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本实用新型涉及基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备，可实现对平面零件表面瑕疵和关键几何尺寸的快速检测和测量。它包括辊轮输送装置和暗箱，辊轮输送装置穿过暗箱设置；所述暗箱内设有暗场检测单元和明场检测单元；所述暗场检测单元位于所述...
该专利属于杭州智谷精工有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州智谷精工有限公司授权不得商用。

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