【技术实现步骤摘要】
一种二极管探针测试夹
本技术涉及二极管测试设备
，具体为一种二极管探针测试夹。
技术介绍
目前半导体分立器件的发展趋势越来越微型化，伴随着市场竞争的越发激烈，半导体芯片封测厂对于品质控制变得更加严格，半导体分立器件除在制程中的最后一道TMTT测试工序对有缺陷半导体器件进行挑选外，为了排除掉TMTT测试工序到出厂时这段流程中可能存在的对器件的损伤及缺陷品逃逸风险，在OQC出厂检时增加了电性能抽测的动作作为应对，进一步提高半导体成品器件的出厂质量，消除半导体器件的早期失效率。现有的针对已编带的成品抽检，因产品密封在缝合的编带内，因此品质人员需要将已编的编带拆掉进行产品测试，对编带材料产生了大量的浪费的同时，亦造成了人工工时的浪费，以及重新上机返编的机台损耗。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术的不足，本技术提供了一种二极管探针测试夹，解决了现有的针对已编带的成品抽检，因产品密封在缝合的编带内，因此品质人员需要将已编的编带拆掉进行产品测试，对编带材料产生了大量的浪费的同时，亦造成了人工工时的浪费，以及重新上机返编的机台损耗的问题。(二)技术方案实现以上目的，本...
【技术保护点】
1.一种二极管探针测试夹，包括第一塑料外壳(1)和第二塑料外壳(10)，其特征在于：所述的第一塑料外壳(1)顶部表面且接近其背面的位置固定连接有第一转动连接片(12)，所述的第一塑料外壳(1)顶部表面且接近其正面的位置固定连接有第二转动连接片(13)，所述的第一转动连接片(12)和第二转动连接片(13)重叠部位表面的中间位置均贯穿开设有转动孔(14)，所述的第一塑料外壳(1)和第二塑料外壳(10)顶部表面设置有固定夹套(11)，所述的固定夹套(11)正面与背面的中间位置均贯穿开设有旋转固定孔(2)，所述的旋转固定孔(2)表面螺纹连接有固定螺母(3)，所述的固定螺母(3)远离...
【技术特征摘要】
1.一种二极管探针测试夹，包括第一塑料外壳(1)和第二塑料外壳(10)，其特征在于：所述的第一塑料外壳(1)顶部表面且接近其背面的位置固定连接有第一转动连接片(12)，所述的第一塑料外壳(1)顶部表面且接近其正面的位置固定连接有第二转动连接片(13)，所述的第一转动连接片(12)和第二转动连接片(13)重叠部位表面的中间位置均贯穿开设有转动孔(14)，所述的第一塑料外壳(1)和第二塑料外壳(10)顶部表面设置有固定夹套(11)，所述的固定夹套(11)正面与背面的中间位置均贯穿开设有旋转固定孔(2)，所述的旋转固定孔(2)表面螺纹连接有固定螺母(3)，所述的固定螺母(3)远离固定夹套(11)正面的一端通过旋转固定孔(2)贯穿固定夹套(11)背面且延伸至其外部，所述的第一塑料外壳(1)和第二塑料外壳(10)的内腔的中间位置从左至右依次纵向贯穿开设有第二导线通孔(5)和第一导线通孔(4)，所述的第二导线通孔(5)和第一导线通孔(4)内分别卡设有第二导线(7)和第一导线(6)，所述的第一导线(6)和第二导线(7)的底端均贯穿第一塑料外壳(1)和第二塑料外壳(10)的底部且延伸至其外部，且所述的第一导线(6)和第二导线(7)底端连接有探针(9)，所述的第一导线(6)和第二导线(...
【专利技术属性】
技术研发人员：郏金鹏，王双，
申请(专利权)人：江苏佑风微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32
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