基准校正器、检测设备及检测设备的坐标转换方法技术

本发明专利技术公开了一种基准校正器、检测设备及检测设备的坐标转换方法，基准校正器包括对位基板和调节结构。将基准校正器固定于预设位置，通过调节结构调节对位基板使对位基板沿X方向或Y方向移动，从而可以使基准校正器与预设位置进行精准对位。当将该基准校正器安装在具有独立坐标系的多个轴的检测设备侧边上的预设位置时，可以通过基准校正器与预设位置的精准对位获得基准校正器相对于检测设备边缘的假想原点的坐标，将该坐标作为参考坐标，根据检测设备上各轴原点与基准校正器的距离将检测设备的各轴原点转换成对应的相对于假想原点的坐标，从而实现了将检测设备的各轴的坐标系统一。

【技术实现步骤摘要】
基准校正器、检测设备及检测设备的坐标转换方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种基准校正器、检测设备及检测设备的坐标转换方法。
技术介绍
在液晶显示行业，产品如玻璃基板一般会有缺陷，为了防止影响显示，需要检测设备对产品的缺陷位置进行精确定位。目前的检测设备包括多个轴，但是各轴均具有各自的坐标系，坐标不统一，并且产品自身也具有相应的坐标系，这样就增加了检测产品缺陷位置的难度，因此，将检测设备的各轴的坐标系统一是本领域人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供的一种基准校正器、检测设备及检测设备的坐标转换方法，用以解决现有检测设备各轴坐标系不统一的问题。因此，本专利技术实施例提供了一种基准校正器，包括：对位基板和调节结构；其中，所述对位基板用于与预设位置进行对位；所述调节结构用于调节所述对位基板沿X方向或Y方向移动。具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述基准校正器中，还包括：固定底座和固定支架；其中，所述固定底座用于与被固定物固定连接；所述固定支架位于所述固定底座上，用于将所述对位基板卡在所述固定底座内。具体实施时，在本专利技术实施例提供的上述基准校正器中，所述对位本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基准校正器，其特征在于，包括：对位基板和调节结构；其中，所述对位基板用于与预设位置进行对位；所述调节结构用于调节所述对位基板沿X方向或Y方向移动。

【技术特征摘要】
1.一种基准校正器，其特征在于，包括：对位基板和调节结构；其中，所述对位基板用于与预设位置进行对位；所述调节结构用于调节所述对位基板沿X方向或Y方向移动。2.如权利要求1所述的基准校正器，其特征在于，还包括：固定底座和固定支架；其中，所述固定底座用于与被固定物固定连接；所述固定支架位于所述固定底座上，用于将所述对位基板卡在所述固定底座内。3.如权利要求2所述的基准校正器，其特征在于，所述对位基板为中心带有对位标记的方形透明基板。4.如权利要求3所述的基准校正器，其特征在于，所述调节结构为固定于所述方形透明基板的各个侧边且均匀排布的多个调节螺栓。5.一种检测设备，包括检测基台，以及位于所述检测基台上分别沿X方向和Y方向延伸且具有独立坐标系的多个轴，且所述多个轴的中心位置均带有对位标记，其特征在于，还包括如权利要求1-5任一项所述的基准校正器；所述基准校正器固定于所述检测基台侧边的中心位置。6.如权利要求5所述的检测设备，其特征在于，将沿Y方向延伸的多个Y轴分为n组，每组至少包括一个Y轴，每个沿X方向延伸的X轴分别固定一组Y轴，n为X轴的个数。7.如权利要求6所述的检测设备，其特征在于，通过移动所述X轴或所述Y轴使所述X轴或所述Y轴的对位标记与所述对位基板上的对位标记重合来确定对...

【专利技术属性】
技术研发人员：施文鹤，刘尧，李言，孙园林，张作军，刘晏，
申请(专利权)人：合肥欣奕华智能机器有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34