Groove isolation for advanced integrated circuit fabrication. The embodiments of the present disclosure are in the field of advanced integrated circuit structure manufacturing, especially in the field of 10 Nano-node and smaller integrated circuit structure manufacturing and resulting structures. In an example, an integrated circuit structure includes a silicon fin having a lower fin portion and an upper fin portion. The first insulating layer is directly on the side wall of the lower fin portion of the fin, and the first insulating layer is a non-doped insulating layer comprising silicon and oxygen. The second insulating layer is directly on the first insulating layer, the first insulating layer is directly on the side wall of the lower fin part of the fin, and the second insulating layer includes silicon and nitrogen. The dielectric filling material is directly laterally adjacent to the second insulating layer directly on the first insulating layer, and the first insulating layer is directly on the side wall of the lower fin part of the fin.
【技术实现步骤摘要】
用于先进集成电路结构制造的沟槽隔离相关申请的交叉引用本申请主张提交于2017年11月30日的题为“ADVANCEDINTEGRATEDCIRCUITSTRUCTUREFABRICATION(先进集成电路结构制造)”的美国临时申请号62/593,149的权益,藉此将其整个内容通过引用并入到本文中。
本公开的实施例属于先进的集成电路结构制造的领域,并且尤其是10纳米节点以及更小的集成电路结构制造和所得到的结构的领域。
技术介绍
在过去的几十年中,集成电路中的特征的缩放一直是不断发展的半导体行业的驱动力。缩放至越来越小的特征使得能够在半导体芯片的有限基板面上实现增大的功能单元密度。例如,收缩的晶体管大小允许在芯片上并入增大数量的存储器或逻辑器件,从而导致制造具有增大容量的产品。然而,对于不断变大的容量的驱使并不是没有问题的。优化每个器件的性能的必要性变得愈加显著。在常规且当前已知的制造过程中的可变性可能会限制将它们进一步延伸到10纳米节点或亚10纳米节点的范围中的可能性。因此,对于未来技术节点而言所需的功能组件的制造可能要求在当前的制造过程中引入新方法或集成新技术,或者用它们来替代当前的制造过程。附图说明图1A例示了在层间电介质(ILD)层上形成的硬掩模材料层的在沉积之后、但是在图案化之前的开始结构的横截面视图。图1B例示了通过节距二等分来图案化该硬掩模层之后的图1A的结构的横截面视图。图2A是根据本公开的实施例的用于制造半导体鳍片的节距四等分法的示意图。图2B例示了根据本公开的实施例的使用节距四等分法制造的半导体鳍片的横截面视图。图3A是根据本公开的实施例的用 ...
【技术保护点】
1.一种集成电路结构,包括:包括硅的鳍片,所述鳍片具有下鳍片部分和上鳍片部分;第一绝缘层,直接在鳍片的下鳍片部分的侧壁上,其中第一绝缘层是包括硅和氧的非掺杂绝缘层;第二绝缘层,直接在第一绝缘层上,第一绝缘层直接在鳍片的下鳍片部分的侧壁上,第二绝缘层包括硅和氮;以及电介质填充材料,与直接在第一绝缘层上的第二绝缘层直接侧向相邻,第一绝缘层直接在鳍片的下鳍片部分的侧壁上。
【技术特征摘要】
2017.11.30 US 62/593149;2017.12.29 US 15/8592861.一种集成电路结构,包括:包括硅的鳍片,所述鳍片具有下鳍片部分和上鳍片部分;第一绝缘层,直接在鳍片的下鳍片部分的侧壁上,其中第一绝缘层是包括硅和氧的非掺杂绝缘层;第二绝缘层,直接在第一绝缘层上,第一绝缘层直接在鳍片的下鳍片部分的侧壁上,第二绝缘层包括硅和氮;以及电介质填充材料,与直接在第一绝缘层上的第二绝缘层直接侧向相邻,第一绝缘层直接在鳍片的下鳍片部分的侧壁上。2.根据权利要求1所述的集成电路结构,其中第一绝缘层包括硅和氧,并且不具有具有大于1E15原子每立方厘米的原子浓度的其他原子种类。3.根据权利要求1所述的集成电路结构,其中第一绝缘层具有在0.5-2纳米的范围中的厚度。4.根据权利要求1所述的集成电路结构,其中第二绝缘层具有在2-5纳米的范围中的厚度。5.根据权利要求1所述的集成电路结构,其中电介质填充材料包括硅和氧。6.根据权利要求1所述的集成电路结构,还包括:在鳍片的上鳍片部分的顶部之上并且与鳍片的上鳍片部分的侧壁侧向相邻的栅电极。7.一种集成电路结构,包括:包括硅的第一鳍片,所述第一鳍片具有下鳍片部分和上鳍片部分以及在下鳍片部分和上鳍片部分之间的区域处的肩状特征;包括硅的第二鳍片,第二鳍片具有下鳍片部分和上鳍片部分以及在下鳍片部分和上鳍片部分之间的区域处的肩状特征;第一绝缘层,包括硅和氧并且不具有具有大于1E15原子每立方厘米的原子浓度的其他原子种类,第一绝缘层直接在第一鳍片的下鳍片部分的侧壁上并且直接在第二鳍片的下鳍片部分的侧壁上,第一绝缘层具有与第一鳍片的肩状特征基本上共面的第一端部,并且第一绝缘层具有与第二鳍片的肩状特征基本上共面的第二端部;第二绝缘层,包括硅和氮,第二绝缘层直接在第一绝缘层上,第一绝缘层直接在第一鳍片的下鳍片部分的侧壁上并且直接在第二鳍片的下鳍片部分的侧壁上;以及电介质填充材料,其与直接在第一绝缘层上的第二绝缘层直接侧向相邻,第一绝缘层直接在第一鳍...
【专利技术属性】
技术研发人员:ML哈滕多夫,C沃德,HM迈尔,T加尼,CP奥思,
申请(专利权)人:英特尔公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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