一种切片电池参考片及其标定方法技术

技术编号:19831720 阅读:71 留言:0更新日期:2018-12-19 17:36
本发明专利技术公开一种切片电池参考片的标定方法,属于光伏领域,其包括:通过QE测试得到整片电池片的短路电流及切片电池片的短路电流,采用电池片检测机台对整片电池片进行测试,调节电池片检测机台的光强,使测得的短路电流与整片电池片的短路电流相同,将此时电池片检测机台的光强作为测试整片电池片的标准光强;将切片电池片和假片连接得到假整片;假整片与整片电池片形状相同;电池片检测机台在标准光强下检测切片电池片,得到切片电池片的开路电压Uoc和填充因子FF。通过该标定方法标定的参考片能够解决切片后由于无切片电池参考片对电池片检测机台进行校准,而导致的切片电池片无法测试及按效率分档问题。本发明专利技术还提供了切片电池参考片。

【技术实现步骤摘要】
一种切片电池参考片及其标定方法
本专利技术涉及光伏
,具体为一种切片电池参考片及其标定方法。
技术介绍
随着光伏行业技术的不断发展和进步,晶硅组件功率一直在快速提升,半片及叠片等高功率晶体硅太阳组件逐渐成为光伏行业发展的主流方向。切片电池组件设计封装能够更好的降低功率损耗,提高输出功率,同时也由于优化的电路设计使组件的抗热斑能力增强。晶硅材料内部缺陷分布不均匀及电池工艺差异性,导致电池各个区域的光谱响应并不完全一致,进而使得到的切片电池各有差异。目前生产线中,由于没有切片电池参考片,从而无法对切片电池进行重新测试分档,这样导致存在差异的各个切片电池在同一电池串中,在组件EL(电致发光)检测下出现明暗片等现象,最终影响组件的整体输出功率。
技术实现思路
针对现有技术中存在的问题,本专利技术提供一种切片电池参考片的标定方法,解决了目前没有切片电池参考片的问题。一种切片电池参考片的标定方法,包括如下步骤:通过QE测试得到整片电池片的绝对光谱响应,将整片电池片的绝对光谱响应与AM1.5光谱进行积分,得到整片电池片的短路电流;通过QE测试得到切片电池片的绝对光谱响应,将切片电池片的绝对光谱响本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种切片电池参考片的标定方法,其特征在于,包括如下步骤:通过QE测试得到整片电池片的绝对光谱响应,将整片电池片的绝对光谱响应与AM1.5光谱进行积分,得到整片电池片的短路电流;通过QE测试得到切片电池片的绝对光谱响应,将切片电池片的绝对光谱响应与AM1.5光谱进行积分,得到切片电池片的短路电流;采用电池片检测机台对所述整片电池片进行测试,调节电池片检测机台的光强,使测得的短路电流与所述整片电池片的短路电流相同,将此时电池片检测机台的光强作为测试所述整片电池片的标准光强;将切片电池片和假片连接,得到假整片;所述假整片的形状与所述整片电池片的形状相同;将所述假整片放入电池片检测机台中,电池片检...

【技术特征摘要】
1.一种切片电池参考片的标定方法,其特征在于,包括如下步骤:通过QE测试得到整片电池片的绝对光谱响应,将整片电池片的绝对光谱响应与AM1.5光谱进行积分,得到整片电池片的短路电流;通过QE测试得到切片电池片的绝对光谱响应,将切片电池片的绝对光谱响应与AM1.5光谱进行积分,得到切片电池片的短路电流;采用电池片检测机台对所述整片电池片进行测试,调节电池片检测机台的光强,使测得的短路电流与所述整片电池片的短路电流相同,将此时电池片检测机台的光强作为测试所述整片电池片的标准光强;将切片电池片和假片连接,得到假整片;所述假整片的形状与所述整片电池片的形状相同;将所述假整片放入电池片检测机台中,电池片检测机台在所述标准光强下检测切片电池片,得到切片电池片的开路电压和填充因子。2.如权利要求1所述的切片电池参考片的标定方法,其特征在于,所述QE测试中,测量的光斑等于或大于电池片的面积。3.如权利要求1所述的切片电池参考片的标定方法,其特征在于,在采用电池片检测机台在标准光强下检测切片电池片之前,调整电池片检测机台上的探针排布,使电池片检测机台上探针的排布与整片电池的形状匹配。4.如权利要求3所述的切片电池参考片...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨飞王建波戴小俊朱琛吕俊
申请(专利权)人:泰州隆基乐叶光伏科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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