一种图像坏点校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种图像坏点校正方法及装置，用以解决现有技术中存在的坏点校正精度较低的问题。所述方法具体包括：针对待检测图像，电子设备以所述待检测图像中的第f个像素点为中心像素点建立N*N像素矩阵；所述f为取遍不大于所述待检测图像包括的像素点总数的正整数；所述电子设备将内圈和外圈的每个像素点的颜色分别转换为所述中心像素点的颜色，并分别确定所述每个像素点转换后的像素值；所述电子设备基于所述每个像素点转换后的像素值确定所述中心像素点为坏点，并对所述中心像素点进行校正。

And a device for image defect correction method

【技术实现步骤摘要】
一种图像坏点校正方法及装置
本专利技术涉及图像处理
，特别涉及一种图像坏点校正方法及装置。
技术介绍
由于图像传感器制造工艺所限，图像传感器在长时间、高温环境下面采集的图像坏点会越来越多，导致采集图像质量下降。坏点是指不随感光变化，始终呈现一种颜色(例如白色、黑色或彩色)的像素点，从而破坏了高清图像的清晰度和完整性。目前坏点校正技术有两个类型：静态坏点校正和动态坏点校正。静态坏点校是通过预先确定坏点位置，将坏点位置记录在存储器中，当处理到该位置像素时，进行坏点校正。然而静态坏点校正方法仅能处理传感器固定静止的坏点，但实际情况中，随着硬件发热等问题，会随机出现各种动态坏点，故出现了另一种动态坏点检测方法。动态坏点检测是实时检测当前待校正像素点是否是坏点，如果是则进行坏点校正。目前动态坏点检测通常采用的方法为色差域检测校正，即确定图像中每个像素点的色差值，然后基于每个像素点的色差值进行坏点检测，并在检测出坏点之后基于该坏点相邻像素点的色差值对坏点进行校正。但是，由于色差域空间转换，周围同色通道的原始像素信息也被转换到精度较低的色差域空间，降低了坏点校正的精度。专利
技术实现思路
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【技术保护点】
一种图像坏点校正方法，其特征在于，包括：针对待检测图像，电子设备以所述待检测图像中的第f个像素点为中心像素点建立N*N像素矩阵；所述f为取遍不大于所述待检测图像包括的像素点总数的正整数；所述N为大于1的奇数；所述电子设备将内圈和外圈的每个像素点的颜色分别转换为所述中心像素点的颜色，并分别确定所述每个像素点转换后的像素值；所述内圈为所述N*N像素矩阵中与所述中心像素点相邻的a个像素点；所述外圈为所述N*N像素矩阵中与所述中心像素点间隔一行和/或间隔一列的b个像素点；所述a，b均为大于1的整数；所述电子设备基于所述每个像素点转换后的像素值确定所述中心像素点为坏点，并对所述中心像素点进行校正。

