被测目标物上投射的预设图案并通过分析所述预设图案的图像获取被测标的物的三维信息。

【技术特征摘要】
1.一种感测装置,其特征在于:用于感测被测目标物的三维信息,其包括光学投影模组及感测模组,所述光学投影模组包括光源、光学元件及检测单元,所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器,所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束,所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性,所述处理器与感测器相连接并根据所述感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵,所述感测模组用于感测所述光学投影模组在被测目标物上投射的预设图案并通过分析所述预设图案的图像获取被测标的物的三维信息。2.如权利要求1所述的感测装置,其特征在于,所述处理器将所感测的被测光学元件的光学特性与预存的被测光学元件完好情况下的标准光学特性进行比较,并在所感测的光学特性与标准光学特性的差异值超出误差范围时判断被测光学元件存在瑕疵。3.如权利要求2所述的感测装置,其特征在于,若所感测的光学特性与标准光学特性相同或差异值在预设的误差范围内,则所述处理器判断被测光学元件为完好的。4.如权利要求3所述的感测装置,其特征在于,所述处理器与光源相连接,所述处理器让光源保持正常工作状态,若所述被测光学元件被判断为存在瑕疵,则所述处理器关闭光源或检索光源的发光能量。5.如权利要求1所述的感测装置,其特征在于,所述光源包括多个发光体,所述光源的部分发光体替代检测发光体的功能发出所述检测光束,而无需另设检测发光体。6.如权利要求5所述的感测装置,其特征在于,所述光源的多个发光体区分为用于形成光强均匀分布的泛光光束的一个或多个第一发光体以及用于形成能够投射出预设图案的图案光束的一个或多个第二发光体,所述第二发光体形成在所述光源的中部,所述第一发光体围绕在第二发光体对称分布,其中一部分位于最外层的第一发光体用于替代检测发光体来发出检测光束。7.如权利要求6所述的感测装置,其特征在于,所述第一发光体...

【专利技术属性】
技术研发人员:王小明
申请(专利权)人:深圳阜时科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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