显示面板检测方法与装置制造方法及图纸

技术编号:17517058 阅读:33 留言:0更新日期:2018-03-21 01:35
本发明专利技术提供一种显示面板检测方法与装置。其中,显示面板检测方法包括依序驱动显示面板的像素电路,以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息;根据多个像素位置信息,对多个像素电荷量进行排列,以产生图文件信息;将图文件信息中的多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整,以产生第一检测信息;将图文件信息中的多个像素电荷量转换并与基准值进行比对,以产生第二检测信息。通过本发明专利技术,以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况,准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。

Display panel detection method and device

The present invention provides a method and device for detecting the display panel. Among them, the display panel detecting method includes sequentially driving pixel circuit of a display panel, in order to obtain a plurality of pixel charge and a plurality of pixel position information; according to the position information of a plurality of pixels, a plurality of pixel charge are arranged to generate map file information; a plurality of pixel charge information in the map file converted to gray level information and carries on the contrast and brightness adjustment, to generate the first detection information; map file information in a plurality of pixel charge conversion and reference value for comparison, to generate second detection information. Through the invention, we can achieve accurate monitoring of failure modes, quickly identify and respond to abnormal production conditions, and accurately deal with manpower cost, abnormal loss cost and opportunity cost of process site and provincial level.

【技术实现步骤摘要】
显示面板检测方法与装置
本专利技术涉及显示面板检测
,尤其涉及一种显示面板检测方法与装置。
技术介绍
随着科技的进步,显示面板以广泛的应用于各种电子产品中,如手机、个人数字助理(PDA)、电视等。一般来说,显示面板在制造完成后都需要进行检测,以确认出显示面板是否有异常现象,而辨别出良品或是不良品。然而,现行显示面板的检测作业,大都仍是仰赖人工处理,也就是透过人为的方式进行检测,会增加许多的人力成本,并且某些异常现象也不是人为可以分别出来的,使得显示面板的生产量率降低。因此,显示面板的检测方式仍有改善的空间。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种显示面板检测方法与装置,以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况,准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。为解决上述问题,本专利技术提供一种显示面板检测方法,包括依序驱动显示面板的像素电路,以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息;根据多个像素位置信息,对多个像素电荷量进行排列,以产生图文件信息;将图文件信息中的多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整,以产生第一检测信息;将图文件信息中的多个像素电荷量转换并与基准值进行比对,以产生第二检测信息。本专利技术另提供一种显示面板检测装置,适于对显示面板进行检测,显示面板具有驱动电路与像素电路,驱动电路与像素电路电性连接,像素电路包括多个像素。显示面板检测装置包括控制单元、感测单元与处理单元。控制单元电性连接驱动电路,控制驱动电路依序驱动像素电路中的多个像素。感测单元,电性连接像素电路,感测多个像素所产生的电荷,以取得多个像素的像素电荷量与多个像素位置信息。处理单元,电性连接控制单元与感测单元,驱动控制单元,并接收多个像素的像素电荷量与多个像素位置信息,以根据像素位置信息,对多个像素电荷量进行排列,以产生图文件信息,且将图文件信息中的多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整,以产生第一检测信息及将图文件信息中的多个像素电荷量转换并与基准值进行比对,以产生第二检测信息。本专利技术所提供的显示面板检测方法与装置,通过依序驱动显示面板的像素电路,以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息,并根据像素位置信息,对像素电荷量进行排列,以产生图文件信息,且将图文件信息中的像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整,以产生第一检测信息以及将图文件信息中的像素电荷量转换并与基准值进行比对,以产生第二检测信息。如此一来,以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况,准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解,构成本申请的一部分,本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1为根据本专利技术一实施例的显示面板检测装置的方块图。图2为根据本专利技术一实施例的显示面板检测方法的流程图。图3为图2的步骤S206的详细流程图。图4为图2的步骤S208的详细流程图。图5为根据本专利技术一实施例的显示面板检测方法的另一流程图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,以下结合附图及具体实施例,对本专利技术作进一步地详细说明。以下所列举的各实施例中,将以相同的标号代表相同或相似的组件或构件。图1为根据本专利技术一实施例的显示面板检测装置的方块图。本实施例的显示面板检测装置100适用于对显示面板190进行检测。其中,显示面板190包括有驱动电路191与像素电路192,驱动电路191与像素电路192电性连接,像素电路192包括多个像素。在本实施例中,显示面板190例如为有源矩阵有机发光二极管(Activematrixorganiclightemittingdiode)显示面板。显示面板检测装置100包括控制单元110、感测单元120与处理单元130。控制单元110电性连接驱动电路191,以控制驱动电路191依序驱动像素电路中的多个像素,以写入电位给像素,使像素对应产生电荷。感测单元120电性连接像素电路192,感测像素电路192中的像素所产生的电荷,以取得多个像素的像素电荷量与像素位置信息。处理单元130电性连接感测单元110与控制单元120,驱动控制单元110对驱动电路191进行控制,并接收像素的像素电荷量与像素位置信息,并根据像素位置信息,对像素的像素电荷量进行排列,以产生图文件信息。也就是说,处理单元130会将像素的像素电荷量根据其对应的像素的位置依序排列,以呈现出与显示面板190显示画面相符的图文件信息。接着,处理单元130将图文件信息中的像素的像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整,以产生第一检测信息。进一步来说,处理单元130将所有的像素电荷量依大小比例转换成对应具有明暗的灰阶信息。也就是说,当处理单元130判断出像素电荷量较大时,则将此像素电荷量转换成较明亮的灰阶。当处理单元130判断出像素电荷量较小时,则将此像素电荷量转换成较暗的灰阶。将所有像素电荷量转换成对应具有明暗的灰阶后,处理单元130还会进一步将灰阶信息中的所有灰阶进行对比及亮度的调整,以产生影像调整信息。也就是说,处理单元130调整所有灰阶的对比及亮度,例如将对比调到最大且亮度调到最亮,或是将对比调到最小且亮度调到最暗,以产生影像调整信息。接着,处理单元130再对影像调整信息进行分析,以找到影像调整信息中的哪些区块有显示不均的现象,并将分析结果作为第一检测信息。如此一来,用户便可根据第一检测信息来得知哪些区块有显示不均的现象,可以实时地反馈此信息给前端的站点,以对应此方式进行除错及修补,以达成精准监控失效模式、快速判断与反应对应生产异常的状况,准确对策制程站点及省下人力成本、异常损失成本与机会成本。当显示面板190的尺寸较大时,显示面板190可能是由多个区块(芯片)所衔接组成,使得某些区块的像素之间有衔接的部分,即像素衔接处。在取得第一检测信息之后,处理单元130会根据第一检测信息,判断画面显示不均处是否为像素衔接处,以便对像素衔接处的影像信息进行优化处理。举例来说,当处理单元130判断出画面显示不均处不是像素衔接处时,即在独立的区块中发生画面显示不均,则处理单元130不进行优化处理。当处理单元130判断出画面显示不均处是像素衔接处时,处理单元130将像素衔接处的影像进行比对再进行优化处理。也就是说,处理单元130发现大多数的像素衔接处所显示的影像都为明显状态,而某一像素衔接处所显示的影像为不明显状态,则处理单元130会将影像为不明型的像素衔接处进行优化处理,也就是将此像素衔接处调整成明显状态,使得显示面板190可呈现较好的画质。接着,处理单元130还具有用户接口,以通过用户接口导入显示面板190设计时的光罩数据,并将第一检测信息与光罩数据进行整合,以确定出显示不均的现象的区块对应于显示面板190的哪个坐标。另外,用户接口还用以供用户导入制程设备指纹、各站点制成分布特性、测试组件群(testelementgroup,TEG)电性检测结果,使得处理单元130可以将第一检测信息与制程设备指纹、各站点制成分布特性、TEG电性检测结果进行比对分析,以产生对应的分析结果,进而提供显示面板在制作过程中在哪个环节(例如哪个站点)出本文档来自技高网...
显示面板检测方法与装置

