一种图像处理中坏点去除的方法技术

本发明专利技术提供了一种图像处理中坏点去除的方法，包括：采集一张全黑的raw图像；确认raw图像中的坏点；对坏点进行校正，采用与该坏点相邻最近的同一颜色的非坏点像素来替换该坏点；其中，针对第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中的所有单号像素和双号像素分别设定像素阈值，比较单号或双号像素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当单号或双号像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该像素为坏点；从第三行和第三列开始，针对每一个像素设定像素阈值，并且比较每一个像素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当某个像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该像素为坏点；从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行。

【技术实现步骤摘要】
201610070948

【技术保护点】
一种图像处理中坏点去除的方法，其特征在于，包括：步骤01：采集一张全黑的raw图像；步骤02：确认所述raw图像中的坏点；步骤03：对坏点进行校正，采用与该坏点相邻最近的同一颜色的非坏点像素来替换该坏点；其中，步骤02中，针对第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中的所有单号像素和双号像素分别设定像素阈值，并且比较单号像素的值或双号像素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当单号像素的值或双号像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该单号像素或双号像素为坏点；从第三行和第三列开始，针对每一个像素设定像素阈值，并且比较每一个像素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当某个像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该像素为坏点；并且，从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行。

【技术特征摘要】
1.一种图像处理中坏点去除的方法，其特征在于，包括：
步骤01：采集一张全黑的raw图像；
步骤02：确认所述raw图像中的坏点；
步骤03：对坏点进行校正，采用与该坏点相邻最近的同一颜色的非坏点像
素来替换该坏点；
其中，
步骤02中，针对第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中的
所有单号像素和双号像素分别设定像素阈值，并且比较单号像素的值或双号像
素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当单号像素的值或双号像素的值大于
所设定的相应像素阈值时，则该单号像素或双号像素为坏点；从第三行和第三
列开始，针对每一个像素设定像素阈值，并且比较每一个像素的值与所设定的
相应像素阈值的大小，当某个像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该像
素为坏点；
并且，从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，针对所述单号像素的坏点确
认包括：
步骤0201：设定一个阈值系数，分别计算出第一行、第二行、第一列和第
二列中每一行或每一列中所有单号像素的中值；
步骤0202：将所述中值和所述阈值系数的乘积作为所述单号像素的像素阈
值；
步骤0203：比较所述单号像素的值与所述单号像素的像素阈值，当所述单
号像素的值大于所述单号像素的像素阈值时，则该单号像素为所述每一行或每
一列的坏点；
针对所述双号像素的坏点确认包括：
步骤0204：设定一个阈值系数，分别计算出第一行、第二行、第一列和第
二列中每一行或每一列中所有双号像素的中值；
步骤0205：将所述中值和所述阈值系数的乘积作为所述双号像素的像素阈
值；
步骤0206：比较所述双号像素的值与所述双号像素的像素阈值，当所述双
号像素的值大于所述双号像素的像素阈值时，则该双号像素为所述每一行或每
一列的坏点。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述单号像素的中值或所述

\t双号像素的中值的计算包括：将第一行、第二行、第一列和第二列中的每一行
的像素值求平均值或每一列的像素值求平均值。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，从第三行和第三列开始，针
对每一个坏点的确认和校正交替进行的过程中，针对坏点的确认过程具体包括：
若某一个像素P(i,j)为R像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为
该阈值系数乘以(P(i-2,j-2)+P(i,j-2)+P(i+2,j-2)+P(i-2,j))/4；比较该像素的值与该
像素的像素阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点；
若某一个像素P(i,j)为B像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为
该阈值系数乘以(P(i-2,j-2)+P(i,j-2)+P(i+2,j-2)+P(i-2,j))/4；比较该像素的值与该
像素的像素阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点；
若某一个像素P(i,j)为G像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为
该阈值系数乘以(P(i-1,j-1)+P(i+1,j-1))/2；比较该像素的值与该像素的像素阈值，
当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，从第三行和第三列开始，针
对每一个坏点的确认和校正交替进行的过程中，针对坏点的确认过程还包括：
针对最大行或者最大列的像素P(i,j)的坏点确认方法包括：
若某一像素P(i,j)为R像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为该
阈值系数乘以(P(i-2,j-2)+P(i,j-2)+P(i-2,j))/3；比较该像素的值与该像素的像素
阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点；
若某一像素P(i,j)为B像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为该
阈值系数乘以(P(i-2,j-2)+P(i,j-2)+P(i-2,j))/3...

【专利技术属性】
技术研发人员：李赟晟，王勇，王凯，叶红磊，
申请(专利权)人：上海集成电路研发中心有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31