缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片制造方法及图纸

本发明专利技术适用于图像处理技术领域，提供了一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。本发明专利技术，通过自适应门限的缺陷像素点检测，对于非敏感像素点做局部特性的门限值，可以检测出对敏感度低的缺陷像素点。

【技术实现步骤摘要】
缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片
本专利技术属于图像处理
，尤其涉及一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片。
技术介绍
图像传感器在制造过程中，其监视和测量系统需要保证每个像素点都统一、不失真、稳定的图像输出。但是有时会在制造过程中或之后，像素点会产生缺陷，从而出现输出异常电平信号的缺陷像素点。另外，所使用的摄像元件的像素点数有逐年增大的倾向，且伴随着这种倾向，缺陷像素点数目也增大。众所周知，一般的缺陷像素点类型有如下两种：一种类型是热噪点Hotpixels，其像素值因为过激的暗电流导致有较大的偏移；第二种类型是死点Deadpixels，即为敏感度较低的像素,主要有以下三种：（1）显示为图像中的白点；（2）不符合传感器的参数的像素点，如温度和集成时间；(3)相对于周围点表现为暗点；为了减少缺陷像素点对视觉的影响，现有图像处理系统中会加入坏点检测。缺陷点矫正（DefectivePixelCorrection、DPC）的算法一般都是在像素点区域进行检测，以当前像素点与周边像素点的差值与全局门限值之间的差值来判决是否为缺陷点，然后进行纠正。这种做法有如下不足：（1）对于敏感本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。

【技术特征摘要】
1.一种缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。2.根据权利要求1所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述确定该检测像素点为缺陷像素点的步骤之后，还包括：判断所有检测像素点的缺陷标识数量之和是否大于预设缺陷点数量阀值；如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和大于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行均值滤波。3.根据权利要求2所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法还包括：如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和小于或等于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行降噪滤波。4.根据权利要求1所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述以所有检测像素点的像素值计算门限值具体：以N*N个检测像素点的像素值的均值与预设比例系数之积，作为门限值。5.一种缺陷像素点检测装置，其特征在于，所述装置包括：像素点提取单元，用于提取待检测图像的RGB颜...

【专利技术属性】
技术研发人员：旷开智，
申请(专利权)人：建荣半导体深圳有限公司，建荣集成电路科技珠海有限公司，珠海煌荣集成电路科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44