用于检测有缺陷像素的方法技术
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检测有缺陷像素的方法本专利技术涉及用于检测有缺陷像素的方法、能够检测有缺陷像素的装置、以及包括所述装置的系统。本专利技术还涉及一种用于利用有缺陷像素检测方法，来确定从图像处理过程输出的至少一个数据项的可靠性水平的方法。光电(Optronic)系统是已知的，如照相装置、摄视频像机、双筒望远镜、望远镜、取景器或配备有空载(airborne)观测系统的陀螺稳定球(GSB：gyro-stabilisedball)。这些光电系统包括图像获取装置，其包括至少一个图像传感器，所述至少一个图像传感器能够获取各种频率范围内的图像，如对应于人眼可察觉的频率的频率范围或者位于红外线中的频率范围。图像传感器按像素网格的形式提供图像。图像传感器由称为感光点(photosite)的有源元件的格栅构成，例如，由光电二极管构成，每一个光电二极管都能够将入射光束转换成电信号。图像的每一个像素对应于图像传感器上的感光点。图像传感器的一些感光点经常有缺陷，致使这些感光点不适于提供有效的像素值。这些缺陷可能是制造缺陷，使得这些感光点明确不能提供有效的像素值，或者是随机发生的临时缺陷。可以通过检查在制造...
【技术保护点】
一种用于检测有缺陷像素的方法，该用于检测有缺陷像素的方法被包括在图像处理过程中，该图像处理过程包括像素处理过程，该像素处理过程被应用至从图像传感器(510)发出的至少一个图像的像素，每一个像素对应于所述图像传感器的、被称为感光点的有源元件，该有源元件能够将入射光束转换成电信号，每一个像素与表示所述像素的状态的分类值相关联，其特征在于，所述方法包括以下步骤：·将组合的像素处理与有缺陷像素检测过程应用(111)至图像的每一个像素，包括针对每一个像素进行如下操作：o将所述像素处理过程应用(1111)至所述像素，所述像素处理过程在其被应用至所述图像的像素时，提供由过滤发出的所述图像...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.07 FR 14607621.一种用于检测有缺陷像素的方法，该用于检测有缺陷像素的方法被包括在图像处理过程中，该图像处理过程包括像素处理过程，该像素处理过程被应用至从图像传感器(510)发出的至少一个图像的像素，每一个像素对应于所述图像传感器的、被称为感光点的有源元件，该有源元件能够将入射光束转换成电信号，每一个像素与表示所述像素的状态的分类值相关联，其特征在于，所述方法包括以下步骤：·将组合的像素处理与有缺陷像素检测过程应用(111)至图像的每一个像素，包括针对每一个像素进行如下操作：o将所述像素处理过程应用(1111)至所述像素，所述像素处理过程在其被应用至所述图像的像素时，提供由过滤发出的所述图像的像素，所述过滤旨在衰减获取噪声，和/或旨在改进和/或检测所述图像中的轮廓和/或表示所述图像中被检测和/或被跟随的对象的信息；o分析(1112)由所述像素处理过程提供的结果；o在获取表示所述图像传感器的、提供所述像素的感光点上的缺陷的非正常结果的情况下，递增(1113)表示针对所述像素的非正常结果的检测数量的变量；以及o当所述变量达到表示非正常结果的最大数量的第一阈值(1114)时，关联(1115)所述像素与表示有缺陷像素的分类值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法被应用至从所述图像传感器发出的一序列连续图像，并且其特征在于，所述第一阈值是在一时段期间可接受的非正常结果的最大数量，所述时段与等于第二阈值的图像数量相对应。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，当第一图像的像素与表示有缺陷像素的分类值相关联时，在与等于第三阈值的连续图像数量相对应的时段期间，只要所述像素处理过程针对所述像素未给出不表示所述图像传感器的、提供所述像素的感光点上的缺陷的非非正常结果，所述像素就被视为有缺陷。4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，把周期性重新初始化成表示无缺陷像素的分类值的过程(16)应用至与每一个像素相关联的所述分类值，所述周期性重新初始化随着与等于第四阈值的图像数量相对应的预定义时段而发生。5.一种用于确定从图像处理过程输出的至少一个数据项的可靠性水平的方法，从被包括在所述数图像处理过程中的像素处理过程的至少一个结果获取每一个输出数据项，其特征在于，所述方法包括以下步骤：·应用根据权利要求1至4中的任一项所...
【专利技术属性】
技术研发人员：D·马尔特塞，M·乌迪诺，Q·佩德里奥，T·德维希，
申请(专利权)人：赛峰电子与防务公司，
类型：发明
国别省市：法国,FR
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