坏像素校正方法以及使用该方法的装置制造方法及图纸

坏像素校正方法以及使用该方法的装置。本发明专利技术的实施例提出一种由处理单元执行的坏像素校正方法。读取一个帧中的一块，以及标示块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个。检测块中所包含的弱像素对，其中包含二个标示为弱像素的像素，以及将弱像素对中的像素从弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素。针对标示为坏像素及弱像素转变的坏像素的每一像素进行校正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种图像处理技术，特别涉及一种坏像素校正方法以及使用该方法的装置。
技术介绍
坏像素校正(BPC，badpixelcorrection)是图像传感器中的坏位置数据，使用周围位置数据的插值来取代。然而，传统的坏像素检测(badpixeldetection)算法适合找出孤立的单一坏像素，但不适合找出由坐标位置连续的三个坏像素形成的短坏像素组(shortbad-pixelcluster)。因此，需要一种坏像素校正方法以及使用该方法的装置，用以克服如上所述的缺点。
技术实现思路
本专利技术的实施例提出一种由处理单元执行的坏像素校正方法。读取一个帧中的一块，以及标示块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个。检测块中所包含的弱像素对，其中包含二个标示为弱像素的像素，以及将弱像素对中的像素从弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素。针对标示为坏像素或弱像素转变的坏像素的像素进行校正。本专利技术的实施例提出一种坏像素校正装置，至少包含相机模块控制器以及处理单元。相机模本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种坏像素校正方法，由处理单元执行，包含：读取一帧中的一块；标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个；检测上述块中包含的弱像素对，其中上述弱像素对包含二个标示为上述弱像素的像素；将上述弱像素对中的上述像素从上述弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素；以及针对标示为上述坏像素及上述由弱像素转变的坏像素的每一上述像素进行校正。

【技术特征摘要】
1.一种坏像素校正方法，由处理单元执行，包含：
读取一帧中的一块；
标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个；
检测上述块中包含的弱像素对，其中上述弱像素对包含二个标示为上述弱像素的像
素；
将上述弱像素对中的上述像素从上述弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素；以及
针对标示为上述坏像素及上述由弱像素转变的坏像素的每一上述像素进行校正。
2.如权利要求1所述的坏像素校正方法，其中上述帧为具有贝尔格式图像的帧，上述块
包含全通道的mxm像素，其中标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一
个的步骤，还包含：
针对上述块中的待测像素，取得围绕上述待测像素的上述全通道的nxn像素作为内块，
以及取得围绕上述待测像素的相同通道的nxn像素作为外块，其中m大于n；
取得上述内块中的多个周围像素与上述待测像素间具有显著差异的像素数目的最终
内计数；
取得上述外块中的多个周围像素与上述待测像素间具有显著差异的像素数目的最终
外计数；以及
依据上述最终内计数以及上述最终外计数，标示上述待测像素为上述好像素、上述弱
像素以及上述坏像素中的一个。
3.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中，取得上述内块中的多个周围像素与上述
待测像素间具有显著差异的像素数目的最终内计数的步骤，还包含：
使用第一内计数器记录上述内块中的上述周围像素与上述待测像素间的正差异超过
预设条件的第一像素数目；
使用第二内计数器记录上述内块中的上述周围像素与上述待测像素间的负差异超过
上述预设条件的第二像素数目；以及
将上述第一像素数目以及上述第二像素数目的最大值当作上述最终内计数。
4.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中，取得上述外块中的多个周围像素与上述
待测像素间具有显著差异的像素数目的最终外计数的步骤，还包含：
使用第一外计数器记录上述外块中的上述周围像素与上述待测像素间的正差异超过
预设条件的第三像素数目；
使用第二外计数器记录上述外块中的上述周围像素与上述待测像素间的负差异超过
上述预设条件的第四像素数目；以及
将上述第三像素数目以及上述第四像素数目的最大值当作上述最终外计数。
5.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中还包含：
判断上述块中是否包含纹理；以及
如果上述块中包含上述纹理，则标示上述待测像素为上述好像素。
6.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中，依据上述最终内计数以及上述最终外计
数，标示上述待测像素为上述好像素、上述弱像素以及上述坏像素中的一个的步骤，还包
含：
当上述最终外计数为第一计数值时，标示上述待测像素为上述弱像素。
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【专利技术属性】
技术研发人员：孔玮曼，
申请(专利权)人：上海兆芯集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31