一种光电耦合器通用型测试座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光电耦合器通用型测试座，包括测试座下基座，所述测试座下基座的左侧固定连接有转动支撑轴，所述转动支撑轴转动连接有测试座上盖板，所述测试座下基座的内部设置有铜质金属一体化测试片，所述测试座下基座的底部设置有铜质金属片，所述铜质金属一体化测试片通过铜导线与铜质金属片相连接，本实用新型专利技术涉及光电耦合器测试座技术领域。该一种光电耦合器通用型测试座，达到了减少了测试座或工装夹具的采购数量与损耗，也节约了不同测试座或工装夹具的更换时间、人力成本、提高了员工的工作效率的目的，达到了利用减震弹簧与运动块的配合，形成自锁，提高测试座的稳定性，提高测试结果的准确性的目的。

A universal test stand for Optocoupler

【技术实现步骤摘要】
一种光电耦合器通用型测试座
本技术涉及光电耦合器测试座
，具体为一种光电耦合器通用型测试座。
技术介绍
目前半导体分立器件的封装外形越来越多样化，光电耦合器作为以光为媒介传输电信号。它对输入、输出电信号有良好的隔离作用，所以，它在各种电路中得到广泛的应用。而根据应用市场的需求，在常见使用较多的光电耦合器DIP4L直插式封装的基础上，衍生出贴片式的SIP4L封装。对于批量生产的半导体封测厂来说，产品的抽测需要专门的测试座或工装夹具来完成，而针对不同外形的封装一般需要定制特殊对应的测试座或工装夹具来使用，除增加了测试座或工装夹具的采购数量与损耗，也增加了不同测试座或工装夹具的更换时间、人力成本，因此，通用型测试座或工装夹具的设计就显得非常有实用性。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术的不足，本技术提供了一种光电耦合器通用型测试座，解决了现有的光电耦合器需要不同测试座，测试座的采购数量大、损耗大，使用不同测试座或工装夹具浪费大量的时间、人力成本、工作效率低的问题。(二)技术方案为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种光电耦合器通用型测试座，包括测试座下基座，所述测试座下基座的左侧固定连接有转动支撑轴，所述转动支撑轴转动连接有测试座上盖板，所述测试座下基座的内部设置有铜质金属一体化测试片，所述测试座下基座的底部设置有铜质金属片，所述铜质金属一体化测试片通过铜导线与铜质金属片相连接，所述铜质金属一体化测试片的上端为矩形铜质金属片，所述矩形铜质金属片的中部镂空并延伸至测试座下基座的底部，所述铜质金属一体化测试片的间隙设置有DIP4L光电耦合器，所述DIP4L光电耦合器的引脚与矩形铜质金属片相接触，所述测试座上盖板的右侧设置有活动卡扣，所述测试座上盖板的内部设置有限位框，所述限位框的内部设置有运动块，所述运动块的右侧固定连接有固定杆，所述固定杆与限位框滑动连接，所述固定杆位于限位框外部的一端与活动卡扣固定连接。优选的，所述铜质金属一体化测试片的数量为四个。优选的，所述测试座下基座的右侧设置有凹槽，所述活动卡扣的底端设置有卡爪，所述卡爪与凹槽卡接。优选的，所述活动卡扣的右侧固定连接有拉块。优选的，所述运动块的右侧固定连接有减震弹簧，所述减震弹簧与限位框固定连接。优选的，所述测试座下基座的右侧设置有45°斜坡。(三)有益效果本技术提供了一种光电耦合器通用型测试座。具备以下有益效果：(1)、该光电耦合器通用型测试座，通过测试座下基座的左侧固定连接有转动支撑轴，转动支撑轴转动连接有测试座上盖板，测试座下基座的内部设置有铜质金属一体化测试片，测试座下基座的底部设置有铜质金属片，铜质金属一体化测试片通过铜导线与铜质金属片相连接，铜质金属一体化测试片的上端为矩形铜质金属片，矩形铜质金属片的中部镂空并延伸至测试座下基座的底部，铜质金属一体化测试片的间隙设置有DIP4L光电耦合器，DIP4L光电耦合器的引脚与矩形铜质金属片相接触，铜质金属一体化测试片的数量为四个，达到了减少了测试座或工装夹具的采购数量与损耗，也节约了不同测试座或工装夹具的更换时间、人力成本、提高了员工的工作效率的目的。(2)、该光电耦合器通用型测试座，通过测试座上盖板的右侧设置有活动卡扣，测试座上盖板的内部设置有限位框，限位框的内部设置有运动块，运动块的右侧固定连接有固定杆，固定杆与限位框滑动连接，固定杆位于限位框外部的一端与活动卡扣固定连接，测试座下基座的右侧设置有凹槽，活动卡扣的底端设置有卡爪，卡爪与凹槽卡接，活动卡扣的右侧固定连接有拉块，运动块的右侧固定连接有减震弹簧，减震弹簧与限位框固定连接，达到了利用减震弹簧与运动块的配合，形成自锁，提高测试座的稳定性，提高测试结果的准确性的目的。附图说明图1为本技术整体外部结构示意图；图2为本技术整体内部结构示意图；图3为本技术活动卡扣自锁结构示意图。