电子元件分选装置制造方法及图纸

本发明专利技术一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：可在一设有多个分配管的分配座上位移的分配头，该分配头与该检测机构的受测元件排出的该管路连结；一遮罩，设于该检测机构与该分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供该检测机构的该管路穿经；藉此使该分选机构避免沾附粉尘。

【技术实现步骤摘要】
电子元件分选装置本申请是中国申请号为201510381623.2、申请日为2015年7月2日、题为“电子元件分选装置”的申请的分案申请。
本专利技术是有关于一种分选装置，尤指一种对电子元件进行检测其物理特性后予以分类的电子元件分选装置。
技术介绍
按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分选的装置必须提供迅速而精确的搬送，该多个被检测、分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管。先前技术在进行检测时，常采用可作间歇旋转的测盘，在测盘周缘环列布设等间距凹设的载槽，借以自震动送料机的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送，历经多个检测站的程序后依其检测出的物理特性，予以排出至不同的管路，以输送至特定的收集盒进行收集；但由测盘进入各不同管路前，需经由一分选机构依受检测元件的检测结果进行分类，此种分选机构常采用一表面开有多数孔道的凹球形分配盘，并以一位于凹球形分配盘中央上方的分配头作对应各孔道的逐一分配。然而，分选机构采用表面开有多数孔道的凹球形分配盘，由于凹球形本身为一三度空间的立体位移空本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，其特征在于，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：可在一设有多个分配管的分配座上位移的分配头，该分配头与该检测机构的受测元件排出的该管路连结；一遮罩，设于该检测机构与该分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供该检测机构的该管路穿经。

【技术特征摘要】
2014.10.02 TW 1031343341.一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，其特征在于，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：可在一设有多个分配管的分配座上位移的分配头，该分配头与该检测机构的受测元件排出的该管路连结；一遮罩，设于该检测机构与该分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供该检测机构的该管路穿经。2.如权利要求1所述电子元件分选装置，其特征在于，该管路与该镂空区间余隙以挠性遮件予以包覆封罩。3.如权利要求1所述电子元件分选装置，其特征在于，该遮罩在设有透明可窥见该分选机构的视窗。4.如权利要求1所述电子元件分选装置，其特征在于，该遮...

【专利技术属性】
技术研发人员：林芳旭，陈荣宗，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71