一种精密探针测试治具制造技术

技术编号:17771239 阅读:113 留言:0更新日期:2018-04-21 23:41
本实用新型专利技术涉及电子测试技术领域,尤其是一种精密探针测试治具。它包括测试探针、盖板、定位浮动块、导向插板、隔离挡板和开设有导向槽口的探针针座,导向插板沿探针针座的纵向中心线设置于导向槽口内以形成竖向型腔,隔离挡板沿探针针座的横向方向插装于导向卡槽内以形成行程限位腔,测试探针一一贯穿于对应的行程限位腔分布;盖板上开设有用于供每片测试探针的接触端部贯穿分布的第一行程限位口,定位浮动块上开设有若干个用于供测试探针的检测端部贯穿分布的第二行程限位口。本实用新型专利技术在使用过程中只需根据被测物体的不同来更换对应的定位浮动块即可,无需对测试治具进行整体更换,其能够完成对不同样式的各类被测物体的电子测试工作,实现共用化、通用化。

【技术实现步骤摘要】
一种精密探针测试治具
本技术涉及电子测试
,尤其是一种适用于诸如半导体封装检测及手机模组测试等诸多电子测试领域的精密探针测试治具。
技术介绍
随着半导体封装制作工艺及封装技术的快速及多元化发展,针对晶元以及连接器等半导体元件进行测试的特殊需求也日益增加。以对连接器测试为例:利用治具上的探针与连接器上的信号引脚进行精准地接触,从而顺利完成测试,以降低测试的不良率。传统的治具一般是根据不同连接器外形进行具体结构的设计并采用CNC加工工艺进行正反面加工后成型,然而,这种方式在实际生产过程当中都普遍存在如下问题:1、治具是根据不同型号的连接器来设计的,每款治具都需“量身定制”,需要花费较多的人力且耗时长。2、采用CNC加工工艺时,每款治具的生产都对CNC设备作重新编程,在正反面加工时不能精准定位,且针孔一般较小(甚至小于0.15mm),从而在加工过程中时常发生堵孔或残留毛刺现象,报废率极高。3、一直以来,生产一款治具所耗费的人力成本居高不下,加上高昂的原材料成本、极高的报废率,更是拉升了整个测试治具的单价,严重降低了治具在市场上的竞争力。
技术实现思路
针对上述现有技术存在的不足,本技术的目的本文档来自技高网...
一种精密探针测试治具

【技术保护点】
一种精密探针测试治具,其特征在于:它包括若干片测试探针、一沿竖向方向开设有导向卡槽的探针针座、一覆盖于探针针座的导向卡槽的底侧的盖板、一位于探针针座的导向卡槽的顶侧的定位浮动块、一沿探针针座的纵向中心线设置于探针针座的导向卡槽内的导向插板以及若干片沿探针针座的横向方向插装于探针针座的导向卡槽内的隔离挡板;所述导向插板将探针针座的导向卡槽作分隔后形成有两排对称分布且相区隔的竖向型腔,若干片所述隔离挡板将每排竖向型腔作分隔后形成有若干列相区隔的行程限位腔,若干片所述测试探针一一贯穿于对应的行程限位腔分布;所述盖板上且与每片测试探针相对应的位置均开设有一用于供测试探针的接触端部贯穿分布的第一行程限位...

【技术特征摘要】
1.一种精密探针测试治具,其特征在于:它包括若干片测试探针、一沿竖向方向开设有导向卡槽的探针针座、一覆盖于探针针座的导向卡槽的底侧的盖板、一位于探针针座的导向卡槽的顶侧的定位浮动块、一沿探针针座的纵向中心线设置于探针针座的导向卡槽内的导向插板以及若干片沿探针针座的横向方向插装于探针针座的导向卡槽内的隔离挡板;所述导向插板将探针针座的导向卡槽作分隔后形成有两排对称分布且相区隔的竖向型腔,若干片所述隔离挡板将每排竖向型腔作分隔后形成有若干列相区隔的行程限位腔,若干片所述测试探针一一贯穿于对应的行程限位腔分布;所述盖板上且与每片测试探针相对应的位置均开设有一用于供测试探针的接触端部贯穿分布的第一行程限位口,所述定位浮动块上开设有若干个用于供测试探针的检测端部贯穿分布的第二行程限位口。2.如权利要求1所述的一种精密探针测试治具,其特征在于:所述探针针座的导向卡槽的纵向中心线的两端分别开设有一导向卡槽,所述导向插板通过导向卡槽插装于探针针座内。3.如权利要求2所述的一种精密探针测试治具,其特征在于:所述探针针座和导向插板分别为一由注塑成型工艺一体注塑成型的独立结构体。4.如权利要求1所述的一种精密探针测试治具,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯秦武
申请(专利权)人:健坤精密科技深圳有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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