集成电路动态输出性能测定方法、装置和系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种集成电路动态输出性能测定方法，包括以下步骤：获取数字通道板的各个目标基准比较电压值和数字通道板对应输出的集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，目标电平输出错误率与目标基准比较电压一一对应；根据各个目标基准比较电压值和各个电平输出错误率，得到集成电路的基准比较电压动态分布；根据基准比较电压动态分布确定集成电路输出性能。上述的集成电路动态输出性能测定方法将根据多个目标基准比较电压值和多个电平输出错误率得到基准比较电压动态分布(即基准比较电压和错误率的关系)，根据基准比较电压动态分布可以得到集成电路的噪声容限、误码率等参数，测试结果更加准确。

Methods, devices and systems for dynamic output performance measurement of integrated circuits

The invention relates to a method for the determination of the dynamic output performance of an integrated circuit, which comprises the following steps: each datum target acquisition of digital channel plate comparison voltage value of each target output level of integrated circuit and digital channel plate corresponding to the output error rate; the target level of output error rate and benchmark voltage corresponding to the target; according to each target comparison of various level output voltage value and the error rate, get the integrated circuit benchmark dynamic voltage distribution; according to the benchmark dynamic voltage distribution to determine the output performance of integrated circuit. The dynamic performance of the integrated circuit output determination methods based on multiple target reference voltage value comparison and multiple level output error rate benchmark voltage dynamic distribution (relationship between benchmark voltage and error rate), according to the benchmark dynamic voltage distribution can be integrated circuit noise tolerance, bit error rate parameters. The test results are more accurate.

【技术实现步骤摘要】
集成电路动态输出性能测定方法、装置和系统
本专利技术涉及集成电路测定
，特别是涉及一种集成电路输出电平测定方法、装置及系统。
技术介绍
随着集成电路技术的发展，集成电路功能越来越复杂，集成度、工作频率越来越高以及工作电平越来越低，这将导致集成电路对噪声的容限越来越小。然而，集成电路在实际使用过程中，当外界条件发生变化时(例如集成电路的测试电路改变)，集成电路输出电平可能也会发生改变(可能会出现实际输出电平与理论不符)，当集成电路输出电平发生改变时，集成电路的输出性能(例如噪音容限以及误码率)也将发生变化。可见，精确的测定集成电路动态条件下的输出电平状态就显得尤为重要。目前，常用静态测定方法来测定集成电路的输出电平，具体过程为将需要进行测定的集成电路接入自动测试系统的数字通道板中，然后将集成电路的管脚置于高电平输出和低电平输出两个状态(即给需要测定的集成电路输入相应的驱动信号)，分别测定每个状态下电路输出的电平，这种测定方法没有考虑外界寄生电容和电感对器件输出的影响，测定条件与实际条件相差较大，致使输出电平测定结果不准确，从而导致集成电路的性能测定不准确。专利
技术实现思路
基于此，有必本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路动态输出性能测定方法，所述集成电路接入至自动测试系统的数字通道板中，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压一一对应；根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路动态输出性能测定方法，所述集成电路接入至自动测试系统的数字通道板中，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压一一对应；根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。2.根据权利要求1所述的集成电路动态输出方法，其特征在于，在获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板输出的集成电路的各个目标电平输出错误率的步骤中，包括：调节所述数字通道板的基准比较电压值，并获取所述数字通道板对应输出的所述集成电路的电平输出错误率；若当前基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于目标电平输出错误率，则判定当前基准比较电压值为所述目标基准比较电压值。3.根据权利要求2所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，所述基准比较电压包括高电平基准比较电压，所述目标基准比较电压值包括第一高电平目标基准比较电压值、第二高电平目标基准比较电压值以及第三高电平目标基准比较电压值；所述目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率；在调节所述基准比较电压，得到各个所述目标电平输出错误率以及与各个所述目标电平输出错误率新对应的各个所述基准比较电压值的步骤中，包括：逐步增加所述高电平基准比较电压，若当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第一目标电平输出错误率，则判定当前高电平基准电压比较值为所述第一高电平目标基准电压比较值；若所述当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第二目标电平输出错误率，则判定所述当前高电平基准电压比较值为所述第二高电平目标基准电压比较值；若所述当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第三目标电平输出错误率，则判定所述当前高电平基准电压比较值为所述第三高电平目标基准电压比较值。4.根据权利要求3所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，还包括：根据所述第一目标电平输出错误率、第一高电平目标基准比较电压值、所述第二目标电平输出错误率、所述第二高电平目标基准比较电压值、所述第三目标电平输出错误率和第三高电平目标基准比较电压值，得到高电平基准比较电压动态分布。5.根据权利要求2-4任一项所述的集成电路动态输出性能测定方法，其特征在于，所述基准比较电压包括低电平基准比较电压，所述目标基准比较电压值包括第一低电平目标基准比较电压值、第二低电平目标基准比较电压值以及第三低电平目标基准比较电压值；所述目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率；在调节所述基准比较电压，得到各个所述目标电平输出错误率以及与各个所述目标电平输出错误率新对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：师谦，陈辉，肖庆中，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所，
类型：发明
国别省市：广东,44