一种检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种检测装置及检测方法，检测控制单元控制电流源与各检测线分时导通，并仅在一条检测线与电流源导通时，控制该检测线与检测输出单元导通，以使检测输出单元根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的检测线上的电压，向数据处理单元输出与导通的检测线对应的检测信号。数据处理单元根据各检测线对应的检测信号，确定各检测线对应的充电时间，根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各检测线对应的充电时间比值，从而在对像素进行外部补偿时，可以根据各条检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各检测线对应的数据电压进行调整，以提高外部补偿计算得到的数据电压的精确度，提高画面显示效果。 1

A detection device and detection method

The invention discloses a detection device and a detection method. The detection control unit controls the current source and the detection lines, and controls the detection line and the detection output unit only when the detection line is connected with the current source, so that the detection output unit is based on the first reference voltage, the second reference voltage and the conduction. The voltage on the detection line outputs to the data processing unit the detection signal corresponding to the detected line. According to the detection signals corresponding to each detection line, the data processing unit determines the charging time corresponding to each detection line. According to the determined charging time and the predetermined charging time threshold, the ratio of charge time corresponding to each detection line is determined, so that when the pixel is compensated, it can be charged according to the corresponding charge of the detection lines. In order to improve the accuracy of the data voltage obtained by external compensation and improve the display effect of the screen, the ratio of the inter compensation to the predetermined ratio is adjusted to adjust the data voltage corresponding to the detection lines obtained by the external compensation. One

【技术实现步骤摘要】
一种检测装置及检测方法
本专利技术涉及显示
，特别涉及一种检测装置及检测方法。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLightEmittingDiode，OLED)、量子点发光二极管(QuantumDotLightEmittingDiodes，QLED)等电致发光二极管具有自发光、低能耗等优点，是当今电致发光显示面板应用研究领域的热点之一。目前，电致发光二极管一般属于电流驱动型，需要稳定的电流来驱动其发光，因此一般采用像素电路来驱动电致发光二极管发光。现有的像素电路如图1所示，一般包括：驱动晶体管T1、开关晶体管T2以及存储电容Cst。该像素电路通过控制开关晶体管T2打开以将数据信号端Data的数据电压写入驱动晶体管T1的栅极，控制驱动晶体管T1产生工作电流以驱动电致发光二极管L发光。然而随着使用时间的增加，驱动晶体管T1会出现老化等情况，导致驱动晶体管T1的特性，例如阈值电压与迁移率发生漂移，从而会造成显示亮度差异。为了保证显示质量，可以通过外部补偿的方式对驱动晶体管的阈值电压和迁移率进行补偿。如图1所示，还需要在电致发光显示面板中设置检测线SL以及在像素电路中设置连接于驱动晶体管T1与检测线SL之间的检测晶体管T3。其中，在对电致发光显示面板中的像素进行补偿时，通过控制像素中的像素电路对检测线SL充电，再通过检测该检测线SL上的电压，并根据检测到的计算流经驱动晶体管T1的电流大小以进行补偿计算，得到该像素对应的用于显示的数据电压。然而，由于电致发光显示面板还具有多种信号线和膜层，使得检测线与其他信号线和膜层之间存在寄生电容，在外部补偿时需要用到该寄生电容值。由于工作制备原因，不同检测线的寄生电容值也不尽相同。从而在外部补偿时，由于不同检测线的寄生电容值之间存在差异，导致补偿计算得到的数据电压不准确，影响画面显示效果的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种检测装置及检测方法，用以解决现有技术中由于不同检测线的寄生电容值之间的差异，导致补偿计算得到的数据电压不准确，影响画面显示效果的问题。因此，本专利技术实施例提供了一种检测装置，所述检测装置包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；所述检测控制单元用于在预设检测阶段中，控制所述电流源与电致发光显示面板中的各检测线分时导通；针对一条检测线，仅在所述检测线与所述电流源导通时，控制所述检测线与所述检测输出单元导通；所述检测输出单元用于仅在与一条检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的所述检测线上的电压，向所述数据处理单元输出与导通的所述检测线对应的检测信号，以及在与导通的所述检测线断开时进行复位；其中，所述检测信号具有第一电位信号和第二电位信号；所述数据处理单元用于接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值，并在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整；以及在所述预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测装置中，所述检测控制单元包括：第一开关以及与各所述检测线一一对应的第二开关；各所述第二开关的第一端分别与对应的检测线电连接，各所述第二开关的第二端均与所述第一开关的第一端以及所述电流源电连接；所述第一开关的第二端与所述检测输出单元电连接。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测装置中，所述检测输出单元包括：积分运算放大器、比较器以及第三开关；所述积分运算放大器的正相输入端用于接收所述第一参考电压，负相输入端分别与所述检测控制单元以及所述第三开关的第一端电连接，输出端分别与所述第三开关的第二端以及所述比较器的第一输入端电连接；所述比较器的第二输入端用于接收所述第二参考电压，所述比较器的输出端与所述数据处理单元电连接，用于输出所述检测信号。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测装置中，各所述像素包括像素电路；所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测装置中，所述数据处理单元包括：处理器：所述处理器的输入端与所述检测输出单元电连接，用于接收所述检测信号。相应地，本专利技术实施例还挺了一种显示装置，包括电致发光显示面板与本专利技术实施例提供的上述任一种检测装置。可选地，在本专利技术实施例提供的上述显示装置中，所述显示装置还包括：源极驱动芯片；所述检测装置中的检测控制单元与检测输出单元设置于所述源极驱动芯片中。相应地，本专利技术实施例还提供了一种本专利技术实施例提供的上述任一种检测装置的检测方法，包括：在预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开；控制电流源与各所述检测线分时导通，确定各所述检测线对应的检测信号；其中，针对一条检测线，所述检测控制单元仅控制所述检测线与所述电流源以及所述检测输出单元导通；所述检测输出单元在与所述检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及所述检测线上的电压输出所述检测线对应的检测信号；所述检测输出单元在所述电流源与所述检测线断开时进行复位；接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，并根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值；在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测方法中，所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整，具体包括：针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测方法中，所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整，具体包括：针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压。本专利技术有益效果如下：本专利技术实施例提供了的检测装置及检测方法，包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：电流源、检测控制单元、检测输出单

