一种芯片焊接故障快速精确定位的方法技术

本发明专利技术涉及一种芯片焊接故障快速精确定位的方法，基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试技术原理，采用走步算法基本思路、提供了一种通用的测试编程思路，达到在不同电路板上快速移植测试的目的。可在不同边扫器件之间，边扫器件与存储器之间快速移植测试。本方法主要应用在集成电路测试领域，主要用于解决高密度电路板上芯片焊点出现故障时，由于电路原理的复杂性和芯片可测试性造成的故障难于准确定位的难题。

A Fast and Accurate Location Method for Chip Welding Faults

The invention relates to a method for fast and accurate positioning of chip welding faults. Based on the principle of boundary scan test technology of IEEE1149.1 standard, the basic idea of walking algorithm is adopted, and a general test programming idea is provided to achieve the goal of rapid transplantation test on different circuit boards. It can be quickly transplanted between different side-scan devices and between side-scan devices and memory. This method is mainly used in the field of integrated circuit testing. It is mainly used to solve the problem that the faults caused by the complexity of circuit principle and the testability of chip are difficult to locate accurately when the solder joints of chip on high density circuit board fail.

【技术实现步骤摘要】
一种芯片焊接故障快速精确定位的方法
本专利技术属于集成电路测试，涉及一种芯片焊接故障快速精确定位的方法。
技术介绍
随着电子技术的飞速发展以及PCB生产工艺水平的不断提高，数字电路集成度越来越高、尺寸越来越小，尤其是表面帖装技术SMT(SurfaceMountedTechnology)的出现，使传统的测试技术即对系统内部节点访问的测试方法已经无法实施，带来了前所未有的测试难题。传统的针床测试，通过探头与测试点接触获取测试点信息，不仅费用高、耗时长，而且已经很难满足当前的测试需求。为解决该问题，JTAG组织和IEEE组织共同推出了一种标准的边界扫描结构及其测试接口，即IEEE1149.1边界扫描标准。其主要思想是：通过在芯片管脚和芯片内部逻辑电路之间增加边界扫描单元(BSC)，实现对芯片管脚状态的串行设定和读取，从而提供芯片级、板级、系统级的标准测试框架。利用边界扫描仿真器可快速完成故障测试定位。
技术实现思路
要解决的技术问题为了避免现有技术的不足之处，本专利技术提出一种芯片焊接故障快速精确定位的方法，解决的实际技术问题是在PCBA出现故障时可快速定位故障。技术方案一种芯片焊接故障快速精确定位的方法，其特征在于步骤如下：步骤1：利用JTAG转接板，将被测电路板上的JTAG器件接入电路板配置链路；步骤2：查询测试链路上边界扫描器件的BSDL文件，确定边扫器件互联管脚的输入输出关系，边界扫描仿真器能控制的管脚类型包括input、output和bidir三种；步骤3：利用走步算法产生测试激励，走步1算法的初始串行测试向量为“1,0,0,…,N”然后让“1”顺序移位，构成N个串行测试向量的组合，与走步1算法对应的是走步0算法，走步0算法的初始测试向量为“0,1,1,…,N”，然后让“0”顺序移位；在测试代码中利用移位指令来生成所需的测试向量；步骤4：利用移位指令，修改循环次数N产生N组的测试向量；所述N等于需要测试的管脚数量；步骤5：利用边界扫描仿真器发送一组测试激励到其中一个边扫器件的输出管脚上；通过仿真器从另一个器件的管脚采集响应，通过对比输入激励与采集响应是否一致，当响应不一致时判断为故障管脚。