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本发明适用于图像处理技术领域，提供了一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的...该专利属于建荣半导体（深圳）有限公司;建荣集成电路科技（珠海）有限公司;珠海煌荣集成电路科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过建荣半导体（深圳）有限公司;建荣集成电路科技（珠海）有限公司;珠海煌荣集成电路科技有限公司授权不得商用。