【技术保护点】
一种显示面板检测方法,其特征在于,包括下列步骤:依序驱动显示面板的像素电路,以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息;根据所述多个像素位置信息,对所述多个像素电荷量进行排列,以产生图文件信息;将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整,以产生第一检测信息;以及将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换并与基准值进行比对,以产生第二检测信息。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板检测方法,其特征在于,包括下列步骤:依序驱动显示面板的像素电路,以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息;根据所述多个像素位置信息,对所述多个像素电荷量进行排列,以产生图文件信息;将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整,以产生第一检测信息;以及将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换并与基准值进行比对,以产生第二检测信息。2.根据权利要求1所述的显示面板检测方法,其特征在于,将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换为灰阶并进行对比及亮度调整,以产生所述第一检测信息的步骤中,还包括下列步骤:将所述多个像素电荷量依大小等比例转换为具有明暗的灰阶信息;对所述灰阶信息进行对比及亮度调整,以产生影像调整信息;以及对所述影像调整信息进行分析,以产生所述第一检测信息。3.据权利要求2所述的显示面板检测方法,其特征在于,产生所述第一检测信息的步骤之后还包括:导入所述显示面板设计时的光罩数据、制程设备指纹、各站点制成分布特性、TEG电性检测结果,并所述第一检测信息与所述光罩数据进行整合以及将所述第一检测信息与所述制程设备指纹、所述各站点制成分布特性、所述TEG电性检测结果进行比对分析,以产生对应的分析结果。4.根据权利要求3所述的显示面板检测方法,其特征在于,还包括导入标准化TEG测试键,且设定所述标准化TEG测试键之间的关联性,再通过所述标准化TEG测试键量测所述显示面板的电性分布特性并进行分析,产生所述TEG电性检测结果,且将所述TEG电性检测结果与所述光罩数据进行分析及比对。5.根据权利要求1所述的显示面板检测方法,其特征在于,将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换并与基准值进行比对,以产生所述第二检测信息的步骤中,还包括下列步骤:将所述多个像素电荷量各自转换成电压值;以及将所述多个电压值与基准值进行比对,取得电压差异信息,并记录电压差异信息及其对应像素的位置,以产生所述第二检测信息。6.根据权利要求5所述的显示面板检测方法,其特征在于,产生所述第二检测信息的步骤之后,还包括下列步骤:将所述像素电路的所述像素进行点亮,取得点亮画面,并对所述点亮画面进行强化处理,以取得点亮强化画面;根据所述点亮画面与所述点亮强化画面,取得所述像素电路的所述像素点亮时的亮度差异信息;以及将所述亮度差异信息与所述第二检测信息中的电压差异信息进行比对,以取得电压补偿信息。7.根据权利要求6所述的显示面板检测方法,其特征在于,取得所述电压补偿信息的步骤之后,还包括下列步骤:将所述电压补偿信息传送到显示面板的芯片,以进行补偿操作。8.根据权利要求5所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述基准值为所述多个电压值中占最多数量的电压值。9.一种显示面板检测装置,适于对显示面板进行检测,所述显示面板具有驱动电路与像素电路,所述驱动...

【专利技术属性】
技术研发人员:黃孟茹
申请(专利权)人:上海自旭光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海,31

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