缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片制造方法及图纸

本发明专利技术适用于图像处理技术领域，提供了一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。本发明专利技术，通过自适应门限的缺陷像素点检测，对于非敏感像素点做局部特性的门限值，可以检测出对敏感度低的缺陷像素点。

【技术实现步骤摘要】
缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片
本专利技术属于图像处理
，尤其涉及一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片。
技术介绍
图像传感器在制造过程中，其监视和测量系统需要保证每个像素点都统一、不失真、稳定的图像输出。但是有时会在制造过程中或之后，像素点会产生缺陷，从而出现输出异常电平信号的缺陷像素点。另外，所使用的摄像元件的像素点数有逐年增大的倾向，且伴随着这种倾向，缺陷像素点数目也增大。众所周知，一般的缺陷像素点类型有如下两种：一种类型是热噪点Hotpixels，其像素值因为过激的暗电流导致有较大的偏移；第二种类型是死点Deadpixels，即为敏感度较低的像素,主要有以下三种：（1）显示为图像中的白点；（2）不符合传感器的参数的像素点，如温度和集成时间；(3)相对于周围点表现为暗点；为了减少缺陷像素点对视觉的影响，现有图像处理系统中会加入坏点检测。缺陷点矫正（DefectivePixelCorrection、DPC）的算法一般都是在像素点区域进行检测，以当前像素点与周边像素点的差值与全局门限值之间的差值来判决是否为缺陷点，然后进行纠正。这种做法有如下不足：（1）对于敏感性较低的缺陷像素点，其像素值与周边像素值的差值与当前像素区域的激励有关，属于局部的特性，所以用全局的门限值可能会遗漏这种类型的缺陷点；（2）大多数非缺陷点无需处理，对于LineBuffer行缓冲区的浪费。综上所述，现有缺陷像素点获取方法存在遗漏敏感性较低的缺陷像素点、且系统消耗过大的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片，旨在解决现有缺陷像素点获取方法存在遗漏敏感性较低的缺陷像素点、且系统消耗过大的问题。一方面，提供一种缺陷像素点检测方法，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。进一步地，所述确定该检测像素点为缺陷像素点的步骤之后，还包括：判断所有检测像素点的缺陷标识数量之和是否大于预设缺陷点数量阀值；如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和大于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行均值滤波。进一步地，所述方法还包括：如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和小于或等于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行降噪滤波。进一步地，所述以所有检测像素点的像素值计算门限值具体：以N*N个检测像素点的像素值的均值与预设比例系数之积，作为门限值。另一方面，提供一种缺陷像素点检测的装置，所述装置包括：像素点提取单元，用于提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；差值计算单元，用于计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；缺陷检测单元，用于如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。进一步地，所述装置还包括：缺陷判断单元，用于判断所有检测像素点的缺陷标识数量之和是否大于预设缺陷点数量阀值；第一校正单元，用于如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和大于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行均值滤波。进一步地，所述装置还包括：第二校正单元，用于如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和小于或等于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行降噪滤波。进一步地，所述像素点提取单元具体用于以N*N个检测像素点的像素值的均值与预设比例系数之积，作为门限值。再一方面，提供一种图像处理芯片，包括处理器和用于存储处理器可执行指令的存储器，所述处理器包括如上所述的缺陷像素点检测装置。在本专利技术实施例，提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。本专利技术，通过自适应门限的缺陷像素点检测，对于非敏感像素点做局部特性的门限值，可以检测出对敏感度低的缺陷像素点，同时，对非缺陷点上只做降噪滤波，系统消耗小，行缓冲区利用率高。附图说明图1是本专利技术实施例一提供的第一缺陷像素点检测方法的实现流程图；图2a是本专利技术实施例一提供的RGB颜色空间中蓝、绿、红的示意图；图2b是本专利技术实施例一提供的提取的检测像素点的示意图；图3是本专利技术实施例二提供的第二缺陷像素点检测方法的实现流程图；图4是本专利技术实施例三提供的缺陷像素点检测装置的结构框图；图5是本专利技术实施例四提供的图像处理芯片的结构框图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。以下结合具体实施例对本专利技术的实现进行详细描述：实施例一图1示出了本专利技术实施例一提供的缺陷像素点检测方法的实现流程，详述如下：在步骤S101中，提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数。在本实施例中，所示N为从待检测图像中纵向、横向提取像素点的预设值，优选的，N为3。如2a所示RGB颜色空间中蓝、绿、红均匀分布25等份，选取如图2b所示的3*3的分量作为检测像素点，具体的，以3*3个检测像素点的像素值的均值与预设比例系数之积，作为门限值valTh=aValTh=rate*mean（P0,P1,P2,P3,P4,P5,P6,P7,P8），其中，aValTh为提取的3*3个检测像素点的均值，mean表示均值；rate为比例系数，其取值为0~1之间的数值。在步骤S102中，计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值。在本实施例中，由于缺陷像素点可两种可能，为了全部检测出所有权限像素点，因为需要对各个检测像素点做两种情况处理，第一种处理情况是针对热噪点，逐一计算各个检测像素点的像素点与所述门限值的和值；第二种处理情况是针对死点，逐一计算各个检测像素点的像素点与所述门限值的差值。在步骤S103中，如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。在本实施例中，逐一判断检测像素点对应的和值是否小于预设像素阀值，或判断检测像素点对应的差值是否大于预设像素阀值，如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，即将该检测像素点的缺陷标识为1，确定为缺陷像素点，如果以上两种情况都没有出现，则该检测像素点不做缺陷标识，即将该检测像素点的缺陷标识为0，确定为正常像素点。本实施例，通过自适应门限的缺陷像素点检测，对于非敏感像素点做局部特性的门限值，可以检测出对敏感度低的缺陷像素点。实施例二图3示出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。

【技术特征摘要】
1.一种缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。2.根据权利要求1所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述确定该检测像素点为缺陷像素点的步骤之后，还包括：判断所有检测像素点的缺陷标识数量之和是否大于预设缺陷点数量阀值；如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和大于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行均值滤波。3.根据权利要求2所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法还包括：如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和小于或等于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行降噪滤波。4.根据权利要求1所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述以所有检测像素点的像素值计算门限值具体：以N*N个检测像素点的像素值的均值与预设比例系数之积，作为门限值。5.一种缺陷像素点检测装置，其特征在于，所述装置包括：像素点提取单元，用于提取待检测图像的RGB颜...

【专利技术属性】
技术研发人员：旷开智，
申请(专利权)人：建荣半导体深圳有限公司，建荣集成电路科技珠海有限公司，珠海煌荣集成电路科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44