一种高精度的探针对位测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种高精度的探针对位测试装置，包括探针垫块、探针上盖和固定底座，所述的固定底座上设有固定槽一和固定槽二，其中固定槽一上固定探针垫块，固定槽二上固定探针上盖，所述的固定底座两侧设有安装孔，通过安装孔进行固定。本实用新型专利技术结构简单、设计合理，通过探针垫块、探针上盖和固定底座的设计与配合，可以防止产品FPC偏位后造成大电流击伤产品造成功能性不良，同时也防止FPC卡口损伤，该测试装置对位精准、方便简单，提高了作业良率、工作效率。

A High Precision Probe Alignment Testing Device

The utility model relates to a high precision probe alignment testing device, which comprises a probe pad, a probe upper cover and a fixed base. The fixed base is provided with a fixed groove and two fixed grooves, in which a fixed groove is provided with a fixed probe pad and a fixed groove is provided with a fixed probe upper cover. The fixed base is fixed through a fixed hole on both sides. The utility model has the advantages of simple structure and reasonable design. Through the design and cooperation of the probe pad, the probe cover and the fixed base, the product can be prevented from being damaged by high current after offset of the FPC, and the damage of the FPC clamp can also be prevented. The test device has the advantages of accurate alignment, convenience and simplicity, and improves the working yield and efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种高精度的探针对位测试装置
本技术涉及一种高精度的探针对位测试装置，属于探针对位测试

技术介绍
因LCM行业的质量，客户要求越来越严格。一方面是防止FPC（排线）偏位后造成大电流击伤产品造成功能性不良，以及测试时对位不佳损伤FPC（排线），另一方面上测试效率低。传统的测试方式造成产品损伤导致客人投诉及产品批退，现提供一种解决方案。
技术实现思路
本技术的目的在于：针对现有技术的缺陷，提出了一种高精度的探针对位测试装置，防止产品FPC（排线）偏位后造成大电流击伤产品造成功能性不良，同时也防止产品FPC（排线）卡口损伤、变形后遭到客人投诉及产品退货。本技术所采用的技术方案是：一种高精度的探针对位测试装置，包括探针垫块、探针上盖和固定底座，所述的固定底座上设有固定槽一和固定槽二，其中固定槽一上固定探针垫块，固定槽二上固定探针上盖，所述的固定底座两侧设有安装孔，通过安装孔进行固定。在本技术中：所述探针垫块的两端分别设有固定孔一，其中间设有凹槽，凹槽上分布有探针孔；所述的探针上盖的两端分别设有固定孔二，其中间设有探针孔；所述定槽一的两端设有固定孔三，所述定槽二的两端设有固定孔四；其中，所述的固定孔一与固定孔三相配合，所述的固定孔二与固定孔四相配合。在本技术中：所述固定槽一的中间位置设有通孔，所述的通孔与凹槽相配合。采用上述技术方案后，本技术的有益效果为：本技术结构简单、设计合理，通过探针垫块、探针上盖和固定底座的设计与配合，可以防止产品FPC偏位后造成大电流击伤产品造成功能性不良，同时也防止FPC卡口损伤，该测试装置对位精准、方便简单，提高了作业良率、工作效率。附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为本技术中探针垫块的结构示意图；图3为本技术中探针上盖的结构示意图；图4为本技术中固定底座的结构示意图。图中：1.探针垫块；2.探针上盖；3.固定底座；4.固定孔一；5.凹槽；6.探针孔；7.固定孔二；8.固定槽一；9.固定槽二；10.通孔；11.固定孔三；12.固定孔四；13.安装孔。具体实施方式下面将结合附图对本技术作进一步的说明。由图1-4可见，一种高精度的探针对位测试装置，包括探针垫块1、探针上盖2和固定底座3，所述的固定底座3上设有固定槽一8和固定槽二9，其中固定槽一8上固定探针垫块1，固定槽二9上固定探针上盖2，所述的固定底座3两侧设有安装孔13，通过安装孔13进行固定。所述探针垫块1的两端分别设有固定孔一4，其中间设有凹槽5，凹槽5上分布有探针孔6；所述的探针上盖2的两端分别设有固定孔二（7），其中间设有探针孔6；所述定槽一8的两端设有固定孔三11，所述定槽二9的两端设有固定孔四12；其中，所述的固定孔一4与固定孔三11相配合，所述的固定孔二7与固定孔四12相配合所述固定槽一8的中间位置设有通孔10，所述的通孔10与凹槽5相配合。所述的探针垫块1、探针上盖2和固定底座3由PEEK材料构成。具体实施时，将探针装入探针垫块1后同时与探针上盖2固定，固定后的机构上、下均会漏探针点，届时将转接排线（FPC）的一端装入上述机构的底部与探针点接触后用固定底座3固定。转接排线（FPC）的另一端通过通孔10与测机连接。将手动测试压头卡榫机构往下扳，使测试压头下降让FPC（排线）与探针接触，届时手动开取测机电源，此时测机输出测试画面讯号，开始显示各画面，通过这种连接关系和位置对应后，可防止产品FPC（排线）偏位后造成大电流击伤产品造成功能性不良，同时也防止产品FPC（排线）卡口损伤、变形后遭到客人投诉及产品退货。以上对本技术的具体实施方式进行了描述，但本技术并不限于以上描述。对于本领域的技术人员而言，任何对本技术方案的同等修改和替代都是在本技术的范围之中。因此，在不脱离本技术的精神和范围下所作的均等变换和修改，都应涵盖在本技术的范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度的探针对位测试装置，其特征在于：包括探针垫块（1）、探针上盖（2）和固定底座（3），所述的固定底座（3）上设有固定槽一（8）和固定槽二（9），其中固定槽一（8）上固定探针垫块（1），固定槽二（9）上固定探针上盖（2），所述的固定底座（3）两侧设有安装孔（13），通过安装孔（13）进行固定。

【技术特征摘要】
1.一种高精度的探针对位测试装置，其特征在于：包括探针垫块（1）、探针上盖（2）和固定底座（3），所述的固定底座（3）上设有固定槽一（8）和固定槽二（9），其中固定槽一（8）上固定探针垫块（1），固定槽二（9）上固定探针上盖（2），所述的固定底座（3）两侧设有安装孔（13），通过安装孔（13）进行固定。2.根据权利要求1所述的一种高精度的探针对位测试装置，其特征在于：所述探针垫块（1）的两端分别设有固定孔一（4），其中间设有凹槽（5），...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄克军，
申请(专利权)人：江苏久正光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32