一种引线框架检测方法、系统、存储介质和终端技术方案

本发明专利技术公开了一种引线框架检测方法、系统、存储介质和终端，方法包括以下步骤：上传引线框架设计图；获取与所述引线框架设计图对应视角的待检测引线框架实物图；将引线框架设计图和待检测引线框架实物图进行位置匹配；将待检测引线框架实物图按照引线框架设计图实际的划分方式进行对应位置划分；将划分后的待检测引线框架实物图的每个区域进行颜色判断，判断整个区域的颜色是否连续，如果所有区域的颜色均连续则认为引线框架结构合格，否则为不合格。本发明专利技术通过区域划分、区域匹配和颜色连续性判断实现引线框架检测，解决现有技术采用人工查看的方式不准确的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种引线框架检测方法、系统、存储介质和终端
本专利技术涉及一种引线框架检测方法、系统、存储介质和终端。
技术介绍
引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。引线框架有TO、DIP、ZIP、SIP、SOP、SSOP、TSSOP、QFP(QFJ)、SOD、SOT等。主要用模具冲压法和化学刻蚀法进行生产。引线框架使用的原材料有：KFC、C194、C7025、FeNi42、TAMAC-15、PMC-90等。材料的选择主要根据产品需要的性能：(强度、导电性能以及导热性能)来选择。引线框架一般由多个相同的铜基单元排列而成，而每个铜基单元包括依次连接成一体的散热片、载片、内引线和外引线，载片用于承载电子元器件的芯片，芯片通过塑封体包封后封装在载片上。然而现有技术的引线框架的检测通常采用人工的方式，使得检测的准确度不高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种引线框架检测方法、系统、存储介质和终端。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：一种引线框架检测方法，包括以下步骤：上传引线框架设计图，在所述引线框架设计图上，将散热片区域、载片区域、引线区域、定位孔区域、焊脚区域、槽体区域和非引线框架区域进行划分；获取与所述引线框架设计图对应视角的待检测引线框架实物图；将引线框架设计图和待检测引线框架实物图进行位置匹配；将待检测引线框架实物图按照引线框架设计图实际的划分方式进行对应位置划分；将划分后的待检测引线框架实物图的每个区域进行颜色判断，判断整个区域的颜色是否连续，如果所有区域的颜色均连续则认为引线框架结构合格，否则为不合格。进一步地，所述的引线框架设计图包括至少其中一个视角的设计图，所述视角包括正视图、侧视图、后视图。进一步地，所述槽体区域包括位于散热片区域和载片区间的连接处的燕尾槽区域、位于载片区域的U形槽区域、位于引线区域的V形槽区域。进一步地，所述引线框架设计图上还包括两个用于位置匹配的定位点。本专利技术还提供一种引线框架检测系统，包括：引线框架设计图上传模块：用于上传引线框架设计图，在所述引线框架设计图上，划分有散热片区域、载片区域、引线区域、定位孔区域、焊脚区域、槽体区域和非引线框架区域；待检测引线框架实物图获取模块：用于获取与所述引线框架设计图对应视角的待检测引线框架实物图；位置匹配模块：用于将引线框架设计图和待检测引线框架实物图进行位置匹配；待检测引线框架实物图划分模块：用于将待检测引线框架实物图按照引线框架设计图实际的划分方式进行对应位置划分；颜色判断模块：用于将划分后的待检测引线框架实物图的每个区域进行颜色判断，判断整个区域的颜色是否连续，如果所有区域的颜色均连续则认为引线框架结构合格，否则为不合格。进一步地，所述的引线框架设计图包括至少其中一个视角的设计图，所述视角包括正视图、侧视图、后视图。进一步地，所述槽体区域包括位于散热片区域和载片区间的连接处的燕尾槽区域、位于载片区域的U形槽区域、位于引线区域的V形槽区域。进一步地，所述引线框架设计图上还包括两个用于位置匹配的定位点。本专利技术还提供一种存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行所述的一种引线框架检测方法的步骤。本专利技术还提供一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行所述的一种引线框架检测方法的步骤。本专利技术的有益效果是：本专利技术通过区域划分、区域匹配和颜色连续性判断实现引线框架检测，解决现有技术采用人工查看的方式不准确的问题。附图说明图1为本专利技术方法流程图；图2为本专利技术系统框图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要说明的是，属于“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系为基于附图所述的方向或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，属于“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，属于“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。实施例1本实施例提供一种引线框架检测方法，该方法通过计算机软件的方式实现引线框架检测。如图1所示，一种引线框架检测方法，包括以下步骤：S1：上传引线框架设计图，在所述引线框架设计图上，将散热片区域、载片区域、引线区域、定位孔区域、焊脚区域、槽体区域和非引线框架区域进行划分。其中，上述区域(散热片区域、载片区域、引线区域、定位孔区域、焊脚区域、槽体区域和非引线框架区域)为现有引线框架上通用的区域，还可以包括其他例如锁定孔区域、环状凸肋区域、连筋区域等等，根据实际的引线框架的结构进行定义。其中，优选地，在本实施例中，所述槽体区域包括位于散热片区域和载片区间的连接处的燕尾槽区域、位于载片区域的U形槽区域、位于引线区域的V形槽区域。另外优选地，在本实施例中，所述引线框架设计图上还包括两个用于位置匹配的定位点。方便步骤S3中实现位置匹配。S2：获取与所述引线框架设计图对应视角的待检测引线框架实物图。该待检测引线框架实物图通过超高清摄像头拍摄得到。并且在优选实施例中，设置好了视角，所述的引线框架设计图包括至少其中一个视角的设计图，所述视角包括正视图、侧视图、后视图。S3：将引线框架设计图和待检测引线框架实物图进行位置匹配。可以通过步骤S1中的优选实施例中的定位点实现快速位置匹配，从而实现两者角度、方向和大小的匹配。S4：将待检测引线框架实物图按照引线框架设计图实际的划分方式进行对应位置划分。即将待检测引线框架实物图按照实际位置进行划分。S5：将划分后的待检测引线框架实物图的每个区域进行颜色判断，判断整个区域的颜色是否连续，如果所有区域的颜色均连续则认为引线框架结构合格，否则为不合格。其中，每个区域的均为相同材料以及相同内容，因此颜色应当是连续而不是跳跃的，因此可以通过颜色判断可以实现判断待检测引线框架实物图的各个区域是否为引线框架设计图中的对应区域。如果发现颜色不连续，则证明非本区域的结构出现在了本区域，结构出现问题，从而实现检测。实施例2基于与实施例1相同的专利技术构思，本实施例提供一种引线框架检测系统，通过计算机软件的方式实现引线框架检测。如本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种引线框架检测方法，其特征在于：包括以下步骤：上传引线框架设计图，在所述引线框架设计图上，将散热片区域、载片区域、引线区域、定位孔区域、焊脚区域、槽体区域和非引线框架区域进行划分；获取与所述引线框架设计图对应视角的待检测引线框架实物图；将引线框架设计图和待检测引线框架实物图进行位置匹配；将待检测引线框架实物图按照引线框架设计图实际的划分方式进行对应位置划分；将划分后的待检测引线框架实物图的每个区域进行颜色判断，判断整个区域的颜色是否连续，如果所有区域的颜色均连续则认为引线框架结构合格，否则为不合格。