【技术特征摘要】
1.一种图像坏点校正方法，其特征在于，包括：针对待检测图像，电子设备以所述待检测图像中的第f个像素点为中心像素点建立N*N像素矩阵；所述f为取遍不大于所述待检测图像包括的像素点总数的正整数；所述N为大于1的奇数；所述电子设备将内圈和外圈的每个像素点的颜色分别转换为所述中心像素点的颜色，并分别确定所述每个像素点转换后的像素值；所述内圈为所述N*N像素矩阵中与所述中心像素点相邻的a个像素点；所述外圈为所述N*N像素矩阵中与所述中心像素点间隔一行和/或间隔一列的b个像素点；所述a，b均为大于1的整数；所述电子设备基于所述每个像素点转换后的像素值确定所述中心像素点为坏点，并对所述中心像素点进行校正。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备将内圈和外圈的每个像素点的颜色分别转换为所述中心像素点的颜色，并分别确定所述每个像素点转换后的像素值，包括：所述电子设备分别确定所述每个像素点的U色差值以及V色差值；所述电子设备基于所述每个像素点的U色差值确定U色差值均值，并基于所述每个像素点的V色差值确定V色差值均值；针对所述内圈和所述外圈中的每个异色像素点，所述电子设备基于所述每个异色像素点的像素值、所述U色差值均值以及所述V色差值均值确定所述每个异色像素点转换后的像素值；所述异色像素点为所述待检测图像中与所述中心像素点颜色不同的像素点。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备基于所述每个像素点转换后的像素值确定所述中心像素点为坏点，并对所述中心像素点进行校正，包括：所述电子设备确定所述内圈和所述外圈中各个像素点转换后的像素值中的最大值，并在确定所述中心像素点的像素值大于所述最大值，且所述中心像素点的像素值与所述最大值间的差值大于第一阈值时，确定所述中心像素点为坏点；所述电子设备确定至少一个像素对，并分别确定所述至少一个像素对中像素值差值最小的像素对；所述像素对由所述外圈中的与所述中心像素点颜色相同、且以所述中心像素点为对称点对称的两个像素点的像素值所组成；所述电子设备将所述中心像素点的像素值校正为所述像素值差值最小的像素对中的较大值。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备基于所述每个像素点转换后的像素值确定所述中心像素点为坏点，并对所述中心像素点进行校正，包括：所述电子设备确定所述内圈和所述外圈中各个像素点转换后的像素值中的最小值，并在确定所述中心像素点的像素值小于所述最小值，且所述中心像素点的像素值与所述最小值间的差值大于第二阈值时，确定所述中心像素点为坏点；所述电子设备确定至少一个像素对，并分别确定所述至少一个像素对中像素值差值最小的像素对；所述像素对由所述外圈中的与所述中心像素点颜色相同、且以所述中心像素点为对称点对称的两个像素点的像素值所组成；所述电子设备将所述中心像素点的像素值校正为所述像素值差值最小的像素对中的较小值。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述电子设备将内圈和外圈的每个像素点的颜色分别转换为所述中心像素点的颜色，并分别确定所述每个像素点转换后的像素值之前，所述方法还包括：所述电子设备在确定第一像素点的像素值与第二像素点的像素值间的差值大于第三阈值时，将所述第一像素点的像素值修改为所述第二像素点的像素值；所述第一像素点为所述外圈中与所述中心像素点颜色相同且像素值最大的像素点；所述第二像素点为所述外圈中与所述中心像素点颜色相同且像素值次大的像素点；或者所述电子设备在确定第三像素点的像素值与第四像素点的像素值间的差值大于第四阈值时，将所述第三像素点的像素值修改为所述第四像素点的像素值；所述第三像素点为所述外圈中与所述中心像素点颜色相同且像素值最小的像素点；所述第四像素点为所述外圈中与所述中心像素点颜色相同且像素值次小的像素点。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述电子设备将内圈和外圈的每个像素点的颜色分别转换为所述中心像素点的颜色，并分别确定所述每个像素点转换后的像素值之后，所述方法还包括：所述电子设备在确定所述内圈转换后的最大像素值大于全局转换后的次大像素值，且所述内圈转换后的最大像素值与所述全局转换后的次大像素值间的差值大于第五阈值时，将所述内圈转换后的最大像素值修改为所述全局转换后的次大像素值；所述全局包括所述内圈和所述外圈；或者，所述电子设备在确定所述内圈转换后的最小像素值小于所述全局转换后的次小像素值，且所述内圈转换后的最小像素值与所述全局转换后的次小像素值间的差值大于第六阈值时，将所述内圈转换后的最小像素值修改为所述全局转换后的次小像素值；或者，所述电子设备在确定所述内圈转换后的次大像素值大于所述全局转换后的第三大的像素值，且所述内圈转换后的次大像素值与所述全局转换后的第三大的像素值间的差值大于第七阈值时，将所述内圈转换后的次大像素值修改为所述全局转换后的第三大的像素值；或者，所述电子设备在确定所述内圈转换后的次小像素值小于所述全局转换后的第三小的像素值，且所述内圈转换后的次小像素值与所述全局转换后的第三小的像素值间的差值大于第八阈值时，将所述内圈转换后的次小像素值修改为所述全局转换后的第三小的像素值。7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述电子设备将内圈和外圈的每个像素点的颜色分别转换为所述中心像素点的颜色，并分别确定所述每个像素点转换后的像素值之前，所述方法还包括：所述电子设备确定所述N*N像素矩阵中所有绿色G像素点的像素值的方差值，并确定所述方差值大于第九阈值。8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，在所述电子设备确定所述N*N像素矩阵中所有绿色G像素点的像素值的方差值之后，所述方法还包括：所述电子设备确定所述方差值小于或等于所述第九阈值；所述电子设备基于所述外圈中每个同色像素点的像素值确定所述中心像素点为坏点，并对所述中心像素点进行校正，所述同色像素点为所述待检测图像中与所述中心像素点颜色相同的像素点。9.如权利要求1至8任一项所述的方法，其特征在于，在电子设备以所述待检测图像中的第f个像素点为中心像素点建立N*N像素矩阵之前，所述方法还包括：所述电子设备将所述待检测图像分别针对上边界、下边界、左边界、右边界进行镜像翻边处理。10.一种图像坏点校正装置，其特征在于，包括：创建模块，用于针对待检测图像，以所述待检测图像中的第f个像素点为中...

【专利技术属性】
技术研发人员：凌晨，张旦，马鑫，方伟，
申请(专利权)人：浙江大华技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33