一种导通测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种导通测试装置，包括导通测试架、连接器接触组件、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；多个连接器接触组件相互平行的滑动安装于导通测试架上；各连接器接触组件的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接导电端的导电针脚；光电耦合器输入端的一端通过导线电连接所述导电针脚，另一端通过导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；控制模块根据光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将相应的导通判断结果进行输出。本发明专利技术可适应各种型号的连接器导通测试，提高测试效率和测试精度。

A Conduction Testing Device

The invention discloses a conduction test device, which comprises a conduction test stand, a connector contact component, a control module, a photocoupler and a conduction result output module; a plurality of connector contact components slide parallel to each other and are installed on the conduction test stand; one end of each connector contact component is a conductive end for electrically connecting one end of the connector pin/socket to be tested, and the other end is electrically connected. The conductive pin is connected to the conductive end; one end of the input end of the photocoupler is electrically connected to the conductive pin through a wire, and the other end is connected to the pin/jack at the other end of the connector to be tested through a wire through a power supply; the control module judges whether the two terminals of the corresponding photocoupler input end are conductive or not according to the output signal of the photocoupler, and then judges the two corresponding connectors to be measured. Whether the pin/socket at the end is on or not, and then the corresponding on judgment results are output. The invention can adapt to various types of connector conduction test, improve test efficiency and test accuracy.

【技术实现步骤摘要】
一种导通测试装置
本专利技术涉及连接器性能检测
，特别是一种导通测试装置。
技术介绍
连接器生产过程中，需要对其插座、插头进行电性能测试。现如今连接器发展趋势着重于微型化、小巧方便型，如I/O类插孔插针引脚间距：2mm×2mm，1.524mm×1.778mm，2.54mm×2.54mm，1.25mm×1.25mm，3.96mm×3.96mm，5.08mm×5.08mm，4.2mm×4.2mm。因此对电子产品引脚的导通检测标准越来越严，技术要求越来越高。传统的测试方法，如万用表或蜂鸣器测试工具实现点对点导通测试，需要占用大量的人力以及操作时间；当遇到引脚较为密集或大批量生产的连接器，需要一人辅助测试，而且容易使测试员眼睛短暂性过度疲劳、眼花，检测效率也较低。此外，由于测试员操作不当等人为因素造成的相邻引脚导通混淆，增加了不必要的错误因素，大大降低了测试的准确性和测试效率。
技术实现思路
本专利技术的目的是，提供一种导通测试装置，可根据连接器针、孔、脚之间的间距，调节测试接触件的距离，从而适应多种型号的连接器导通测试，提高测试效率和测试精度。本专利技术采取的技术方案具体为：一种导通测试装置，包括导通测试架、连接器接触组件、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；连接器接触组件的数量为1个以上，并相互平行的滑动连接安装于导通测试架上；各连接器接触组件的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接所述导电端的导电针脚；光电耦合器的数量为1个以上，各光电耦合器输入端的一端通过第一导线电连接所述导电针脚，另一端通过第二导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；控制模块根据各光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将对应连接器各组插针/孔的导通判断结果，通过导通结果输出模块输出。本专利技术在应用时，多个连接器接触组件之间的距离可适应不同待测连接器针脚之间的间距进行滑动调节，从而可同时对待测连接器的多个针脚进行导通测试，提高测试效率和精度。进一步的，所述第一导线或第二导线上设有电流互感器，电流互感器的信号输出端连接控制模块。由于连接器接触组件所连接的插针/孔数目与电流大小呈倍数关系，因此可通过各电流互感器的输出信号判断导线上流过的电流大小，进而通过各电流互感器检测到的电流值比较判断各连接器接触组件是否同时连接了多个待测连接器插针/孔，提高测试的准确度。进一步的，导通结果输出模块包括对应各连接器接触组件的LED警示灯，当某一电流互感器检测到的电流信号与其它电流互感器不同时，控制模块控制相应的LED警示灯亮起。同时也可通过显示屏进行具体信息的显示，由此，测试人员可及时并清楚获知测试电路连接错误的位置。优选的，所述连接器接触组件采用PCB板作为底板，底板一端外周电镀金属导电层形成导电端，底板另一端沿长度方向设有插槽，插槽内嵌设有一导电针，导电针一端电连接所述导电端，另一端延伸至底板外形成所述导电针脚。进一步的，导通测试架包括底板和定位夹具，底板上设有滑动导轨，1个以上连接器接触组件垂直于导轨方向滑动安装于滑动导轨上；定位夹具包括导向柱以及垂直于连接器接触组件的上夹具和下夹具，下夹具设置于连接器接触组件导电针脚指向的底板侧部，导向柱数量为2个，分别垂直于下夹具并固定于下夹具两端，上夹具两端分别滑动连接一导向柱，使得上夹具可向下滑动至抵接下夹具，且上、下夹具相互抵接时，两者之间留有可供所述导电针脚穿过的夹持孔。优选的，所述导电针脚夹持孔沿定位夹具长度方向均匀设置。相邻夹持孔的间距可根据待测各种连接器针脚之间的间距设置，可为1mm左右，能够适应大部分的连接器。优选的，所述夹持孔由上夹具上的半圆槽与下夹具上的半圆槽对接组成，或者由下夹具上的弧形槽与上夹具的平面对接组成。夹持孔的形状与导电针脚的外形相适应，可设置为直径1mm左右，以保证测试时，导电针脚能够被夹持稳定，连接器接触组件不晃动。优选的，导电针一端通过PCB板内线路电连接导电端。当然，导电针也可延伸至导电端，从而与电镀金属导电层电连接。进一步的，导通测试架的底板上还设有测量尺度标记，所述测量尺度标记平行于滑动导轨设置。可方便根据待测连接器的型号规格提前固定好各连接器接触组件，提高测试效率。优选的，所述连接器接触组件的导电端通过导线电连接待测电连接器一端的插针/插孔。对于插针/插孔来说，无需导线即可实现电连接。优选的，所述导通结果输出模块为显示器或语音播报器。有益效果本专利技术的导通测试装置能针对不同型号的连接器调节连接器接触组件的距离，提高测试的灵活性，有效地提高导通测试效率和正确性。并且在能够及时判断每行/列的针或孔脚是否处于导通状态的基础上，若针脚未处于导通状态，则显示和报告未通引脚；且本专利技术可根据电流值对测试结果自动校验，以保证测试结果的可靠性，排除其他因素的干扰。附图说明图1是本专利技术导通测试装置的导通测试架与连接器接触组件结构示意图；图2是本专利技术导通测试装置的导通测试原理示意框图；图3是本专利技术导通测试部分电路结构示意图；图4是本专利技术上下夹具与导电针脚配合结构示意图；图中：1-导通测试架，2-底板，3-滑动轨道，4-导向柱，5-下夹具，6-上夹具，7-连接器接触组件，8-导电端，9-插槽，10-导电针。具体实施方式以下结合附图和具体实施例进一步描述。参考图1至图4，本专利技术的导通测试装置，包括导通测试架1、连接器接触组件7、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；连接器接触组件7的数量为1个以上，并相互平行的滑动连接安装于导通测试架1上；各连接器接触组件7的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接所述导电端的导电针脚；光电耦合器的数量为1个以上，各光电耦合器输入端的一端通过第一导线电连接所述导电针脚，另一端通过第二导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；控制模块根据各光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将对应连接器各组插针/孔的导通判断结果，通过导通结果输出模块输出。本专利技术在应用时，多个连接器接触组件之间的距离可适应不同待测连接器针脚之间的间距进行滑动调节，从而可同时对待测连接器的多个针脚进行导通测试，提高测试效率和精度。实施例1本实施例中，光电耦合器的数量与连接器接触组件的数量相同，参考图3所示，一光电耦合器的输入端、一电压源、一连接器接触组件，与被测连接器两端的一位插针/孔之间形成测试回路，若被测连接器两端相应位的插针/孔之间导通，则测试回路导通，光电耦合器输出端向控制模块发送导通信号。所述第一导线或第二导线上设有电流互感器（未示出），电流互感器的信号输出端连接控制模块。由于连接器接触组件所连接的插针/孔数目与电流大小呈倍数关系，因此可通过各电流互感器的输出信号判断导线上流过的电流大小，进而通过各电流互感器检测到的电流值比较判断各连接器接触组件是否同时连接了多个待测连接器插针/孔，提高测试的准确度。导通结果输出模块包括对应各连接器接触组件的LED警示灯，当某一电流互感器检测到的电流信号与其它电流互感器不同时，控制模块控制相应的LED警示灯亮起。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种导通测试装置，其特征是，包括导通测试架、连接器接触组件、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；连接器接触组件的数量为1个以上，并相互平行的滑动连接安装于导通测试架上；各连接器接触组件的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接所述导电端的导电针脚；光电耦合器的数量为1个以上，各光电耦合器输入端的一端通过第一导线电连接所述导电针脚，另一端通过第二导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；控制模块根据各光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将对应连接器各组插针/孔的导通判断结果，通过导通结果输出模块输出。

