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本发明涉及一种用于检测有缺陷像素的方法，该方法作为图像处理过程的一部分，该图像处理过程包括应用至由图像传感器提供的图像的像素的像素处理过程。每一个像素与表示所述像素的状态的分类值相关联。所述方法包括以下步骤，针对每一个像素进行如下操作：应用...
该专利属于赛峰电子与防务公司所有，仅供学习研究参考，未经过赛峰电子与防务公司授权不得商用。

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