一种光电耦合器故障测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及测试领域，特别是一种光电耦合器故障判断测试装置。其由供电电池U1、带锁活动插座，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp串联组成；输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5；转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成，本实用新型专利技术独立供电，可以单独使用，便于携带，实用方便、电路结构简单，测试精确且兼容性高。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
一种光电耦合器故障测试装置
本技术涉及测试领域，特别是一种光电耦合器故障判断测试装置。
技术介绍
光电耦合器作为电路隔离器件，起到信号隔离、耦合传输作用已经在家用电器、变频器等工业生产各领域得到了广泛的应用。若上述应用了光电耦合器的电子设备发生故障时，测试人员在故障诊断过程中，常常需要判断光电耦合器的好坏，常见的方法是利用两块万用表测试，一块万用表用R*1测量光电耦合器输入端，另一个万用表用R*100测量光电耦合器输出端，当输入端导通时，输出端万用表的指针有摆动，则判断光电耦合器正常，这种测试方式不准确，容易误判，影响测试效率。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种高效、成本低且精确判定的光电耦合器测试装置。本技术采用如下技术方案:由供电电池U1、带锁活动插座1C，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；所述的分压限流电路由电阻Rl与可调电阻Rp串联组成；所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LEDl、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5 ;所述的转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。进一步的，所述的供电电池Ul采用9V可充电电池。进一步的,所述的带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。本技术的积极技术效果:本技术采用供电电池独立供电，可以单独使用，便于携带，使用方便。将待测光电耦合器插入带锁活动插座，调整可调电阻阻值，根据对应发光二极管亮度变化来判断光电耦合器是否损坏，测量准确。利用转换开关电路，一通道、二通道、三通道及四通道光电耦合器均可在本技术上进行故障测试，兼容性高。【附图说明】附图1为本技术电路原理图。【具体实施方式】如附图1所示，本技术由供电电池U1、带锁活动插座1C，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；分压限流电路由电阻Rl与可调电阻Rp串联组成组成。输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LEDl、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5 ;转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。供电电池Ul采用9V可充电电池，不仅实现电源独立，可单独使用，便于携带，而且电池可循环使用，绿色环保。带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。测试时，调整可调电阻Rp的阻值可改变A点电压，供被测光耦芯片内发光二极管的亮度调整，对应光电耦合器内部光敏晶体管的阻值发生变化，从而导致发光二极管LEDfLED4亮度发生变化。将可调电阻Rp逐步减小，对应输出的发光二极管逐步变亮，以判断其光电耦合器是否损坏。实际测试中，根据光电耦合器型号选择转换开关电路的相应开关闭合或关断，进行性能测试。在十六脚带锁活动插座内放入TLP621或TLP6214等系列单路或四路光电耦合器，并锁紧，开关KO闭合，开关Kl和开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d不动作，逐步调整可调电阻Rp由大到小，此时A点电压逐渐增大。对应发光二极管LEDl或LED11ED4将由灭逐步到全亮。反之逐步调整可调电阻Rp由小到大，对应发光二极管LEDl或发光二极管LEDf LED4由全亮到灭，判定被测光电耦合器无故障，正常工作。对四通道光电耦合器测试时，若发光二极管LEDl或发光二极管LEDfLED4不亮、部分发光二极管不亮，则被测光电耦合器损坏或部分损坏。对于如4N35等系列高速光电耦合器进行测试时，可采用以下两种方式测试。测试方式(一):开关K O闭合,开关Kl断开,开K2a和开关K2c闭合,开关K2b和开关K2d断开。然后调整可调电阻Rp由大逐步减小，此时A点逐渐增大，发光二极管LEDl由灭到最亮，反之由最亮到灭，普通功能测试结束。若不亮或亮度不可调，该光电耦合器芯片损坏。测试方式(二):对于高速光电耦合器测试，开关K O闭合，开关Kl闭合，开关K2a和开关K2c闭合，开关K2b和开关K2d断开，调整可调电阻Rp由大到小或反之，发光二极管LEDl恒亮，高速功能测试好结束。若不亮，该光电耦合器芯片损坏。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电耦合器故障测试装置，其特征在于：由供电电池U1、带锁活动插座IC，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；所述的分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp串联组成；所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3?、电阻R4、电阻R5；所述的转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。

【技术特征摘要】
1.一种光电耦合器故障测试装置，其特征在于:由供电电池U1、带锁活动插座1C，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；所述的分压限流电路由电阻Rl与可调电阻Rp串联组成；所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨皓翔，
申请(专利权)人：杨皓翔，
类型：实用新型
国别省市：