数字测量仪器制造技术

技术编号:19421016 阅读:24 留言:0更新日期:2018-11-14 09:21
本发明专利技术公开了数字测量仪器。数字测量仪器具有优异的环境耐久性和至少常规的可用性水平。数字卡尺包括主标尺(11);相对于主标尺(11)可移动的滑块(13);位移检测器,其配置为检测滑块(13)相对于主标尺(11)的位移或位置;和控制电路单元(100)。控制电路单元(100)包括模式改变控制单元(110),其配置为控制正常测量模式和原点设定模式之间的改变。模式改变控制单元(110)包括第一区域设定存储单元(111),其配置为设定并存储第一区域,第一区域是在测量范围之外的预设的预定范围。模式改变控制单元(110)配置为在检测到滑块(13)在第一区域内停止了连续预定时间段的情况下将操作模式从正常测量模式改变到原点设定模式。另外,数字卡尺不具有机械按钮开关(15)。

【技术实现步骤摘要】
数字测量仪器
本专利技术涉及一种数字测量仪器。
技术介绍
测量时由用户的手握住的测量仪器比如卡尺、千分尺和千分表(测试指示器)是已知的。一个这样的例子是图1所示的传统数字卡尺。数字卡尺10具有包括测量爪12的主标尺(固定构件)11、能够沿着主标尺11移动的滑块(移动构件)13、与滑块13一体地沿着主标尺11移动的深度杆16、以及配置为检测滑块13相对于主标尺11的位移量的编码器(位移检测器)17。编码器17包括标尺18和检测头19,检测头19配置为检测相对于标尺18的位移(或位置)。标尺18设置在主标尺11上,检测头19设置在滑块13上。另外,主标尺11的后表面设置有沿纵向方向的凹槽(未示出)。深度杆16容纳在凹槽中。深度杆16配置为当滑块13移动时从主标尺11的端部突出。滑块13包括配置为数字地显示信息比如由编码器17检测到的测量值的显示单元14和布置在显示单元14周围的多个机械按钮开关15。引文列表专利文献专利文献1:JP4516288B专利文献2:JP2015-102457A专利文献3:JP3831218B
技术实现思路
技术问题这种数字测量仪器由于其便携性而在工厂等场所中很有用。然而,在这样的工作环境中存在水、油、灰尘等,使得这样的环境不利于电子设备的使用。鉴于此,在相关技术中,已知具有耐水(油)性的各种数字测量仪器(JP4516288B、JP2015-102457A、JP3831218B)。配置为手动下压的机械按钮开关15在测量仪器的耐水(油)配置中是特别有问题的区域。机械按钮开关15用于各种设定等的操作。然而,机械按钮开关15周围的密封结构需要增加部件数量和处理工时。本专利技术的目的是提供一种具有优异的环境耐久性和至少常规的可用性水平的数字测量仪器。解决问题的手段根据本专利技术的一方面的测量仪器包括:固定构件;相对于所述固定构件可移动的移动构件;位移检测器,其配置为检测所述移动构件相对于所述固定构件的位移或位置;以及控制电路单元;其中,所述控制电路单元包括模式改变控制单元,其配置为控制第一操作模式和第二操作模式之间的改变;所述模式改变控制单元包括第一区域设定存储单元,其配置为设定并存储第一区域,所述第一区域是在测量范围之外的预设的预定范围;并且所述模式改变控制单元配置为在检测到所述移动构件在所述第一区域内停止了连续预定时间段的情况下将操作模式从所述第一操作模式改变为所述第二操作模式。根据本专利技术的一方面的卡尺包括数字卡尺,所述数字卡尺包括:主标尺;相对于所述主标尺可移动的滑块;位移检测器,其配置为检测所述滑块相对于所述主标尺的位移或位置;以及控制电路单元;其中,所述控制电路单元包括模式改变控制单元,其配置为控制第一操作模式和第二操作模式之间的改变;所述模式改变控制单元包括:第一区域设定存储单元,其配置为设定并存储第一区域,所述第一区域是在测量范围之外的预设的预定范围;并且所述模式改变控制单元配置为在检测到所述滑块在所述第一区域内停止了连续预定时间段的情况下将操作模式从所述第一操作模式改变到所述第二操作模式。在本专利技术的实施例中,优选地,所述第二操作模式是原点设定模式;并且所述控制电路单元配置为在所述操作模式改变为所述原点设定模式之后,在检测到检测值停止在测量范围内的相同值达预定时间段的情况下,将来自所述位移检测器的检测值设定为原点。在本专利技术的实施例中,优选的是不设置机械按钮开关。附图说明图1是表示常规数字卡尺的图。图2是表示根据第一实施例的数字卡尺的图。图3是控制电路单元的功能框图。图4是用于描述控制电路单元的操作的流程图。图5是用于描述原点设定模式的操作过程的流程图。图6是表示模式改变操作如何工作的示例的图。具体实施方式现在将参考附图和附图中所示元件的附图标记描述本专利技术的实施例。图2是根据本实施例的数字卡尺30的图。基本结构与图1所示的数字卡尺10相同,因此相应的元件用相同的附图标记表示,并且省略重复的描述。然而,数字卡尺30是无开关的数字卡尺30,其中滑块13没有设置机械按钮开关15。