【技术特征摘要】
1.一种引线框架检测方法，其特征在于：包括以下步骤：上传引线框架设计图，在所述引线框架设计图上，将散热片区域、载片区域、引线区域、定位孔区域、焊脚区域、槽体区域和非引线框架区域进行划分；获取与所述引线框架设计图对应视角的待检测引线框架实物图；将引线框架设计图和待检测引线框架实物图进行位置匹配；将待检测引线框架实物图按照引线框架设计图实际的划分方式进行对应位置划分；将划分后的待检测引线框架实物图的每个区域进行颜色判断，判断整个区域的颜色是否连续，如果所有区域的颜色均连续则认为引线框架结构合格，否则为不合格。2.根据权利要求1所述的一种引线框架检测方法，其特征在于：所述的引线框架设计图包括至少其中一个视角的设计图，所述视角包括正视图、侧视图、后视图。3.根据权利要求1所述的一种引线框架检测方法，其特征在于：所述槽体区域包括位于散热片区域和载片区间的连接处的燕尾槽区域、位于载片区域的U形槽区域、位于引线区域的V形槽区域。4.根据权利要求1所述的一种引线框架检测方法，其特征在于：所述引线框架设计图上还包括两个用于位置匹配的定位点。5.一种引线框架检测系统，其特征在于：包括：引线框架设计图上传模块：用于上传引线框架设计图，在所述引线框架设计图上，划分有散热片区域、载片区域、引线区域、定位孔区域、焊脚区域、槽体区域和非引线框架区域；待检测引线框架实物...

【专利技术属性】
技术研发人员：王锋涛，黄斌，谢锐，宋佳骏，雷洋，
申请(专利权)人：四川金湾电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：四川,51