一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法技术

技术编号:19931900 阅读:46 留言:0更新日期:2018-12-29 03:43
本发明专利技术涉及一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法,主要包括以下几个步骤:首先对采集到的PCB板图像进行预处理,实现二值化;然后对板子进行倾斜校正,并利用投影法对其进行单元分割;最后,统计无缺陷模板中单元块的连通域数量Num及面积,并将各连通域面积按由大到小排列,记作Area,将连通域数量Num和面积序列Area作为特征,再统计待检测图像中各个单元块的相应参数,将其逐个与模板的标准参数比对,判断是否有缺陷及缺陷类型。实验表明,该发明专利技术对于由多个重复单元组成的PCB裸板上的短路及开路等缺陷具有很好的检测效果,检测精度高、速度快,成本低,具有很好的实际应用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法
本专利技术涉及PCB板的自动在线缺陷检测,具体涉及一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法。
技术介绍
印制电路板(PrintedCircuitBoard,简称PCB),是各种电子元器件的载体,在电子通信等许多领域中都有着广泛的应用,需求量巨大。随着工艺的提高,电子技术的发展,电路板向小元件、高密度、细间距方向发展。由于其结构复杂、生产工序繁多,出现断路、短路、线细等缺陷不可避免。传统的人工目测、电子检测等方法因其检测速度慢,易漏检,且接触法检测易损伤PCB等缺点,已经不能满足生产的需要。自动光学检测技术(AOI)在PCB的缺陷检测上应用越来越多,也出现了很多商用的检测设备。但大都价格昂贵。如何经济有效的实现PCB的自动检测,成为中小企业迫切需要解决的问题。机器视觉检测算法是自动光学检测的关键技术,国内外学者也提出了不少算法,主要包括三类:参考比较法、设计准则校验法和混合法。⑴参考比较法是将待检测PCB图像和标准PCB图像逐点进行比较,或者将待检测PCB图像上提取的特征与标准PCB图像所提取的特征进行比较,有差异即认为有缺陷,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,采集待检测PCB板灰度图像,并对其进行预处理;步骤2,利用投影法对预处理后的图像进行单元分割,即将PCB板上重复的单元块独立分割开;步骤3,缺陷检测,统计无缺陷模板中单元块的连通域数量Num及面积,并将各连通域面积按由大到小排列,记作序列Area,将连通域数量Num和面积序列Area作为特征,再统计待检测图像中各个单元块的相应参数,将其逐个与模板的标准参数比对,判断是否有缺陷及缺陷类型。

【技术特征摘要】
1.一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,采集待检测PCB板灰度图像,并对其进行预处理;步骤2,利用投影法对预处理后的图像进行单元分割,即将PCB板上重复的单元块独立分割开;步骤3,缺陷检测,统计无缺陷模板中单元块的连通域数量Num及面积,并将各连通域面积按由大到小排列,记作序列Area,将连通域数量Num和面积序列Area作为特征,再统计待检测图像中各个单元块的相应参数,将其逐个与模板的标准参数比对,判断是否有缺陷及缺陷类型。2.如权利要求1所述的一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法,其特征在于:所述步骤3缺陷检测的具体实现方式如下,步骤3.1,统计无缺陷模板中单元块的连通域数量Num及面积,并将各连通域面积按由大到小排列,记作序列Area;步骤3.2,统计待检测图像中各个单元块的相应参数NumD和AreaD,将其逐个与模板的标准参数Num和Area比对,判断是否有缺陷及缺陷类型;判断方式如下,①若待检测单元块的连通域数量大于标准参数,即NumD>Num,则缺陷为断路;②若待检测单元块的连通域数量小于标准参数,即NumD<Num,则缺陷为短路;③若待检测单元块的连通域数量等于标准参数,即NumD=Num,继续对比面积,若各连通域面积的相对误差不超过±δ,则判定无缺陷,否则,也标记为有缺陷。3.如权利要求1或2所述的一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法,其特征在于:所述步骤1中的预处理包括如下子步骤,步骤1.1,对采集到的灰度图像f进行伽马变换得到fg,fg(x,y)=c·f(x,y)γ其中,x,y表示像素点坐标,c和γ为常数参数;步骤1.2,对伽马变换后的图像用Otsu的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员:伍世虔陈彬李鑫鲁阳
申请(专利权)人:武汉科技大学
类型:发明
国别省市:湖北,42

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