The invention discloses a chip batch rapid detection device in the field of chip detection technology, which comprises a detection shell. A sliding groove is arranged on the left side of the inner cavity of the detection shell, a supporting plate is movably connected on the left side of the inner cavity of the sliding groove, a hydraulic expansion plate matching the position of the sliding groove is installed on the left side of the top of the inner cavity of the detection shell, and a detection needle is evenly installed on the bottom of the hydraulic expansion plate. The left side of the inner cavity of the detection housing is equipped with an active wheel. The rear end face of the driving wheel is equipped with a servo motor. The fixed rod and the fixed rod connected with the reciprocating mobile device drive a cleaning brush to clean the blocked chips on the thickness detection groove 1 and the thickness detection groove 2. The chip on the thickness detection groove 1 is moved to the inner cavity of the second inferior product collection box through the cleaning brush. The thickness qualified chip of the second block of the thickness detection groove is moved into the inner chamber of the qualified product collection box through the cleaning brush, and the qualified product and the defective product are put into the corresponding collection box in time to avoid being scattered and difficult to distinguish.
【技术实现步骤摘要】
一种芯片批量快速检测装置
本专利技术涉及芯片检测
,具体为一种芯片批量快速检测装置。
技术介绍
芯片检测是一种芯片制造常用装置,芯片制造完成后,需要对其进行各种检测,现在的芯片检测装置检测范围单一,只能进行单一检测抗压性或厚度,且检测速度慢,将一枚芯片放入检测装置进行检测,检测结束后在进行下一枚芯片的检测,无法进行批量检测,检测速度慢,为此,我们设计了一种芯片批量快速检测装置。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种芯片批量快速检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种芯片批量快速检测装置,包括检测外壳,所述检测外壳内腔左侧开设有滑槽,所述滑槽内腔左侧活动连接有支撑板,所述检测外壳内腔顶部左侧安装有与滑槽位置相匹配的液压伸缩板,所述液压伸缩板底部均匀安装有与支撑板相匹配的检测针,所述检测外壳内腔中部左侧安装有主动轮,所述主动轮后端面安装有电机,所述主动轮通过传动带与从动轮传动连接,所述从动轮右侧底部设置有斜板,所述斜板底部安装有次品收集箱一,所述斜板右侧安装有厚度检测槽一与厚度检测槽二,且厚度检测槽一位于厚度检测槽二上方,所述检测外壳右侧安装有伺服电机,所述伺服电机左侧输出端安装有转动轴贯穿检测外壳连接有往复移动装置,所述往复移动装置左侧顶部与底部分别安装有固定杆一与固定杆二,所述固定杆一与固定杆二远离往复移动装置一端均安装有清理刷,顶部所述清理刷与厚度检测槽一顶部贴合,底部所述清理刷与厚度检测槽二顶部贴合,所述斜板底部从左往右分别安装有次品收集箱二、合格品收集箱与次品收集箱一,所述次品收集箱二与顶部清 ...
【技术保护点】
1.一种芯片批量快速检测装置,包括检测外壳(1),其特征在于:所述检测外壳(1)内腔左侧开设有滑槽(2),所述滑槽(2)内腔左侧活动连接有支撑板(3),所述检测外壳(1)内腔顶部左侧安装有与滑槽(2)位置相匹配的液压伸缩板(4),所述液压伸缩板(4)底部均匀安装有与支撑板(3)相匹配的检测针(5),所述检测外壳(1)内腔中部左侧安装有主动轮(6),所述主动轮(6)后端面安装有电机,所述主动轮(6)通过传动带(8)与从动轮(7)传动连接,所述从动轮(7)右侧底部设置有斜板(9),所述斜板(9)底部安装有次品收集箱一(18),所述斜板(9)右侧安装有厚度检测槽一(10)与厚度检测槽二(11),且厚度检测槽一(10)位于厚度检测槽二(11)上方,所述检测外壳(1)右侧安装有伺服电机(12),所述伺服电机(12)左侧输出端安装有转动轴(13)贯穿检测外壳(1)连接有往复移动装置(14),所述往复移动装置(14)左侧顶部与底部分别安装有固定杆一(15)与固定杆二(16),所述固定杆一(15)与固定杆二(16)远离往复移动装置(14)一端均安装有清理刷(17),顶部所述清理刷(17)与厚度检测槽一 ...
【技术特征摘要】
1.一种芯片批量快速检测装置,包括检测外壳(1),其特征在于:所述检测外壳(1)内腔左侧开设有滑槽(2),所述滑槽(2)内腔左侧活动连接有支撑板(3),所述检测外壳(1)内腔顶部左侧安装有与滑槽(2)位置相匹配的液压伸缩板(4),所述液压伸缩板(4)底部均匀安装有与支撑板(3)相匹配的检测针(5),所述检测外壳(1)内腔中部左侧安装有主动轮(6),所述主动轮(6)后端面安装有电机,所述主动轮(6)通过传动带(8)与从动轮(7)传动连接,所述从动轮(7)右侧底部设置有斜板(9),所述斜板(9)底部安装有次品收集箱一(18),所述斜板(9)右侧安装有厚度检测槽一(10)与厚度检测槽二(11),且厚度检测槽一(10)位于厚度检测槽二(11)上方,所述检测外壳(1)右侧安装有伺服电机(12),所述伺服电机(12)左侧输出端安装有转动轴(13)贯穿检测外壳(1)连接有往复移动装置(14),所述往复移动装置(14)左侧顶部与底部分别安装有固定杆一(15)与固定杆二(16),所述固定杆一(15)与固定杆二(16)远离往复移动装置(14)一端均安装有清理刷(17),顶部所述清理刷(17)与厚度检测槽一(10)顶部贴合,底部所述清理刷(17)与厚度检测槽二(11)顶部贴合,所述斜板(9)底部从左往右分别安装有次品收集箱二(20)、合格品收集箱(19)与次品收集箱一(18),所述次品收集箱二(20)与顶部清理刷(17)位置相匹配,所述合格品收集箱(19)与底部清理刷(17)位置相匹配,所述检测外壳(1)内腔左侧底部安装有次品收集箱三(21),所述检测外壳(1)内腔顶部中部开设有下滑槽(22)。2.根据权利要求1所述的一种芯片批量快速检测装置,其特征在于:所述往复移动装置(14)包括移动板(141),所述移动板(141)内腔中部安装有转动轮(142),所述转动轮(142)前端面安装有齿牙(143),所述移动板(141)内腔顶部与底部均开设有与齿牙(143)相匹配的齿槽(144)。3.根据权利要求1所述的一种芯片批量快速检测装置,其特征在于:所述支撑板(3)包括支撑板外壳(31),所述支撑板外壳(31)底部左右两侧均安装有固定板(32),所述固定板(32)顶部均安装有斜块(33),两组所述斜块(33)之间放置有芯片(34),所述支撑板外壳(31)底部均开设有开槽(35)。4.根据权利要求1所述的一种芯片批量快速检测装置,其特征在于:所述下滑槽(22)包括光滑板(221),所述光滑板(221)内腔从前往后均匀开设有芯...
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