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本发明涉及一种集成电路动态输出性能测定方法，包括以下步骤：获取数字通道板的各个目标基准比较电压值和数字通道板对应输出的集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，目标电平输出错误率与目标基准比较电压一一对应；根据各个目标基准比较电压值和各个电平...
该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所授权不得商用。

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