【技术特征摘要】
1.一种导通测试装置，其特征是，包括导通测试架、连接器接触组件、控制模块、光电耦合器和导通结果输出模块；连接器接触组件的数量为1个以上，并相互平行的滑动连接安装于导通测试架上；各连接器接触组件的一端为用于电连接待测连接器一端插针/插孔的导电端，另一端上设有电连接所述导电端的导电针脚；光电耦合器的数量为1个以上，各光电耦合器输入端的一端通过第一导线电连接所述导电针脚，另一端通过第二导线经一电源后连接待测连接器另一端插针/插孔；控制模块根据各光电耦合器的输出信号判断相应的光电耦合器输入端两端子之间是否导通，进而判断相应的待测电连接器两端的插针/插孔是否导通，然后将对应连接器各组插针/孔的导通判断结果，通过导通结果输出模块输出。2.根据权利要求1所述的导通测试装置，其特征是，所述第一导线或第二导线上设有电流互感器，电流互感器的信号输出端连接控制模块。3.根据权利要求2所述的导通测试装置，其特征是，导通结果输出模块包括对应各连接器接触组件的LED警示灯，当某一电流互感器检测到的电流信号与其它电流互感器不同时，控制模块控制相应的LED警示灯亮起。4.根据权利要求1所述的导通测试装置，其特征是，所述连接器接触组件采用PCB板作为底板，底板一端外周电镀金属导电层形成导电端，底板另一端沿长度方向设有插槽，插槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵剑，
申请(专利权)人：苏州华旃航天电器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32