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本发明涉及一种芯片焊接故障快速精确定位的方法，基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试技术原理，采用走步算法基本思路、提供了一种通用的测试编程思路，达到在不同电路板上快速移植测试的目的。可在不同边扫器件之间，边扫器件与存储器之间快速移植测...
该专利属于中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所授权不得商用。

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