【技术实现步骤摘要】
一种阶梯孔型像质计
本技术涉及射线检测领域,尤其涉及一种阶梯孔型像质计。
技术介绍
为便于定量评价射线照相灵敏度,常用与被检工件或焊缝有一定百分比关系的人工结构,如金属丝、孔、槽等组成所谓像质计。像质计(像质指示器,透度计)是测定射线照片的射线照相灵敏度的器件,根据在底片上显示的像质计的影像,可以判断底片影像的质量,并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。目前,最广泛使用的像质计主要是三种:丝型像质计、阶梯孔型像质计、平板孔型像质计,此外还有槽型像质计和双丝像质计等。各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法。阶梯孔型像质计是在用于被检工件材质相同或相近的材料的阶梯试块上加工出直径等于阶梯厚度的孔制作的。由于工件材料及厚度的不同,需要选用不同型号的像质计,导致像质计使用不方便。
技术实现思路
本技术为了克服现有技术中的不足,提供了一种可以自由组合阶梯模块以适配不同材料及厚度的工件的阶梯孔型像质计。为了实现上述目的,本技术采用以下技术方案:一种阶梯孔型像质计,包括若干个模块放置槽和若干个阶梯模块,若干个阶梯模块可以部分或者全部 ...
【技术保护点】
一种阶梯孔型像质计,其特征是,包括包括6个模块放置槽和若干个阶梯模块,若干个阶梯模块部分或者全部地放置在模块放置槽中,所述的一种阶梯孔型像质计形状为正六边形,所述模块放置槽绕着所述正六边形中心均匀分布,所述模块放置槽形状为正三角形。
【技术特征摘要】
1.一种阶梯孔型像质计,其特征是,包括包括6个模块放置槽和若干个阶梯模块,若干个阶梯模块部分或者全部地放置在模块放置槽中,所述的一种阶梯孔型像质计形状为正六边形,所述模块放置槽绕着所述正六边形中心均匀分布,所述模块放置槽...
【专利技术属性】
技术研发人员:柳章龙,蔡耀辉,吕君敏,
申请(专利权)人:浙江省缙云像质计厂,
类型:新型
国别省市:浙江,33
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