A laser fixture (10) is used to fix the tail fibers of a semiconductor laser. The diaphragm (20) is placed in a suitable position behind the laser fixture (10), the aperture (20) is used to control the transmission laser, and the power receiver (30) is placed behind the diaphragm (20) to detect the transmission laser through the diaphragm (20). The slideway (40) is used to control the movement of the horizontal position of the diaphragm (20). The computer control terminal (50) collects the forward and backward movement of the diaphragm (20). The power values detected by the power receiver (30) are analyzed and compared to realize the screening of high beam quality lasers. The invention is advantageous to realize the screening of semiconductor lasers with high beam quality, and has the advantages of convenient debugging and high test efficiency. The test device is conducive to the customer's demand for high beam quality semiconductor laser consistency.
【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器光束质量测试装置及其测试方法
本专利技术属于激光
,具体地说,涉及到半导体激光器的光束质量测试装置及其测试方法。
技术介绍
半导体激光器具有电光效率高、体积小、寿命长、价格低等优点,已广泛应用于军事、医疗、通信等领域。半导体激光芯片在水平方向和垂直方向两个方向发散角的不同使得输出激光呈椭圆光斑分布,不利于半导体激光器的直接应用,在实际应用中通常在激光芯片后采用透镜系统实现激光的聚焦准直耦合到光纤输出。在工业应用中,高功率半导体激光器常选用纤芯/包层直径为50/125、105/125、200/220等多模光纤作为传导光纤,其纤芯数值孔径的大小反应了经光纤传导后激光的发散程度。光束质量的评价方法有远场发散角、聚焦光斑尺寸、M2因子等几种评价方式。而远场发散角、聚焦光斑尺寸可因光学变化的改变而改变,同一光束的远场发散角或聚焦光斑存在不确定性,而M2因子作为全新的描述激光光束质量的参数,不因理想光学变换而变化,能够客观全面的描述激光束的质量特征,但M2因子评价方法的测定需要完整的光强分布信息进行对比,M2因子的测试通常采用特定的测试系统,测试中常常只能对mW级低功率的激光进行测试,在一定程度上限制了它的实用性,特别是对于高功率的半导体激光器而言不适合采用M2因子评价光束质量。
技术实现思路
针对上述问题,本专利技术提供一种方便、快捷的半导体激光器光束质量测试装置及调试方法,用于对尾纤输出的半导体激光器光束质量进行测试、筛选。本专利技术解决采取的技术方案是:一种半导体激光器光束质量测试装置,包含:激光夹具用于固定半导体激光器的尾纤;光阑,置于激光夹 ...
【技术保护点】
1.一种半导体激光器光束质量测试装置,由激光夹具(10)、光阑(20)、功率接收器(30)和滑轨(40)、电脑控制端(50)和光纤(60)组成,其特征在于:所述的激光夹具(10)用于固定半导体激光器的尾纤,光阑(20)置于激光夹具(10)后合适位置,光阑(20)上的通光孔径对传输激光进行控制;功率接收器(30)置于光阑(20)后,探测经光阑(20)输出的激光功率值;滑轨(40)用于控制光阑(20)水平位置的移动,电脑控制端(50)采集光阑(20)的前后移动,由功率接收器(30)探测到的功率值并进行分析对比,实现高光束质量激光器的筛选。
【技术特征摘要】
2018.07.23 CN 20181081136651.一种半导体激光器光束质量测试装置,由激光夹具(10)、光阑(20)、功率接收器(30)和滑轨(40)、电脑控制端(50)和光纤(60)组成,其特征在于:所述的激光夹具(10)用于固定半导体激光器的尾纤,光阑(20)置于激光夹具(10)后合适位置,光阑(20)上的通光孔径对传输激光进行控制;功率接收器(30)置于光阑(20)后,探测经光阑(20)输出的激光功率值;滑轨(40)用于控制光阑(20)水平位置的移动,电脑控制端(50)采集光阑(20)的前后移动,由功率接收器(30)探测到的功率值并进行分析对比,实现高光束质量激光器的筛选。2.如权利要求1所述的一种半导体激光器光束质量测试装置,其特征在于:所述的激光夹具(10)具有与被测半导体激光器尾纤涂覆层直径相匹配的凹槽(13)。3.如权利要求2所述的一种半导体激光器光束质量测试装置,其特征在于:所述的激光夹具凹槽(13)上设置有一层硅胶层。4.如权利要求1所述的一种半导体激光器光束质量测试装置,其特征在于:所述的光阑(20)具有一个一定大小的通光孔径,通光孔径设定为固定孔径或可变孔径两种形式;固定孔径形式中通过改变光阑(20)位置,完成光束质量的测试;可变孔径形式中,固定光阑的位置,改变光阑(20)通光孔径的直径,完成光束质量的测试。5.如权利要求4所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员:李军,席道明,陈云,马永坤,吕艳钊,魏皓,
申请(专利权)人:江苏天元激光科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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