一种芯片的测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种芯片的测试系统，包括控制组件、测试仪和存储器；测试将该待测芯片的ID数据传送到控制组件；控制组件与测试仪连接；控制组件向测试仪发送ID读取控制信号，并接收测试仪传送的待测芯片的ID数据，且将待测芯片的ID数据转换为二进制数据；控制组件根据该二进制数据获取对应的存储器地址，获取该存储器地址存储的测试状态信息。本实用新型专利技术可以判断待测芯片的ID是否出现重复，实现了防重码测试的功能，而且可有效防止芯片的重复测试。

A test system for a chip

The utility model discloses a test system for the chip, including control module, instrument and memory; ID data transfer test of the chip to be tested to control components; control module connected with the test instrument; control components to the tester to send ID read control signals and receives the transmitted data to the ID tester test chip and, to be ID chip data is converted to binary data; control components according to the binary data access memory address of the corresponding test, obtaining state information of the memory address storage. The utility model can judge whether the ID of the chip is repeated, and the function of the weight proof test is realized, and the repeated test of the chip can be effectively prevented.

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的测试系统
本技术涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片的测试系统。
技术介绍
随着科技的快速发展，芯片由于其体积小、数据记录可靠方便等优越性能而得到广泛的使用，如在二代身份证上设置身份识别芯片，在银行卡上设置银行卡芯等。现有技术中，通常通过ID来唯一识别芯片，测试仪器对芯片进行测试时，也仅仅测试芯片各项功能是否正常，并未对测试的芯片的ID进行记录，因此，当出现同样ID的芯片时，现有的测试仪器无法测试出来，容易出现ID重码的情况，这无疑会对芯片的后续使用和安全性能造成极大的影响；同时还容易出现芯片重复测试的情况，影响测试效率。
技术实现思路
基于此，本技术的目的在于，提供一种芯片的测试系统，其具有判断芯片的ID是否出现重复，以及判断芯片是否重复测试的优点。一种芯片的测试系统，包括控制组件、测试仪和存储器；所述测试仪用于接收所述控制组件传送的ID读取控制信号，并获取待测芯片的ID数据，且将该待测芯片的ID数据传送到所述控制组件；所述控制组件与所述测试仪连接；所述控制组件用于向所述测试仪发送ID读取控制信号，并接收所述测试仪传送的待测芯片的ID数据，且将待测芯片的ID数据转换为二进制数据；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片的测试系统，其特征在于，包括控制组件、测试仪和存储器；所述测试仪用于接收所述控制组件传送的ID读取控制信号，并获取待测芯片的ID数据，且将该待测芯片的ID数据传送到所述控制组件；所述控制组件与所述测试仪连接；所述控制组件用于向所述测试仪发送ID读取控制信号，并接收所述测试仪传送的待测芯片的ID数据，且将待测芯片的ID数据转换为二进制数据；所述控制组件还用于根据该二进制数据获取对应的存储器地址，获取该存储器地址存储的测试状态信息；所述存储器与所述测试仪连接，并存储待测芯片的测试状态信息。

【技术特征摘要】
1.一种芯片的测试系统，其特征在于，包括控制组件、测试仪和存储器；所述测试仪用于接收所述控制组件传送的ID读取控制信号，并获取待测芯片的ID数据，且将该待测芯片的ID数据传送到所述控制组件；所述控制组件与所述测试仪连接；所述控制组件用于向所述测试仪发送ID读取控制信号，并接收所述测试仪传送的待测芯片的ID数据，且将待测芯片的ID数据转换为二进制数据；所述控制组件还用于根据该二进制数据获取对应的存储器地址，获取该存储器地址存储的测试状态信息；所述存储器与所述测试仪连接，并存储待测芯片的测试状态信息。2.根据权利要求1所述的芯片的测试系统，其特征在于，所述测试仪包括ID读取装置、指令接收装置、数据传送装置和存储器数据读写装置；所述指令接收装置的输出端与所述ID读取装置的输入端连接；所述数据传送装置的输入端与所述ID读取装置的输出端连接；所述ID读取装置的输入端还与所述存储器的输出端连接；所述存储器数据读写装置的输入端与所述存储器的输出端连接，所述存储器数据读写装置的输出端与所述数据传送装置的输入端连接；所述指令接收装置接收所述控制组件传送的ID读取控制信号，并将所述ID读取控制信号传送到所述ID读取装置；所述ID读取装置接收所述ID读取控制信号，并读取待测芯片的ID数据，且将待测芯片的ID数据传送到所述数据传送装置；所述数据传送装置接收所述待测芯片的ID数据，并将该待测芯片的ID数据传送到所述控制组件；所述存储器数据读写装置接收所述控制组件发送的存储器读取信号，并将存储器地址存储的测试状态信息通过所述数据传送装置传送到所述控制组件。3.根据权利要求2所述的芯片的测试系统，其特征在于，所述控制组件包括指令发送装置、解析装置和数据读取装置；所述解析装置的输出端与所述数据读取装置的输入端连接；所述数据读取装置的输出端与所述指令发送装置的输入端连接；所述指令发送装置向所述测试仪发送I...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘雷，夏群兵，朱道林，
申请(专利权)人：东莞市爱协生智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44