滑块13配备有控制电路单元100。图3是控制电路单元100的功能框图。控制电路单元100是包括中央处理单元(CPU)和存储有预定程序的ROM和RAM的微型计算机,并且配置为综合控制所有无开关数字卡尺30的操作。微型计算机作为下面描述的功能单元通过CPU执行程序而进行操作。控制电路单元100具有模式改变控制单元110、第一区域设定存储单元111、第一判定时间设定存储单元112、测量模式控制单元120、原点设定模式控制单元130、原点存储单元140、计时器150和显示控制单元160。现在将参照下面描述的流程图描述功能单元的详细操作。图4和5是用于描述控制电路单元100的操作的流程图。无开关数字卡尺30不具有配置为打开和关闭电源的机械按钮开关15。因此,优选地提供自动打开功能和自动关闭功能。换句话说,移动滑块13的用户自动打开电源(ST110)。另外,当滑块13静止一段时间时,电源自动关闭(ST150、ST160)。具有这种自动开/关功能的数字卡尺(数字测量仪器)在本领域中是已知的。在电源打开之后(ST110),控制电路单元100从编码器17的检测器头19获取检测值Dp(ST120)。在获取检测值Dp之后,模式改变控制单元110确定检测值Dp是否在第一区域内(ST130),并且根据确定结果来控制改变无开关数字卡尺30的操作模式。接下来,将描述第一区域设定存储单元111。模式改变控制单元110设置有第一区域设定存储单元111。第一区域被预设并且存储在第一区域设定存储单元111中作为预定范围。在本实施例中,第一区域设定成从150.01至155.00的范围。第一区域的值设定成在无开关数字卡尺30的测量范围之外的值。在无开关数字卡尺30的测量范围从0.00mm到150.00mm的示例中,第一区域设定成大于150.00的值。注意,“测量范围”根据测量中使用的日本工业标准JISZ8103:2000术语表定义,4307测量范围定义为“测量的范围并且在误差被抑制的仪器的指定阈值内”,以及例如是在产品规格中指出的一系列值,以确保测量精度。只要编码器17的标尺18设置有测量线,检测器头19检测与标尺18相关的测量范围之外的位移量(或位置)。然而,为了确保测量仪器的测量精度,由于标尺18易受线性膨胀或弯曲的影响,因此对标尺18的长度有限制。卡尺需要“一部分手持”,因此主标尺11的长度可能比需要测量的更长,并且主标尺可能延伸到测量范围之外。当检测值Dp在第一区域之外时(ST130:否),模式改变控制单元110不改变模式,保持在正常测量模式下。换句话说,通过测量模式控制单元120的控制,将检测值Dp作为测量值显示在显示单元14上(ST140)。除非由于特殊的意愿,否则用户不会将滑块13移动到主标尺11的端部。特别是,在卡尺的情况下,将滑块13移动到主标尺11的端部,使得深度杆16从主标尺11的端部突出显著的长度(150mm)。因此,滑块13的位置通常在正常的测量使用期间且未使用时(例如存储时)的测量范围内。当用户想改变模式时,将滑块13移动到测量范围之外,并且将滑块13的位置调节到第一区域内(例如参见图6)。这里,用户可以在观看显示单元14上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量仪器,包括:固定构件;相对于所述固定构件可移动的移动构件;位移检测器,其配置为检测所述移动构件相对于所述固定构件的位移或位置;以及控制电路单元;其中,所述控制电路单元包括:模式改变控制单元,其配置为控制第一操作模式和第二操作模式之间的改变;所述模式改变控制单元包括:第一区域设定存储单元,其配置为设定并存储第一区域,所述第一区域是在测量范围之外的预设的预定范围;并且所述模式改变控制单元配置为在检测到所述移动构件在所述第一区域内停止了连续预定时间段的情况下将操作模式从所述第一操作模式改变为所述第二操作模式。

【技术特征摘要】
2017.04.28 JP 2017-0898311.一种测量仪器,包括:固定构件;相对于所述固定构件可移动的移动构件;位移检测器,其配置为检测所述移动构件相对于所述固定构件的位移或位置;以及控制电路单元;其中,所述控制电路单元包括:模式改变控制单元,其配置为控制第一操作模式和第二操作模式之间的改变;所述模式改变控制单元包括:第一区域设定存储单元,其配置为设定并存储第一区域,所述第一区域是在测量范围之外的预设的预定范围;并且所述模式改变控制单元配置为在检测到所述移动构件在所述第一区域内停止了连续预定时间段的情况下将操作模式从所述第一操作模式改变为所述第二操作模式。2.数字卡尺,包括:主标尺;相对于所述主标尺可移动的滑块;位移检测器,其配置为检测所述滑块相...

【专利技术属性】
技术研发人员:林田秀二
申请(专利权)人:株式会社三丰
类型:发明
国别省市:日本,JP

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