The invention discloses a bandgap reference circuit capable of generating start-up success signal, which includes a bandgap reference unit and a level conversion circuit. The level conversion circuit includes a PMOS transistor M6, a PMOS transistor M7, a NMOS transistor M8, a NMOS transistor M9, a NMOS transistor M10 and a NMOS transistor M11, a source of a PMOS transistor M6 and a source of a PMOS transistor M7 are connected to the power supply terminal VDD, and a gate of a PMOS transistor M6 is connected to the switch control node V P, the gate of PMOS M7 is connected to the start signal node, the drain of NMOS M10, the gate of NMOS M10 and the gate of NMOS M8 are connected to the drain of PMOS M7, the drain of NMOS M11, the gate of NMOS M11 and the drain of NMOS M9 are connected to the drain of PMOS M6, the source of NMOS M10 is connected to the drain of NMOS M9, and the source of NMOS M11 is connected to the drain of NMOS M8. The source of the NMOS M9 and the source of the NMOS M8 are grounded, and the drain of the PMOS M6 serves as the output port of the start-up success signal VBPOK. The invention can provide the start success signal in time, thereby improving the circuit performance.
【技术实现步骤摘要】
一种可产生启动成功标志信号的带隙基准电路
本专利技术涉及带隙基准电路,尤其涉及一种可产生启动成功标志信号的带隙基准电路。
技术介绍
带隙基准电路被广泛用于各类CMOS集成电路中,其作用是产生一个不随环境温度、电源电压变化的恒定基准电压。当集成电路上电之后,各个子功能模块通常是逐次按照既定顺序启动的,其中带隙基准电路作为全局参考信号应首先启动,同时提供一个启动成功的标志信号,以通知后续子功能模块开始工作。但是,传统的带隙基准电路的缺点在于,缺少一个启动成功的标志信号,从而存在电路启动失败的风险。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于,针对现有技术的不足,提供一种能够及时提供启动成功标志信号,从而使集成电路各功能模块逐次有序启动的带隙基准电路。为解决上述技术问题,本专利技术采用如下技术方案。一种可产生启动成功标志信号的带隙基准电路,其包括有带隙基准单元和电平转换电路,所述电平转换电路包括有PMOS管M6、PMOS管M7、NMOS管M8、NMOS管M9、NMOS管M10和NMOS管M11,所述带隙基准单元包括有启动信号结点start、开关控制结点Vbp和基准电压输出端Vref,所述PMOS管M6的源极和PMOS管M7的源极均连接于电源端VDD,所述PMOS管M6的栅极连接于开关控制结点Vbp,所述PMOS管M7的栅极连接于启动信号结点start,所述NMOS管M10的漏极、所述NMOS管M10的栅极和所述NMOS管M8的栅极均连接于所述PMOS管M7的漏极,所述NMOS管M11的漏极、所述NMOS管M11的栅极和所述NMOS管M9的栅极均连接于所述PMOS管 ...
【技术保护点】
1.一种可产生启动成功标志信号的带隙基准电路,其特征在于,包括有带隙基准单元(1)和电平转换电路(2),所述电平转换电路(2)包括有PMOS管M6、PMOS管M7、NMOS管M8、NMOS管M9、NMOS管M10和NMOS管M11,所述带隙基准单元(1)包括有启动信号结点start、开关控制结点Vbp和基准电压输出端Vref,所述PMOS管M6的源极和PMOS管M7的源极均连接于电源端VDD,所述PMOS管M6的栅极连接于开关控制结点Vbp,所述PMOS管M7的栅极连接于启动信号结点start,所述NMOS管M10的漏极、所述NMOS管M10的栅极和所述NMOS管M8的栅极均连接于所述PMOS管M7的漏极,所述NMOS管M11的漏极、所述NMOS管M11的栅极和所述NMOS管M9的栅极均连接于所述PMOS管M6的漏极,所述NMOS管M10的源极与所述NMOS管M9的漏极相连接,所述NMOS管M11的源极与所述NMOS管M8的漏极相连接,所述NMOS管M9的源极和所述NMOS管M8的源极均接地,所述PMOS管M6的漏极作为启动成功标志信号输出端VBPOK。
【技术特征摘要】
1.一种可产生启动成功标志信号的带隙基准电路,其特征在于,包括有带隙基准单元(1)和电平转换电路(2),所述电平转换电路(2)包括有PMOS管M6、PMOS管M7、NMOS管M8、NMOS管M9、NMOS管M10和NMOS管M11,所述带隙基准单元(1)包括有启动信号结点start、开关控制结点Vbp和基准电压输出端Vref,所述PMOS管M6的源极和PMOS管M7的源极均连接于电源端VDD,所述PMOS管M6的栅极连接于开关控制结点Vbp,所述PMOS管M7的栅极连接于启动信号结点start,所述NMOS管M10的漏极、所述NMOS管M10的栅极和所述NMOS管M8的栅极均连接于所述PMOS管M7的漏极,所述NMOS管M11的漏极、所述NMOS管M11的栅极和所述NMOS管M9的栅极均连接于所述PMOS管...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹宏涛,张弛,程亚宇,余佳,
申请(专利权)人:深圳贝特莱电子科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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