半导体芯片制造技术

技术编号:19366979 阅读:26 留言:0更新日期:2018-11-08 00:37
本实用新型专利技术提供一种能缩小安装面积,并能抑制晶体管的发热的影响的半导体芯片。半导体芯片包括:对第1信号进行放大并输出第2信号的第1晶体管;对第2信号进行放大并输出第3信号的第2晶体管;以及具有平行于由第1方向及第2方向所规定的平面的主面,并形成有第1及第2晶体管的半导体基板,主面上设有:与第1晶体管的集电极或漏极相连接的第1凸点;与第1晶体管的发射极或源极相连接的第2凸点;与第2晶体管的集电极或漏极相连接的第3凸点、及与第2晶体管的发射极或源极相连接的第4凸点,在俯视主面时,第1凸点呈圆形,第2、第3及第4凸点呈矩形或椭圆形,第2、第3及第4凸点的面积比第1凸点的面积要大。

【技术实现步骤摘要】
半导体芯片
本技术涉及半导体芯片。
技术介绍
作为将半导体芯片安装于基板的方法之一,具有使用了凸点的倒装芯片技术。倒装芯片技术一般而言,具有与引线接合相比能缩小安装面积的优点。
技术实现思路
技术所要解决的技术问题这里,例如在移动电话等移动通信设备中使用功率放大电路。功率放大电路中用于放大功率的晶体管具有温度特性。因此,若晶体管因放大动作而发热,则晶体管的特性会因温度的上升而产生变动。若在上述功率放大电路中使用上述倒装芯片技术,则会具有如下问题:虽然安装面积有所缩小,但未充分进行散热,对晶体管的特性产生影响。本技术是鉴于上述情况而完成的,其目的在于,提供一种能缩小安装面积,并能抑制晶体管发热的影响的半导体芯片。解决技术问题所采用的技术方案为了达成上述目的,本技术的一个侧面所涉及的半导体芯片包括:对第1信号进行放大并输出第2信号的第1晶体管;对第2信号进行放大并输出第3信号的第2晶体管;以及具有平行于由第1方向及与第1方向交叉的第2方向所规定的平面的主面,并形成有第1晶体管及第2晶体管的半导体基板,半导体基板的主面上设有:与第1晶体管的集电极或漏极电连接的第1凸点;与第1晶体管的发射极或源极电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体芯片,其特征在于,包括:对第1信号进行放大并输出第2信号的第1晶体管;对所述第2信号进行放大并输出第3信号的第2晶体管;以及具有平行于由第1方向及与所述第1方向交叉的第2方向所规定的平面的主面,并形成有所述第1晶体管及所述第2晶体管的半导体基板,所述半导体基板的所述主面上设有:与所述第1晶体管的集电极或漏极电连接的第1凸点;与所述第1晶体管的发射极或源极电连接的第2凸点;与所述第2晶体管的集电极或漏极电连接的第3凸点;以及与所述第2晶体管的发射极或源极电连接的第4凸点,俯视所述半导体基板的所述主面时,所述第1凸点呈圆形,所述第2凸点、所述第3凸点及所述第4凸点呈矩形或椭圆形,所述...

【技术特征摘要】
2017.01.27 US 62/451,1631.一种半导体芯片,其特征在于,包括:对第1信号进行放大并输出第2信号的第1晶体管;对所述第2信号进行放大并输出第3信号的第2晶体管;以及具有平行于由第1方向及与所述第1方向交叉的第2方向所规定的平面的主面,并形成有所述第1晶体管及所述第2晶体管的半导体基板,所述半导体基板的所述主面上设有:与所述第1晶体管的集电极或漏极电连接的第1凸点;与所述第1晶体管的发射极或源极电连接的第2凸点;与所述第2晶体管的集电极或漏极电连接的第3凸点;以及与所述第2晶体管的发射极或源极电连接的第4凸点,俯视所述半导体基板的所述主面时,所述第1凸点呈圆形,所述第2凸点、所述第3凸点及所述第4凸点呈矩形或椭圆形,所述第2凸点、所述第3凸点及所述第4凸点的面积分别比所述第1凸点的面积要大。2.如权利要求1所述的半导体芯片,其特征在于,所述半导体基板的所述主面是具有与所述第1方向平行的第1边及第2边的矩形,所述第3凸点以其长边方向与所述第1方向大致平行的方式配置于所述第1边的附近。3.如权利要求2所述的半导体芯片,其特征在于,在所述半导体基板的所述主面上的所述第2边的附近还设有第5凸点,俯视所述半导体基板的所述主面时,所述第5凸点呈圆形,所述第3凸点的面积比所述第5凸点的面积要大,所述第3凸点的长边方向的长度比所述第4凸点的长边方向的长度要短。4.如权利要求2或3所述的半导体芯片,其特征在于,所述第3凸点包含单独形成的第1部分及第2部分,所述半导体基板的所述主面上还设有与滤波...

【专利技术属性】
技术研发人员:嶋本健一
申请(专利权)人:株式会社村田制作所
类型:新型
国别省市:日本,JP

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