The utility model discloses a detection device for chips, which comprises a base, a top cover arranged above the base and parallel spaced with the base, a first screw and a second screw vertically pivoted between the base and the top cover, a positioning plate for carrying chips connected with the first screw and the second screw horizontally, and embedded in the top cover. A magnifying glass for observing a chip and a driving mechanism embedded in the base for driving the synchronous rotation of the first and second screw rods are provided with a positioning groove for chip positioning on the upper surface of the positioning plate, which is positioned directly below the magnifying glass. The detection device designed with this structure can make the positioning board with the chip move up and down steadily and reliably, and observe the chip through a magnifying glass embedded in the top cover of the positioning board.
【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片的检测装置
本技术涉及芯片检测
,尤其涉及一种用于芯片的检测装置。
技术介绍
芯片封装是安装半导体集成电路芯片用的外壳,起着安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用,而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁,芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上,这些引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接。芯片检测时需要将封装打开,叫做开帽。对于漏电流大的产品采用机械方式即干开帽形式,其它情况用强酸即湿开帽形式。切开剖面观察金丝情况,及金球情况,表面铝线是否受伤,芯片是否有裂缝,光刻是否不良,是否中测,芯片名是否与布线图芯片名相符。样品数量为5只/批。对于开短路和用不导电胶装片的产品要用万用表检测芯片地线和基岛之间电阻检查装片是否有问题。对于密间距产品要测量铝线宽度,确认所用材料(料饼,导电胶,金丝)是否确当开帽后应该再测试,根据结果进一步分析。现有的芯片封装开帽后观察需要借助显微镜等仪器,设备复杂,而且需要手工用镊子固定住芯片,操作起来非常麻烦。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种检测装置,该检测装置能够使得承载有芯片的定位板稳定可靠的上下运动,并通过埋设于定位板上方顶盖内的放大镜对芯片进行观测。为达此目的,本技术采用以下技术方案:一种用于芯片的检测装置,包括底座、设置于所述底座上方且与所述底座平行间隔设置的顶盖、垂直枢接于所述底座和所述顶盖之间的第一丝杆和第二丝杆、水平螺纹连接于所述第一丝杆和第二丝杆之间用于承载芯片的定位板、埋设于所述顶盖内用于观测芯片的放大镜、以及埋设于所述底座内用于驱动所述第一丝杆和第二丝杆同步转动的驱动机构;所述定位板 ...
【技术保护点】
1.一种用于芯片的检测装置,其特征在于:包括底座、设置于所述底座上方且与所述底座平行间隔设置的顶盖、垂直枢接于所述底座和所述顶盖之间的第一丝杆和第二丝杆、水平螺纹连接于所述第一丝杆和第二丝杆之间用于承载芯片的定位板、埋设于所述顶盖内用于观测芯片的放大镜、以及埋设于所述底座内用于驱动所述第一丝杆和第二丝杆同步转动的驱动机构;所述定位板的上表面凹设有用于芯片定位的定位凹槽,所述定位凹槽位于所述放大镜的正下方。
【技术特征摘要】
1.一种用于芯片的检测装置,其特征在于:包括底座、设置于所述底座上方且与所述底座平行间隔设置的顶盖、垂直枢接于所述底座和所述顶盖之间的第一丝杆和第二丝杆、水平螺纹连接于所述第一丝杆和第二丝杆之间用于承载芯片的定位板、埋设于所述顶盖内用于观测芯片的放大镜、以及埋设于所述底座内用于驱动所述第一丝杆和第二丝杆同步转动的驱动机构;所述定位板的上表面凹设有用于芯片定位的定位凹槽,所述定位凹槽位于所述放大镜的正下方。2.根据权利要求1所述的一种用于芯片的检测装置,其特征在于:所述驱动机构包括紧固于所述第一丝杆的下端的第一从动齿轮、紧固于所述第二丝杆的下端用于和所述第一从动齿轮相啮合的第二从动齿轮、垂直紧固于所述底座上表面的驱...
【专利技术属性】
技术研发人员:潘颖彬,
申请(专利权)人:深圳市源创数码科技有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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