使用强度调制的X射线源的系统及方法技术方案

本发明专利技术关注一种具有多个探测器和控制器的X射线扫描系统，其中a)控制器被配置成接收并识别由至少一个探测器探测的最小X射线透射等级，b)控制器将最小X射线透射等级与至少一个预定阈值透射等级进行比较，以及c)基于所述比较，控制器产生调节信号。本发明专利技术进一步包括X射线源，其中X射线源接收调节信号并被配置成基于所述调节信号来调节X射线脉冲持续时间。

【技术实现步骤摘要】
使用强度调制的X射线源的系统及方法本申请为2009年06月12日提交的、申请号为200980140400.X、专利技术名称为“使用强度调制的X射线源的系统及方法”的申请案的分案申请。
本专利技术通常涉及辐射能成像系统领域，且更具体地涉及使用高强度X射线辐射源探测特殊核材料(SNM)及其它违禁品的系统和技术。具体地，本专利技术涉及用于传递足够穿透货物并因此检测SNM和其它违禁品所需的最小X射线强度的改进方法和系统。
技术介绍
用于检测特殊核材料(SNM)和其它违禁品的货物集装箱和卡车的X射线照相术成像需要高强度X射线辐射源。特定源能量强度越高，X射线束可穿透的材料量越大，并能获得更好的对比度和分辨率。在传统实践中，在系统和检查区域的特殊环境下，检查系统的X射线源强度被设置为可容许的最高等级，称为辐射源的输出设置点(OSP)，不论准确检查货物是否需要此强度，均使用此固定强度检查所有货物。该OSP并不代表辐射源能够产生的最高额定强度。时常，OSP的设置使得辐射源在预定的排除区域的边界处不超过预设的指定辐射剂量限制，或者，在入口检查系统(卡车司机开着他们的卡车通过检查系统)的情况下，保持低于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线扫描系统，包括：a.多个探测器；b.控制器，其中所述控制器被配置成接收并识别由所述多个探测器中的至少一个探测到的最小X射线透射等级，其中所述控制器将所述最小X射线透射等级与至少一个预定阈值透射等级进行比较，并且其中基于所述比较，所述控制器产生调节信号；和c.X射线源，其中所述X射线源接收所述调节信号并被配置成基于所述调节信号调节X射线脉冲持续时间。

【技术特征摘要】
2008.08.11 US 61/087,8101.一种X射线扫描系统，包括：a.多个探测器；b.控制器，其中所述控制器被配置成接收并识别由所述多个探测器中的至少一个探测到的最小X射线透射等级，其中所述控制器将所述最小X射线透射等级与至少一个预定阈值透射等级进行比较，并且其中基于所述比较，所述控制器产生调节信号；和c.X射线源，其中所述X射线源接收所述调节信号并被配置成基于所述调节信号调节X射线脉冲持续时间。2.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中所述X射线源为能量在1MeV至15MeV范围内的线性加速器。3.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中所述X射线源包括接收所述调节信号并基于所述信号调节X射线脉冲持续时间的控制器。4.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中所述控制器将所述最小X射线透射等级与第一预定阈值进行比较，如果所述最小X射线透射等级低于所述第一预定阈值，则产生使所述X射线源增加X射线脉冲持续时间的调节信号。5.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中所述控制器将所述最小X射线透射等级与第一预定阈值和第二预定阈值进行比较，并且如果所述最小X射线透射等级高于所述第一预定阈值但低于所述第二预定阈值，则产生使所述X射线源不改变X射线脉冲持续时间的调节信号。6.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中所述控制器将所述最小X射线透射等级与第一预定阈值和第二预定阈值进行比较，并且如果所述最小X射线透射等级高于所述第二预定阈值，则产生使所述X射线源降低X射线脉冲持续时间的调节信号。7.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中控制器包括具有处理单元的计算机，其中所述处理单元与从所述多个探测器中的至少一个接收信号的输入/输出板连接。8.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中处理单元是现场可编程门阵列或特定用途集成电路中的至少一个。9.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中多个探测器包括第一探测器阵列以及第二探测器阵列，所述第一探测器阵列被配置成测量后续X射线脉冲的所需源强度，所述第二探测器阵列被配置成测量透射图像而非所述所需源强度。10.如权利要求1所述的X射线扫描系统，其中所述X射线源被配置成基于从第一X射线脉冲生成的调节信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：威廉GJ兰格维尔德，威廉A约翰逊，罗杰D欧文，乔治S鲁塞尔，
申请(专利权)人：拉派斯坎实验室股份有限公司，PTSE股份有限公司海斯科分部，
类型：发明
国别省市：美国,US