在不同互联边扫器件管脚之间发送激励与采集响应，只需修改发送与采集管脚定义即可快速移植。利用边界扫描仿真器对存储器进行读写测试，通过对比写入数据与读取数据是否一致可判断故障管脚。对于同一种存储器，在其它电路板上使用时，只需修改对应边扫器件的控制管脚即可。有益效果本专利技术提出的一种芯片焊接故障快速精确定位的方法，基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试技术原理，采用走步算法基本思路、提供了一种通用的测试编程思路，达到在不同电路板上快速移植测试的目的。可在不同边扫器件之间，边扫器件与存储器之间快速移植测试。本方法主要应用在集成电路测试领域，主要用于解决高密度电路板上芯片焊点出现故障时，由于电路原理的复杂性和芯片可测试性造成的故障难于准确定位的难题。本专利技术的优点在于：1、对于电路板上不同边扫器件，只需修改测试接口即可将测试模块移植，进行快速测试。2、对于存储器的测试，只需将存储器的类型建立不同的测试代码库。在后续测试中直接修改接口即可快速测试。附图说明图1：边扫互联测试与存储器测试图；图2：一种适用于JTAG的边界扫描测试通用转接板。具体实施方式现结合实施例、附图对本专利技术作进一步描述：1、利用JTAG转接板，将被测电路板上的JTAG器件接入电路板配置链路；2、查询测试链路上边界扫描器件的BSDL文件，确定边扫器件互联管脚的输入输出关系，边界扫描仿真器能控制的管脚类型包括input、output和bidir三种；3、利用走步算法产生测试激励，走步1算法的初始串行测试向量为“1,0,0,…,N”然后让“1”顺序移位，构成N个串行测试向量的组合，与走步1算法对应的是走步0算法，走步0算法的初始测试向量为“0,1,1,…,N”，然后让“0”顺序移位。基于以上原理，在测试代码中利用移位指令来生成所需的测试向量；4、利用移位指令，通过修改循环次数(N)可产生(N)组的测试向量，N也代表需要测试的管脚数量；5、利用边界扫描仿真器发送一组测试激励到其中一个边扫器件的输出管脚上。通过仿真器从另一个器件的管脚采集响应。通过对比输入激励与采集响应是否一致来判断故障管脚；6、上述方法可在不同互联边扫器件管脚之间发送激励与采集响应，只需修改发送与采集管脚定义即可快速移植；7、根据3产生测试激励的方法，利用边界扫描仿真器对存储器进行读写测试，通过对比写入数据与读取数据是否一致可判断故障管脚；8、对于同一种存储器，在其它电路板上使用时，只需修改对应边扫器件的控制管脚即可。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片焊接故障快速精确定位的方法，其特征在于步骤如下：步骤1：利用JTAG转接板，将被测电路板上的JTAG器件接入电路板配置链路；步骤2：查询测试链路上边界扫描器件的BSDL文件，确定边扫器件互联管脚的输入输出关系，边界扫描仿真器能控制的管脚类型包括input、output和bidir三种；步骤3：利用走步算法产生测试激励，走步1算法的初始串行测试向量为“1,0,0,…,N”然后让“1”顺序移位，构成N个串行测试向量的组合，与走步1算法对应的是走步0算法，走步0算法的初始测试向量为“0,1,1,…,N”，然后让“0”顺序移位；在测试代码中利用移位指令来生成所需的测试向量；步骤4：利用移位指令，修改循环次数N产生N组的测试向量；所述N等于需要测试的管脚数量；步骤5：利用边界扫描仿真器发送一组测试激励到其中一个边扫器件的输出管脚上；通过仿真器从另一个器件的管脚采集响应，通过对比输入激励与采集响应是否一致，当响应不一致时判断为故障管脚。

【技术特征摘要】
1.一种芯片焊接故障快速精确定位的方法，其特征在于步骤如下：步骤1：利用JTAG转接板，将被测电路板上的JTAG器件接入电路板配置链路；步骤2：查询测试链路上边界扫描器件的BSDL文件，确定边扫器件互联管脚的输入输出关系，边界扫描仿真器能控制的管脚类型包括input、output和bidir三种；步骤3：利用走步算法产生测试激励，走步1算法的初始串行测试向量为“1,0,0,…,N”然后让“1”顺序移位，构成N个串行测试向...

【专利技术属性】
技术研发人员：喻波，陈建，韦双，蔺江鹏，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，
类型：发明
国别省市：陕西,61