一种X射线无损检测器制造技术

本实用新型专利技术公布了一种X射线无损检测器，以解决现有技术存在的不能进行三维成像、不能观看剖面视图、不能定位几何图像所在位置、适用行业存在局限性、只适应同质工件等问题。本实用新型专利技术提供一种X射线无损检测器，在对待检测工件进行定位时，可以通过移动光源进行定位，并且可以迅速进行上下移动，检测效率较高；该X射线无损检测器包括右侧检测器保护片、左侧检测器保护片、后侧检测器保护片、顶部检测器保护片和检测器前挡板；所述检测器安装板下方安装有检测器；所述后侧检测器保护片上安装有滑轨，所述滑轨连接滑轨安装板；应大部分不同形状和材质的工件，有效避免因新工件形状、材质等因素的变化，无需另行购置新设备。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线无损检测器
本技术涉及无损检测领域，具体涉及一种X射线无损检测器。
技术介绍
工业上利用X光检测的原理是：X射线通过物质被吸收时，可使组成物质的分子分解成为正负离子，称为电离作用，离子的多少和物质吸收的X射线量成正比。通过空气或其它物质产生电离作用，利用仪表测量电离的程度就可以计算X射线的量。由成像器转换成数字信号，再通过计算机辅助软件还原成图像以后进行判图、标注、储存等。目前的X射线检测设备中，在光源下对待检测工件进行定位时，一般是通过移动待检测工件进行左右前后上下移动来实现，如果待检测工件过大，则移动不便，而且在XYZ三个方向的移动只能是先后进行，无法同时完成，造成定位时间较长，效率低下。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术的目的在于提供一种X射线无损检测器，以解决现有技术存在的不能三维成像、不能观看剖视图、不能定位几何位置、适用行业存在局限性、只适应同质工件等问题。本技术提供一种X射线无损检测器，在对待检测工件进行定位时，可以通过移动光源进行定位，并且可以迅速进行上下移动，检测效率较高。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种X射线无损检测器，包括右侧检测器保本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线无损检测器，其特征在于所述X射线无损检测器包括右侧检测器保护片(1)、左侧检测器保护片(2)、后侧检测器保护片(3)、顶部检测器保护片(4)和检测器前挡板(5)。

【技术特征摘要】
1.一种X射线无损检测器，其特征在于所述X射线无损检测器包括右侧检测器保护片(1)、左侧检测器保护片(2)、后侧检测器保护片(3)、顶部检测器保护片(4)和检测器前挡板(5)。2.根据权利要求1所述X射线无损检测器，其特征在于所述顶部检测器保护片(4)下方安装有检测器安装板(6)，所述检测器安装板(6)下方安装有检测器(7)。3.根据权利要求1所述X射线无损检测器，其特征在于所述后侧检测器保护片(3)上安装有滑轨(15)，所述滑轨(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙洋，
申请(专利权)人：苏州科耐视智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32