集成电路直流参数I-V曲线测试系统技术方案

本发明专利技术公开了集成电路直流参数I‑V曲线测试系统，包括测试模块、USB2.0通讯模块、主控模块、显示模块、报表生成模块、ACCESS数据库管理模块和自检和校准软件模块，所述测试模块检测的数据信息通过USB2.0通讯模块传输到主控模块，本发明专利技术集成电路I‑V曲线测试系统釆用USB2.0通讯协议与主机通讯，测试通道最高配置可达2048个，每个通道可配置地、两种电源和引脚信号测试四种模式，主机应用程序为多文档界面，支持Windows XP和Windows 7系统，通用直流参数如静态工作电流、输入引脚的漏电流、引脚的开短路、引脚之间的阻抗分析和IV曲线的测试功能做成测试模块，用户只要在相应的配置界面配置好测试条件就能测试，用户模式在技术人员熟悉DLL函数后可灵活的编程测试逻辑功能。

I-V curve test system for DC parameter of integrated circuit

The invention discloses an integrated circuit DC parameter I V curve test system, including test module, USB2.0 communication module, master control module, display module, report generation module, ACCESS database management module and self-examination and calibration software module. The data information of the test module is transmitted to the master control through the USB2.0 communication module. The I V curve test system uses the USB2.0 communication protocol to communicate with the host, the maximum configuration of the test channel is up to 2048, each channel can be configured, two kinds of power and pin signals are tested in four modes. The host application is a multi document interface and supports the Windows XP and Windows 7 system. Flow parameters such as static working current, leakage current of pin, pin opening short circuit, impedance analysis between pins and testing function of IV curve are made into test modules. The user can be tested by configuring the test conditions at the corresponding configuration interface. The user mode is flexible in programming testing logic after the technician is familiar with the DLL function. Edit function.

