一种二极管改进型测试片制造技术

本实用新型专利技术公开了一种二极管改进型测试片，包括铜质测试片主体，所述铜质测试片主体的左侧中部为镂空，所述铜质测试片主体的左侧固定连接有测试片接触头，本实用新型专利技术涉及芯片测试片技术领域。该一种二极管改进型测试片，达到了将原有的一体测试片改为头部双片的结构，此时测试片头部的弹力增加，利用靠内侧的半边测试片与测试管脚进行接触测试，同时只使用测试片头部单边测试片，材料成本降低一半有效降低管脚的形变风险的同时，使测试片的寿命增加了一倍，减少生产成本的目的，达到了对二极管进行固定，防止接触不良，提高测试的准确性，当使用侧的测试片达到使用寿命或损坏时，调换另一侧继续使用，提高测试片的使用寿命的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种二极管改进型测试片
本技术涉及芯片测试片
，具体为一种二极管改进型测试片。
技术介绍
半导体分立器件的发展趋势越来越小型化，随着市场竞争的越发激烈，半导体芯片封测厂对于品质控制变得更加严格，半导体分立器件的品质控制一般分为电性能、外形尺寸、印章标识三个方面，而对于半导体器件的外形方面，除大批量的生产时成型设备的影响外，还存在成型后的测试、包装挤压、运输等方面的影响，对SOD123FL封装产品，因其管脚为平脚，批量生产时发现测试片的设计不合理(如尺寸、弹性)会对产品的管脚造成一定的形变，形变的同时由于长期受力较大进一步造成测试片寿命的缩短，因此，需要进一步改进SOD123FL测试片的常规设计方案，在减小测试片造成器件管脚形变的同时，降低测试片的损耗，节约材料成本。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术的不足，本技术提供了一种二极管改进型测试片，解决了现有的测试片会对产品的管脚造成一定的形变，且测试片长期受力进一步造成使用寿命缩短,且测试过程中，容易接触不良的问题。(二)技术方案为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种二极管改进型测试片，包括铜质测试片主体，所述铜本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种二极管改进型测试片，包括铜质测试片主体(1)，其特征在于：所述铜质测试片主体(1)的左侧中部为镂空(3)，所述铜质测试片主体(1)的左侧固定连接有测试片接触头(2)，所述铜质测试片主体(1)的左侧靠近测试片接触头(2)的一侧为折弯加强处(4)，所述铜质测试片主体(1)的右侧依次设置有大定位孔(5)、小定位孔(6)，所述测试片接触头(2)的左侧设置有器件管脚接触点(7)，所述铜质测试片主体(1)的下方设置有测试板(8)，所述测试板(8)的右侧上下方均设置有安装孔(9)，所述测试板(8)的左侧设置有滑动槽(10)，所述测试板(8)的内部设置有移动块(11)，所述移动块(11)的左侧固定连接...

【技术特征摘要】
1.一种二极管改进型测试片，包括铜质测试片主体(1)，其特征在于：所述铜质测试片主体(1)的左侧中部为镂空(3)，所述铜质测试片主体(1)的左侧固定连接有测试片接触头(2)，所述铜质测试片主体(1)的左侧靠近测试片接触头(2)的一侧为折弯加强处(4)，所述铜质测试片主体(1)的右侧依次设置有大定位孔(5)、小定位孔(6)，所述测试片接触头(2)的左侧设置有器件管脚接触点(7)，所述铜质测试片主体(1)的下方设置有测试板(8)，所述测试板(8)的右侧上下方均设置有安装孔(9)，所述测试板(8)的左侧设置有滑动槽(10)，所述测试板(8)的内部设置有移动块(11)，所述移动块(11)的左侧固定连接有压缩弹簧(12)，所述压缩弹簧(12)的左侧固定连接有挡板(13)，所述挡板(13)与测试板(8)固定连接，所述移动块(11)的左侧固定连接有移动杆(14)，所述移动杆(14)与挡板(13)滑动连接，所述移动杆(14)的左侧固定连接有工作台(15)，所述工...

【专利技术属性】
技术研发人员：郏金鹏，王双，
申请(专利权)人：江苏佑风微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32