基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备制造技术

技术编号:19903877 阅读:46 留言:0更新日期:2018-12-26 03:02
本实用新型专利技术涉及基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备,可实现对平面零件表面瑕疵和关键几何尺寸的快速检测和测量。它包括辊轮输送装置和暗箱,辊轮输送装置穿过暗箱设置;所述暗箱内设有暗场检测单元和明场检测单元;所述暗场检测单元位于所述辊轮输送装置的上方,与所述辊轮输送装置的距离可调;所述明场检测单元包括线状照明装置和光学成像装置,所述光学成像装置由设于检测区域上方的线阵相机与光学透镜构成;所述辊轮输送装置的起始处设有自动纠偏机构;所述自动纠偏机构包括纠偏挡片和拨杆;所述纠偏挡片固定设置;所述拨杆固定在拨杆座上,拨杆座通过弹簧铰链与移动滑块联接,移动滑块由电机通过传动螺杆驱动可做往复运动。

【技术实现步骤摘要】
基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备
本技术涉及光学检测设备,具体涉及基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备。
技术介绍
光滑平面上微小瑕疵的检测通常采用在特定光照下通过人眼观察表面瑕疵对入射光的散射来确定瑕疵的特性,或者通过在特定的光照下采用机器视觉的方法来检测。人眼检测尽管具有灵敏度高,检测比较灵魂的优点,但由于检测人员的个性差异及受疲劳、情绪等因素影响而早造成检测的一致性,重复性不稳定,同时,由于人眼检测无法将检测结果数字化,因此无法实现检测定量化。机器视觉检测应用于大视场时的检测灵敏和检测速度相互制约,如果为了提高检测速度,将会牺牲检测灵敏度,反之亦然。可见,针对诸如手机面板之类的平面零件的表面质量检测,目前还缺少一种能实现对平面零件表面瑕疵和关键几何尺寸的快速检测和测量的设备。
技术实现思路
为克服现有技术中所存在的上述不足,本技术提供了基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备,可实现对平面零件表面瑕疵和关键几何尺寸的快速检测和测量,具体的,可以实现同时测量手机面板上透明部分的微小瑕疵及印刷有图案部分的几何尺寸、形状,及外框。本技术技术方案:基于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备,其特征在于:包括辊轮输送装置(1)和暗箱(2),辊轮输送装置(1)穿过暗箱(2)设置;所述暗箱(2)内设有暗场检测单元和明场检测单元;所述暗场检测单元位于所述辊轮输送装置(1)的上方,与所述辊轮输送装置(1)的距离可调;所述明场检测单元包括线状照明装置(3)和光学成像装置(4),所述光学成像装置(4)由设于检测区域上方的线阵相机(41)与光学透镜(42)构成;所述辊轮输送装置(1)的起始处设有自动纠偏机构(5);所述自动纠偏机构(5)包括纠偏挡片(51)和拨杆(52);所述纠偏挡片(51)固定设置;所述拨杆(52)固定在拨杆座(53)上,...

【技术特征摘要】
1.基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备,其特征在于:包括辊轮输送装置(1)和暗箱(2),辊轮输送装置(1)穿过暗箱(2)设置;所述暗箱(2)内设有暗场检测单元和明场检测单元;所述暗场检测单元位于所述辊轮输送装置(1)的上方,与所述辊轮输送装置(1)的距离可调;所述明场检测单元包括线状照明装置(3)和光学成像装置(4),所述光学成像装置(4)由设于检测区域上方的线阵相机(41)与光学透镜(42)构成;所述辊轮输送装置(1)的起始处设有自动纠偏机构(5);所述自动纠偏机构(5)包括纠偏挡片(51)和拨杆(52);所述纠偏挡片(51)固定设置;所述拨杆(52)固定在拨杆座(53)上,拨杆座(53)通过弹簧铰链(54)与移动滑块(55)联接,移动滑块(55)由电机(56)通过传动螺杆(57)驱动可做往复运动。2.根据权利要求1所述的基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备,其特征在于:所述纠偏机构包括基板(58),基板(58)的一侧并排设有第一调整固定块(59)和第二调整固定块(510),第一调整固定块(59)和第二调整固定块(510)之间设有调整固定板(511),以及设于所述调整固定板(511)下方的调整螺杆(512)、调整滑块导向杆(513)和调整滑块(514);所述调整滑块(514)与所述调整滑块导向杆(513)通过滑动副联接,与所述调整螺杆(512)通过螺旋副联...

【专利技术属性】
技术研发人员:袁巨龙
申请(专利权)人:杭州智谷精工有限公司
类型:新型
国别省市:浙江,33

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