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本发明公开了一种图像坏点校正方法及装置，用以解决现有技术中存在的坏点校正精度较低的问题。所述方法具体包括：针对待检测图像，电子设备以所述待检测图像中的第f个像素点为中心像素点建立N*N像素矩阵；所述f为取遍不大于所述待检测图像包括的像素点总...
该专利属于浙江大华技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大华技术股份有限公司授权不得商用。

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