数字图像传感器中的白／黑像素校正制造技术

公开了一种包括图像传感器的装置的实施例，图像传感器包括含有多个像素的像素阵列、与所述像素阵列耦合的检测电路、与检测电路耦合的校正电路，检测电路用于检测像素阵列中的潜在白／黑像素缺陷，校正电路用于校正被检测电路检测出的潜在白／黑像素缺陷。装置还包括与图像传感器耦合的数字信号处理器，该数字信号处理器包括存储器以及与存储器耦合的处理器，存储器中具有像素阵列中的缺陷像素的列表，处理器用于将每个像素与缺陷像素列表进行交叉核对，并校正被发现存在于缺陷像素列表中的每个像素的数字值。他实施例也已被公开和要求保护。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般地涉及图像传感器，尤其是，但并非唯一地，涉及图像传感器中的白/ 黑像素缺陷校正。
技术介绍
现今半导体处理的生产进步已经使出现在任意给定半导体器件中的缺陷的数量显著减少了，但是每个生产过程的固有限制造成不可能完全消除缺陷。因此，不管生产过程 多么好，完成的半导体器件中还继续存在缺陷。如果缺陷十分严重，得到的器件经常必须被 扔掉，导致产量下降和成本增长。但是，如果缺陷轻微，其通常可通过运行于半导体器件自 身的电路或逻辑或通过半导体器件信号的后端处理来补偿。对于图像传感器，一种常见类型的生产缺陷称为白/黑像素缺陷。图像传感器通 常包括各个像素的阵列，这些像素因光入射到像素而聚集电荷。当一个具体像素输出了一 个与周围其他像素输出的信号显著不同的信号时，发生了白/黑像素缺陷。因此，如果一个 具体像素输出了对应于黑色(即，一个强度非常低的信号)的一个信号，但是一些或所有周 围像素都输出了对应于白色(即，一个强度非常高的信号)的信号，则这很可能是由于输出 了低强度信号的那个像素中存在某种缺陷。幸运的是，除非有大群连续的有缺陷的像素，白/黑像素缺陷是可以被补偿的。但 是，现存的补偿本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种装置，包括：图像传感器，该图像传感器包括：包括多个像素的像素阵列，与像素阵列耦合的检测电路，用以检测像素阵列中的潜在白／黑像素缺陷，以及与检测电路耦合的校正电路，用以校正被检测电路检测到的潜在白／黑像素缺陷；以及与图像传感器耦合的数字信号处理器，所述数字信号处理器包括：存储器，其中具有所述像素阵列中的缺陷像素的列表，以及与所述存储器耦合的处理器，用以将每个像素与所述缺陷像素的列表交叉核对，并校正被发现在所述缺陷像素的列表中的每个像素的数字值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2007-10-30 11/981,004一种装置，包括图像传感器，该图像传感器包括包括多个像素的像素阵列，与像素阵列耦合的检测电路，用以检测像素阵列中的潜在白/黑像素缺陷，以及与检测电路耦合的校正电路，用以校正被检测电路检测到的潜在白/黑像素缺陷；以及与图像传感器耦合的数字信号处理器，所述数字信号处理器包括存储器，其中具有所述像素阵列中的缺陷像素的列表，以及与所述存储器耦合的处理器，用以将每个像素与所述缺陷像素的列表交叉核对，并校正被发现在所述缺陷像素的列表中的每个像素的数字值。2.如权利要求1所述的装置，其中，所述缺陷像素的列表被保存在所述数字信号处理 器中的数据结构中。3.如权利要求2所述的装置，其中，所述数据结构是查找表。4.如权利要求1所述的装置，其中，检测潜在白/黑像素缺陷包括将像素的强度与至少 一个周围像素的强度相比较。5.如权利要求4所述的装置，其中，校正潜在白/黑像素缺陷包括用基于至少一个周围 像素的模拟值的模拟值来替换潜在缺陷像素的模拟值。6.如权利要求1所述的装置，还包括与所述图像传感器和所述数字信号处理器相耦合 的模数转换器。7.如权利要求6所述的装置，还包括与所述图像传感器和所述模数转换器相耦合的信 号调整器。8.一种处理，包括识别像素阵列中具有潜在白/黑像素缺陷的像素； 校正具有潜在白/黑像素缺陷的像素； 将每个像素与缺陷像素列表交叉核对；以及 校正被发现在所述缺陷像素列表中的每个像素的数字值。9.如权利要求8所述的处理，其中，识别具有潜在白/黑像素缺陷的像素包括将来自每 个像素的模拟信号的强度和来自至少一个周围像素的模拟信号的强度相比较。10.如权利要求8所述的处理，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：李洪军，董煜茜，何新平，
申请(专利权)人：美商豪威科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]