【技术实现步骤摘要】
热处理设备及其热处理方法
本专利技术涉及半导体制造
,尤其涉及一种热处理设备及其热处理方法。
技术介绍
在现有的半导体制造工艺中,在对晶圆(Wafer)进行离子注入之后,通常采用热处理工艺,对离子注入导致的晶格缺陷进行修复,以规则排列晶格。具体地,通常在热处理设备中设置热处理灯,在放置晶圆至热处理腔体后,加大功率将热处理灯从非工作状态(Idle)升温至工作状态,例如从200摄氏度左右升温至1050摄氏度,待热处理结束后,再通过降低功率或冷却气体的流动等方法,对所述热处理腔室进行降温。随着半导体尺寸的逐步减小,需要更加精准地控制热处理的高温工艺,对设备(例如热处理灯)复杂度的要求大大增加。具体而言,从浸入式退火(SoakAnnealing)、快速升温退火(RapidThermalAnnealing,RTA)、尖峰式退火(SpikeAnnealing)、激光退火(LaserAnnealing)至毫秒级快速热退火(MescAnnealing),高温作业时间从数十秒降低至毫秒级。亟需一种热处理设备,能够实现对高温作业时间的精确控制。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问 ...
【技术保护点】
1.一种热处理设备,所述热处理设备包括热处理腔体、热处理灯、用于放置晶圆的晶圆基座,其特征在于,还包括:遮光板,设置于所述热处理腔体内;遮光板控制部件,与所述遮光板耦接,所述遮光板控制部件带动所述遮光板移动至预设隔离位置,以阻隔所述热处理灯对所述晶圆的热辐射,或者带动所述遮光板移动至离开所述预设隔离位置,以使所述晶圆接受所述热处理灯的热辐射,所述预设隔离位置位于所述热处理灯和晶圆基座之间。
【技术特征摘要】
1.一种热处理设备,所述热处理设备包括热处理腔体、热处理灯、用于放置晶圆的晶圆基座,其特征在于,还包括:遮光板,设置于所述热处理腔体内;遮光板控制部件,与所述遮光板耦接,所述遮光板控制部件带动所述遮光板移动至预设隔离位置,以阻隔所述热处理灯对所述晶圆的热辐射,或者带动所述遮光板移动至离开所述预设隔离位置,以使所述晶圆接受所述热处理灯的热辐射,所述预设隔离位置位于所述热处理灯和晶圆基座之间。2.根据权利要求1所述的热处理设备,其特征在于,所述遮光板的材料选自:石英、陶瓷、多晶氧化铝、多晶氧化锆、表面镀有硅膜的多晶氧化铝以及表面镀有硅膜的多晶氧化锆。3.根据权利要求1所述的热处理设备,其特征在于,所述遮光板朝向所述热处理灯的一侧具有反射材料层。4.根据权利要求1所述的热处理设备,其特征在于,所述遮光板控制部件包括:可相对移动的第一支架与第二支架,所述遮光板固定于所述第一支架,所述第二支架固定于所述热处理腔体内;第一电磁铁与第二电磁铁,所述第一电磁铁固定于所述第一支架,所述第二电磁铁固定于所述第二支架;电磁铁控制器,用于控制所述第一电磁铁和第二电磁铁相互吸引,以带动所述第一支架向所述第二支架移动,或者控制所述第一电磁铁和所述第二电磁铁相互排斥,以带动所述第一支架远离所述第二支架。5.根据权利要求4所述的热处理设备,其特征在于,所述第二支架具有滑槽,所述第一支架沿所述滑槽相对于所述第二支架移动。6.根据权利要求1所述的热处理设备,其特征在于,还包...
【专利技术属性】
技术研发人员:邱宇航,周颖,倪明明,洪纪伦,吴宗祐,林宗贤,
申请(专利权)人:德淮半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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