图中：1测试座下基座、2转动支撑轴、3测试座上盖板、4DIP4L光电耦合器、5铜质金属一体化测试片、6铜导线、7铜质金属片、8矩形铜质金属片、9活动卡扣、10拉块、11凹槽、12限位框、13运动块、14固定杆、15减震弹簧、16卡爪。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，本技术提供一种技术方案：一种光电耦合器通用型测试座，包括测试座下基座1，测试座下基座1的左侧固定连接有转动支撑轴2，转动支撑轴2转动连接有测试座上盖板3，测试座下基座1的内部设置有铜质金属一体化测试片5，测试座下基座1的底部设置有铜质金属片7，铜质金属一体化测试片5通过铜导线6与铜质金属片7相连接，铜质金属一体化测试片5的上端为矩形铜质金属片8，矩形铜质金属片8的中部镂空并延伸至测试座下基座1的底部，铜质金属一体化测试片5的间隙设置有DIP4L光电耦合器4，DIP4L光电耦合器4的引脚与矩形铜质金属片8相接触，测试座上盖板3的右侧设置有活动卡扣9，测试座上盖板3的内部设置有限位框12，限位框12的内部设置有运动块13，运动块13的右侧固定连接有固定杆14，固定杆14与限位框12滑动连接，固定杆14位于限位框12外部的一端与活动卡扣9固定连接，铜质金属一体化测试片5的数量为四个，达到了减少了测试座或工装夹具的采购数量与损耗，也节约了不同测试座或工装夹具的更换时间、人力成本、提高了员工的工作效率的目的，测试座下基座1的右侧设置有凹槽11，活动卡扣9的底端设置有卡爪16，卡爪16与凹槽11卡接，活动卡扣9的右侧固定连接有拉块10，运动块13的右侧固定连接有减震弹簧15，减震弹簧15与限位框12固定连接，测试座下基座1的右侧设置有45°斜坡，达到了利用减震弹簧与运动块的配合，形成自锁，提高测试座的稳定性，提高测试结果的准确性的目的。使用时，将DIP4L光电耦合器4插入铜质金属一体化测试片5中，引脚与矩形铜质金属片8进行接触，进行检测，测试座下基座1内设置有四个铜质金属一体化测试片5，达到了减少了测试座或工装夹具的采购数量与损耗，也节约了不同测试座或工装夹具的更换时间、人力成本、提高了员工的工作效率的目的，转动测试座上盖板3，活动卡扣9运动，卡爪16与凹槽11卡接，进行固定，减震弹簧15处于压缩状态，带动运动块13运动，起到自锁的作用，达到了利用减震弹簧与运动块的配合，形成自锁，提高测试座的稳定性，提高测试结果的准确性的目的。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下。由语句“包括一个......限定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电耦合器通用型测试座，包括测试座下基座(1)，其特征在于：所述测试座下基座(1)的左侧固定连接有转动支撑轴(2)，所述转动支撑轴(2)转动连接有测试座上盖板(3)，所述测试座下基座(1)的内部设置有铜质金属一体化测试片(5)，所述测试座下基座(1)的底部设置有铜质金属片(7)，所述铜质金属一体化测试片(5)通过铜导线(6)与铜质金属片(7)相连接，所述铜质金属一体化测试片(5)的上端为矩形铜质金属片(8)，所述矩形铜质金属片(8)的中部镂空并延伸至测试座下基座(1)的底部，所述铜质金属一体化测试片(5)的间隙设置有DIP4L光电耦合器(4)，所述DIP4L光电耦合器(4)的引脚与矩形铜质金属片(8)相接触，所述测试座上盖板(3)的右侧设置有活动卡扣(9)，所述测试座上盖板(3)的内部设置有限位框(12)，所述限位框(12)的内部设置有运动块(13)，所述运动块(13)的右侧固定连接有固定杆(14)，所述固定杆(14)与限位框(12)滑动连接，所述固定杆(14)位于限位框(12)外部的一端与活动卡扣(9)固定连接。

【技术特征摘要】
1.一种光电耦合器通用型测试座，包括测试座下基座(1)，其特征在于：所述测试座下基座(1)的左侧固定连接有转动支撑轴(2)，所述转动支撑轴(2)转动连接有测试座上盖板(3)，所述测试座下基座(1)的内部设置有铜质金属一体化测试片(5)，所述测试座下基座(1)的底部设置有铜质金属片(7)，所述铜质金属一体化测试片(5)通过铜导线(6)与铜质金属片(7)相连接，所述铜质金属一体化测试片(5)的上端为矩形铜质金属片(8)，所述矩形铜质金属片(8)的中部镂空并延伸至测试座下基座(1)的底部，所述铜质金属一体化测试片(5)的间隙设置有DIP4L光电耦合器(4)，所述DIP4L光电耦合器(4)的引脚与矩形铜质金属片(8)相接触，所述测试座上盖板(3)的右侧设置有活动卡扣(9)，所述测试座上盖板(3)的内部设置有限位框(12)，所述限位框(12)的内部设置有运动块(13)，所述运动块(13)的右侧固定连接有固定杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：郏金鹏，王双，
申请(专利权)人：江苏佑风微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32