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本实用新型公开了一种芯片的测试系统，包括控制组件、测试仪和存储器；测试将该待测芯片的ID数据传送到控制组件；控制组件与测试仪连接；控制组件向测试仪发送ID读取控制信号，并接收测试仪传送的待测芯片的ID数据，且将待测芯片的ID数据转换为二进制...
该专利属于东莞市爱协生智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞市爱协生智能科技有限公司授权不得商用。

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