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：电流源、检测控制单元、检测输出单元，数据处理单元；所述检测控制单元用于在预设检测阶段中，控制所述电流源与电致发光显示面板中的各检测线分时导通；针对一条检测线，仅在所述检测线与所述电流源导通时，控制所述检测线与所述检测输出单元导通；所述检测输出单元用于仅在与一条检测线导通时，根据第一参考电压、第二参考电压以及导通的所述检测线上的电压，向所述数据处理单元输出与导通的所述检测线对应的检测信号，以及在与导通的所述检测线断开时进行复位；其中，所述检测信号具有第一电位信号和第二电位信号；所述数据处理单元用于接收各所述检测线对应的检测信号，并根据接收的检测信号，确定各所述检测线对应的充电时间，以及根据确定出的充电时间与预设充电时间阈值，确定各所述检测线对应的充电时间比值，并在对所述有机发光显示面板中的像素进行外部补偿时，根据各所述检测线对应的充电时间比值与预设比值，对外部补偿得到的各所述检测线对应的数据电压进行调整；以及在所述预设检测阶段中，控制所述电致发光显示面板中的各所述像素与对应的检测线断开。2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测控制单元包括：第一开关以及与各所述检测线一一对应的第二开关；各所述第二开关的第一端分别与对应的检测线电连接，各所述第二开关的第二端均与所述第一开关的第一端以及所述电流源电连接；所述第一开关的第二端与所述检测输出单元电连接。3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测输出单元包括：积分运算放大器、比较器以及第三开关；所述积分运算放大器的正相输入端用于接收所述第一参考电压，负相输入端分别与所述检测控制单元以及所述第三开关的第一端电连接，输出端分别与所述第三开关的第二端以及所述比较器的第一输入端电连接；所述比较器的第二输入端用于接收所述第二参考电压，所述比较器的输出端与所述数据处理单元电连接，用于输出所述检测信号。4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，各所述像素包括像素电路；所述像素电路中的驱动晶体管为N型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小于所述预设比值时，减小所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；在所述检测线对应的充电时间比值大于所述预设比值时，增加所述外部补偿得到的所述检测线对应的数据电压；所述像素电路中的驱动晶体管为P型晶体管，所述数据处理单元具体用于针对每一条检测线，在所述检测线对应的充电时间比值小...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋琛，王糖祥，高展，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11