【技术实现步骤摘要】
集成电路直流参数I-V曲线测试系统
本专利技术涉及集成电路直流测试
，具体为集成电路直流参数I-V曲线测试系统。
技术介绍
随着集成电路工艺和技术的发展，芯片系统集成发展趋势越来越复杂和庞大，引脚也越来越多达到成百上千，给芯片测试带来了更大的测试难度和挑战。而市场上的中低端测试设备的测试通道都小于256个通道，而高端测试设备通道配置可达2048个，但是价格高达百万美金以上，测试编程复杂，都要专业人士，这样测试费用高，测试时间长。并且高端测试设备全是欧美和日本研发生产，中低端测试设备国内虽有生产，但相对欧美和日本的中低端测试设备明显存在设备落后，升级换代缓慢，市场占有率极低。为提升国内的测试设备自主开发水平，减少和摆脱对国外测试设备的依赖，提高测试效率，减少测试成本，促进国内集成电路产业链的发展。因此，设计一种新型集成电路直流参数I-V曲线测试系统是很有必要的。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供集成电路直流参数I-V曲线测试系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：集成电路直流参数I-V曲线测试系统，包括测试模块、USB2.0通讯模块、主控模块、显示模块、报表生成模块、ACCESS数据库管理模块和自检和校准软件模块，所述测试模块检测的数据信息通过USB2.0通讯模块传输到主控模块，所述主控模块电性连接显示模块、报表生成模块、ACCESS数据库管理模块和自检和校准软件模块。根据上述技术方案，所述测试模块包括引脚开短路测试模块、输入引脚漏电流测试模块、用户模式测试模块、静态电流测试模块和IV曲线测试模块。根据上述技术方案，所述引脚开短路测试模块包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，所述矩阵开关模块包括若干个子模块，且每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，所述矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，所述矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接，所述矩阵开关芯片的电源输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的接地端设有一个稳压电容。根据上述技术方案，所述静态电流测试模块包括磁感应式电流传感器、电阻板卡、以及与电阻板卡输出端电连接的上位机，电源通过两根电线为被测模块供电，其中两根电线中任意一根穿过磁感应式电流传感器；所述磁感应式电流传感器输出端与电阻板卡的输入端电连接；所述上位机通过控制电阻板卡实时获取被测模块的瞬态电流值，并根据瞬态电流值得到被测模块的静态电流值。根据上述技术方案，所述主控模块包括USB通讯功能接口电路、FPGA控制电路、DPS电源电路、通道控制电路、SDRAM存储电路、模数转换电路和PMU参数测量电路，所述USB通讯功能接口电路电性连接USB.通讯模块，所数据FPGA控制电路电性连接DPS电源电路、通道控制电路、SDRAM存储电路、模数转换电路和PMU参数测量电路。根据上述技术方案，所述FPGA控制电路包括一个FPGA，所述FPGA配置成32位NIOSII处理器，所述FPGA通过5个IO口与用户交互并控制烧录电压及烧录流程。根据上述技术方案，所述报表生成模块包括设定模块、接收模块、建立模块、标示模块和输出模块，所述设定模块，用于设定报表所需的条件参数、结果参数、结果参数的数值区间及数值区间的表示方法；所述接收模块，用于接收原始数据，该原始数据包括设定的条件参数及结果参数的数值；所述建立模块，用于建立关于设定的条件参数及结果参数的报表，从接收的原始数据中提取设定的条件参数及结果参数的数值，并将提取的条件参数及结果参数的数值导入建立的报表中；所述标示模块，用于应用设定的数值区间的表示方法在建立的报表中标示各个结果参数的数值所属的数值区间，所述输出模块，用于输出标示后的报表至显示设备上显示。与现有技术相比，本专利技术所达到的有益效果是：本专利技术集成电路I-V曲线测试系统釆用USB2.0通讯协议与主机通讯，测试通道最高配置可达2048个，每个通道可配置地、两种电源和引脚信号测试四种模式，主机应用程序为多文档界面，支持WindowsXP和Windows7系统，通用直流参数如静态工作电流、输入引脚的漏电流、引脚的开短路、引脚之间的阻抗分析和IV曲线的测试功能做成测试模块，用户只要在相应的配置界面配置好测试条件就能测试，用户模式在技术人员熟悉DLL函数后可灵活的编程测试逻辑功能，有效提升了使用的方便性，从而提升工作效率。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1是本专利技术的测试系统整体结构方框图；图2是本专利技术的测试模块组成结构方框图；图3是本专利技术的主控模块组成结构方框图；图中：1-测试模块；2-USB2.0通讯模块；3-主控模块；4-显示模块；5-报表生成模块；6-ACCESS数据库管理模块；7-自检和校准软件模块；8-引脚开短路测试模块；9-输入引脚漏电流测试模块；10-用户模式测试模块；11-静态电流测试模块；12-IV曲线测试模块；13-USB通讯功能接口电路；14-FPGA控制电路；15-DPS电源电路；16-通道控制电路；17-SDRAM存储电路；18-模数转换电路；19-PMU参数测量电路。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-3，本专利技术提供技术方案：集成电路直流参数I-V曲线测试系统，包括测试模块1、USB2.0通讯模块2、主控模块3、显示模块4、报表生成模块5、ACCESS数据库管理模块6和自检和校准软件模块7，测试模块1检测的数据信息通过USB2.0通讯模块2传输到主控模块3，主控模块3电性连接显示模块4、报表生成模块5、ACCESS数据库管理模块6和自检和校准软件模块7。根据上述技术方案，测试模块1包括引脚开短路测试模块8、输入引脚漏电流测试模块9、用户模式测试模块10、静态电流测试模块11和IV曲线测试模块12。根据上述技术方案，引脚开短路测试模块8包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，矩阵开关模块包括若干个子模块，且每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接，矩阵开关芯片的电源输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的接地端设有一个稳压电容。根据上述技术方案，静态电流测试模块11包括磁感应式电流传感器、电阻板卡、以及与电阻板卡输出端电连接的上位机，电源通过两根电线为被测模块供电，其中两根电线中任意一根穿过磁感应式电流传感器；磁感应式电流传感器输出端与电阻板卡的输入端电连接；上位机通过控制电阻板卡实时获取被测模块的瞬态电流值，并根据瞬态电流值得到被测模块的静态电流值。根据上述技术方案，主控模块3包括USB通讯功能接口电路13、FPGA控制电路14、DPS电源电路15、通道控制电路16、SDRAM存储电路17、模数转换电路18和PMU参数测量电路19，USB通讯功能接口电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
集成电路直流参数I‑V曲线测试系统，包括测试模块(1)、USB2.0通讯模块(2)、主控模块(3)、显示模块(4)、报表生成模块(5)、ACCESS数据库管理模块(6)和自检和校准软件模块(7)，其特征在于：所述测试模块(1)检测的数据信息通过USB2.0通讯模块(2)传输到主控模块(3)，所述主控模块(3)电性连接显示模块(4)、报表生成模块(5)、ACCESS数据库管理模块(6)和自检和校准软件模块(7)。

【技术特征摘要】
1.集成电路直流参数I-V曲线测试系统，包括测试模块(1)、USB2.0通讯模块(2)、主控模块(3)、显示模块(4)、报表生成模块(5)、ACCESS数据库管理模块(6)和自检和校准软件模块(7)，其特征在于：所述测试模块(1)检测的数据信息通过USB2.0通讯模块(2)传输到主控模块(3)，所述主控模块(3)电性连接显示模块(4)、报表生成模块(5)、ACCESS数据库管理模块(6)和自检和校准软件模块(7)。2.根据权利要求1所述的集成电路直流参数I-V曲线测试系统，其特征在于：所述测试模块(1)包括引脚开短路测试模块(8)、输入引脚漏电流测试模块(9)、用户模式测试模块(10)、静态电流测试模块(11)和IV曲线测试模块(12)。3.根据权利要求2所述的集成电路直流参数I-V曲线测试系统，其特征在于：所述引脚开短路测试模块(8)包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，所述矩阵开关模块包括若干个子模块，且每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，所述矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，所述矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接，所述矩阵开关芯片的电源输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的接地端设有一个稳压电容。4.根据权利要求2所述的集成电路直流参数I-V曲线测试系统，其特征在于：所述静态电流测试模块(11)包括磁感应式电流传感器、电阻板卡、以及与电阻板卡输出端电连接的上位机，电源通过两根电线为被测模块供电，其中两根电线中任意一根穿过磁感应式电流传感器；所述磁感应式电流传感器输出端与电阻板卡的输入端电连接；所述上位机通过控制电阻板卡实时获取被测模块的瞬态...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁卫，
申请(专利权)人：渭南师范学院，
类型：发明
国别省市：陕西,61