一种测试方法及测试设备技术

本申请属于测试技术领域，提供了一种测试方法及测试设备，所述方法包括：获取待测试样品的测试点的坐标；根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。省去了多个测试点之间移动的时间，提高点测效率。并且本方法无需硬件的改进，操作方便、实现简单，适应面广，具有较强的易用性和实用性。 1

A test method and test equipment

The present application belongs to the field of test technology and provides a test method and a testing device. The method includes: obtaining the coordinates of the test points of the sample to be tested; testing the coordinates of the coordinates of the test points of the tested sample to the coordinates of the coordinates of the test points, and obtaining the first test results; The first test results are not in the predetermined range, then the position of the coordinates of the test points is re tested, and the second test results are obtained; after the second test results are obtained, the probe is driven by the preset test mode to the next test point in the tested sample. It eliminates the time between multiple test points and improves the efficiency of point measurement. Moreover, this method does not require hardware improvements, and is easy to operate, simple to implement, and has wide adaptability. One

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法及测试设备
本申请属于测试
，尤其涉及一种测试方法及测试设备。
技术介绍
在液晶面板或者LED芯片制程中，需要对液晶面板中的像素单元或者LED的晶粒进行点测，以确定该像素单元或者晶粒是否正常，若异常，后续对该异常像素单元进行修复或者将制程异常的晶粒剔除。现有的点测方式为对液晶面板中的所有像素单元或者经过激光切割的LED圆片中所有的晶粒进行点测，点测结束后，按照制程中预设的SPC(StatisticalProcessControl)量测规格上下限设定点测规格，将超出点测规格上下限的像素单元或者晶粒设为像素单元或者异常晶粒，但是由于测试设备在点测过程中有可能是因为测试设备造成的点测异常(例如探针扎偏，未扎在测试点或者电极上)，而非制程异常，这就需要根据首次点测记录的坐标重新点测所有首次点测超出规格上下限的异常像素单元或者晶粒，以确定该像素单元或者晶粒是点测异常还是制程异常。重新点测异常像素单元或者晶粒的过程需要机械臂按照异常像素单元或者晶粒的测量顺序重新进行一次测量，浪费点测时间，点测效率低。
技术实现思路
鉴于此，本申请提供一种测试方法及测试设备，省去多个测试点之间移动的时间，提高点测效率。本申请提供一种测试方法，所述方法包括：获取待测试样品的测试点的坐标；根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；判断所述第一测试结果是否在预定范围内；若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。本申请还提供一种测试设备，所述测试设备包括：测试点坐标获取模块，用于获取待测试样品的测试点的坐标；第一测试结果获取模块，用于根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；判断模块，用于判断所述第一测试结果是否在预定范围内；第二测试结果获取模块，若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；处理模块，用于获取所述点位的第二测试结果，并根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个点位进行测试。本申请还提供一种测试方法，包括：获取待测试样品的测试点的坐标；根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；判断所述第一测试结果是否在预定范围内；若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试；所述预设的测试方式为驱动探针根据当前的位置按照预设步长从当前测试点步进到下一个测试点；若连续检测到所述第二测试结果不在所述预定范围内的测试点的数量大于预设数量，则发出第一提醒信息用于提醒所述待测试样品异常。本申请还提供一种测试设备，所述测试设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现本申请提供一种测试方法的步骤。本申请还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质可以是非易失性的，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序在被一个或多个处理器读取并执行时可实现上述提供的一种测试方法的步骤。本申请获取待测试样品的测试点的坐标；根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。省去了多个测试点之间移动的时间，提高点测效率。并且本方法无需硬件的改进，操作方便、实现简单，适应面广，具有较强的易用性和实用性。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本申请一实施例提供的测试方法的示意流程图；图2是本申请一实施例提供的测试设备的示意框图；图3是本申请又一实施例提供的测试设备的示意框图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。还应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。为了说明本申请所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。在本申请实施例中的测试设备表示通过以下所述方法对待测试样品进行测试的设备。并不用于限制现有的以点测机命名的测试设备。本领域技术人员应对本申请实施例中的测试设备做广义的理解。参见图1，图1是本申请实施例一提供的测试方法的示意流程图，如图所示该方法可以包括以下步骤：步骤S101，获取待测试样品的测试点的坐标.在本申请实施例中，所述待测试样品是指需要通过测试设备测试的样品。例如，在封装组立之前的液晶面板模块、LED圆片、LED晶粒等。所述测试点是指测试时探针需要接触的位置，通常并不限制于某一个点，而是在某一个范围内。测试点的坐标是指在这个范围内的一个坐标，为了保证探针在测试的时候不会因为机械移动的误差造成扎偏，尽量保证测试点的坐标在这个范围内居中的位置。测试点可以是液晶面板中每个像素单元的外引线、LED中每个晶粒的电极等，测试点的坐标对应的指不超出液晶面板中每个像素单元的外引线范围或者不超出晶粒电极范围，通常测试点的坐标是指外引线或者电极范围内居中的点的坐标。液晶面板每个像素单元或者LED晶粒都是阵列排列的。所以在测试时，可以设定(0,0)点的位置、步长等，根据设定的步长值获得待测试样品中的所有测试点的坐标。步骤S102，根据所述待测试样品的测试点的坐标本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：获取待测试样品的测试点的坐标；根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；判断所述第一测试结果是否在预定范围内；若所述第一测试结果不在预定范围内，则重新对所述测试点的坐标对应的位置进行测试，获得第二测试结果；在获得第二测试结果之后，根据预设的测试方式驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的测试方式为驱动探针根据当前的位置按照预设步长从当前测试点步进到下一个测试点。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：若连续检测到所述第二测试结果不在所述预定范围内的测试点的数量大于预设数量，则发出第一提醒信息用于提醒所述待测试样品异常。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：若所述第一测试结果在预定范围内，则上传所述第一测试结果至服务器；若所述第一测试结果不在预定范围内，则在获得第二测试结果之后，上传所述第一测试结果和所述第二测试结果至服务器，或上传所述第二测试结果至服务器。5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，在获得第一测试结果之后，还包括：若所述测试点的第一测试结果在预定范围内，则驱动探针至所述待测试样品中的下一个测试点进行测试。6.一种测试设备，其特征在于，包括：测试点坐标获取模块，用于获取待测试样品的测试点的坐标；第一测试结果获取模块，用于根据所述待测试样品的测试点的坐标驱动探针至所述测试点的坐标对应的位置进行测试，并获得第一测试结果；判断模块，用于判断所述第一测试结果是否在预定范围内；第二测试结果获取...

【专利技术属性】
技术研发人员：何怀亮，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44