图像处理装置及其控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种图像处理装置及其控制方法。摄像设备的摄像元件包括多个微透镜和与多个微透镜相对应的多个光电转换单元。通过从多个光电转换单元获取信号来生成具有视差的视差图像。CPU通过根据作为检测像素的输出值的第一输出值以及根据与像素邻接的像素确定出的第二输出值计算评价值、并将该评价值与预定阈值相比较，来进行缺陷像素检测。CPU使用第二输出值以及根据第一输出值和第二输出值求出的第一评价值来计算第二评价值，并且在第二评价值大于阈值的情况下将像素检测为缺陷像素。

【技术实现步骤摘要】
图像处理装置及其控制方法
本专利技术涉及摄像元件的缺陷像素检测。
技术介绍
提出了如下的摄像设备：为了检测摄像元素内的缺陷像素，使用与目标像素邻接的像素的信息来进行缺陷像素检测。在日本特开2010-130236中，公开了使用相同颜色的两个或更多邻接像素的信息来进行缺陷像素检测的技术。在日本特开2011-97542中，公开了使用相同颜色的像素和不同颜色的像素的信息来进行缺陷像素检测的技术。然而，由于阴影的影响，导致在图像信号穿过摄像光学系统以到达摄像元件并且光电传感器接收该图像信号的光的情况下的图像信号的输出值不太可能是均匀的值。也就是说，由于阴影的发生导致亮度根据光电传感器的光接收区域而改变，因此难以适当地进行摄像元件的缺陷像素检测。
技术实现思路
本专利技术提供一种用于即使在发生了阴影的情况下也精确地进行缺陷像素检测的技术。根据本专利技术的实施例的装置是一种图像处理装置，其用于获取多个像素的输出值并对图像信号进行处理，所述图像处理装置包括：获取部件，用于从像素获取第一输出值，并且获取从所述像素的邻接像素所确定出的第二输出值；以及检测部件，用于通过根据所述第一输出值和所述第二输出值计算所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种图像处理装置，用于获取多个像素的输出值并对图像信号进行处理，所述图像处理装置包括：获取部件，用于从像素获取第一输出值，并且获取从所述像素的邻接像素所确定出的第二输出值；以及检测部件，用于通过根据所述第一输出值和所述第二输出值计算所述像素的评价值并将所述评价值与阈值相比较，来进行缺陷像素检测，其中，所述检测部件使用所述第二输出值以及根据所述第一输出值和所述第二输出值所求出的第一评价值来计算第二评价值，并且在所述第二评价值大于所述阈值的情况下将所述像素检测为缺陷像素。

【技术特征摘要】
2016.03.01 JP 2016-0391561.一种图像处理装置，用于获取多个像素的输出值并对图像信号进行处理，所述图像处理装置包括：获取部件，用于从像素获取第一输出值，并且获取从所述像素的邻接像素所确定出的第二输出值；以及检测部件，用于通过根据所述第一输出值和所述第二输出值计算所述像素的评价值并将所述评价值与阈值相比较，来进行缺陷像素检测，其中，所述检测部件使用所述第二输出值以及根据所述第一输出值和所述第二输出值所求出的第一评价值来计算第二评价值，并且在所述第二评价值大于所述阈值的情况下将所述像素检测为缺陷像素。2.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，所述检测部件通过利用包括所述缺陷像素检测的标准输出值的函数校正所述第一评价值，来计算所述第二评价值。3.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，所述第二输出值是从对象像素的邻接像素的输出值所确定出的中值或平均值。4.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，所述检测部件使用所述第一输出值、所述像素的颜色滤波器、所接收到的光束穿过的光瞳区域以及相加像素的数量中的一个或多个作为相同条件，来确定所述第二输出值。5.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，所述像素是包括多个微透镜和与各所述微透镜相对应的多个光电转换单元的摄像元件的像素。6.根据权利要求2所述的图像处理装置，其中，所述第一评价值是通过将所述第一输出值和所述第二输出值之间的差除以所述第二输出值而计算出的，以及所述第二评价值是通过将在所述第二输出值相对于所述标准输出值增大的情况下增大的项乘以所述第一评价值而计算出的。7.根据权利要求6所述的图像处理装置，其中，在所述第一评价值由作为像素位置(i,j)和摄像时间(t)的函数的E(i,j,t)来表示、所述标准输出值由Sstd来表示、所述第二输出值由作为像素位置(i,j)的函数的Styp(i,j)来表示、所述阈值由Eerror0来表示、并且容许变化由α0来表示的情况下，如果所述像素满足以下表达式，则所述检测部件将所述像素检测为缺陷像素，8.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，还包括：像素校正部件，用于对所述检测部件所检测到的缺陷像素的像素信号进行校正。9.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉村勇希，上田晓彦，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP