【技术实现步骤摘要】
一种利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法
本专利技术涉及一种利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的技术,属于一维纳米线的可控生长
技术介绍
Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线由于其独特的物理化学特性,已经成为了下一代高性能微电子光电器件研究领域的热点。在众多的光电器件研究领域,载流子迁移率是最重要的本征参数之一。半导体纳米线的迁移率与多种因素有关,例如纳米线的生长方向、结晶质量及表面态等。因为相异的极性、载流子有效质量及载流子平均自由时间等,不同生长方向的纳米线其载流子迁移率不同。控制高迁移率的生长方向是Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线研究的难点。目前,纳米线的生长模式主要有两种,气液固生长模式和气固固生长模式。在气液固生长模式中,生长纳米线的催化剂熔点低于纳米线生长的温度,其一直处于液体状态,无优选的最低能量晶面,随机外延纳米线,从而导致纳米线生长方向不可控。然而在气固固生长模式中,高熔点金属催化剂一直以固态晶体存在,通过调控其最低能量晶面,可方向选择性外延纳米线,控制纳米线的生长方向。可以看出,实现气固固生长模式的关键在于选择合适 ...
【技术保护点】
1.一种利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ‑Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法,包括步骤如下:提供衬底,所述衬底上沉积高熔点金属催化剂薄膜,以及;在保护气存在下,提供Ⅲ‑Ⅴ族半导体源材料,在生长温度条件下,生长纳米线。
【技术特征摘要】
1.一种利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法,包括步骤如下:提供衬底,所述衬底上沉积高熔点金属催化剂薄膜,以及;在保护气存在下,提供Ⅲ-Ⅴ族半导体源材料,在生长温度条件下,生长纳米线。2.根据权利要求1所述的利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法,其特征在于,所述的衬底为Si/SiO2衬底。3.根据权利要求1所述的利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法,其特征在于,所述的高熔点金属催化剂薄膜为Pd、Ni、Cu,优选的金属催化剂薄膜厚度为0.5nm或1nm。4.根据权利要求1所述的利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法,其特征在于,所用Ⅲ-Ⅴ族半导体源材料包括GaSb或InP,优选粉末状态,纯度为99.999%,粒径小于100目。5.根据权利要求1所述的利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法,其特征在于,所述的保护气为H2,纯度为99.999%。6.根据权利要求1所述的利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法,其特征在于,所述纳米线生长机理为气固固生长机理。7.根据权利要求1所述的利用气固固生长模式控制高性能Ⅲ-Ⅴ族半导体纳米线生长方向的方法,其特征在于,Ⅲ-Ⅴ族源材料蒸发温度范围为690-800℃,衬底纳米线生长温...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨再兴,郭亚楠,孙嘉敏,
申请(专利权)人:山东大学,
类型:发明
国别省市:山东,37
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