显示基板、有机发光器件及膜层蒸镀检测方法、显示装置制造方法及图纸

技术编号:17365078 阅读:83 留言:0更新日期:2018-02-28 16:11
本发明专利技术提供一种显示基板,包括显示区域和环绕显示区域的非显示区域,非显示区域中设置有至少一个限位标记组,显示区域具有多条边,相邻两条边之间形成圆倒角;非显示区域包括与所述显示区域的边一一相对的边框部以及与圆倒角一一相对的拐角部;所述限位标记组位于所述拐角部。相应地,本发明专利技术还提供一种有机发光器件及其膜层蒸镀检测方法和一种显示装置。本发明专利技术能够减少显示不良,并提高膜层蒸镀检测的准确性。

Display plate, organic light emitting device and membrane coating method and display device

The present invention provides a display substrate includes a display area and a non display area around the display area, a non display area is provided with at least one limiting tag group, display area having a plurality of sides, chamfer is formed between two adjacent edges; the non display area includes a display area of one side relative the frame and corner one relative with the circular bevel; the limiting tag group is located on the corner. Accordingly, the invention also provides an organic light emitting device and a method for detecting the coating of the film and a display device. The invention can reduce the bad display and improve the accuracy of the coating detection of the film layer.

【技术实现步骤摘要】
显示基板、有机发光器件及膜层蒸镀检测方法、显示装置
本专利技术涉及显示
,具体涉及一种显示基板、有机发光器件、有机发光器件的膜层蒸镀检测方法、显示装置。
技术介绍
有机电致发光(OrganicLight-EmittingDevice,OLED)显示装置的每个像素区中均设置有发光单元,发光单元包括多层有机膜层,各有机膜层通过蒸镀工艺形成。为了检测各有机膜层的蒸镀位置是否发生偏移,通常会在显示区域以外的区域设置对位区。图1是现有技术中的对位区的第一种设置位置示意图,其中对位区20设置在显示基板上,并位于显示区域11的两侧;图2是现有技术中的对位区的第二种设置位置示意图,其中,对位区20设置母板上相邻两个显示基板所在区10a之间的空置区;图3是对位区中的结构示意图。如图3所示,对位区20中设置有多个限位标记21,多个限位标记21能够限定出多个理论蒸镀区22的中心,在向显示区蒸镀各个有机膜层的同时,还向对位区蒸镀与各有机膜层分别对应的对位图形,以对位图形与理论蒸镀位置22对位情况,来表征显示区域11中蒸镀的各层有机材料是否发生偏移。但是,图1中的设置方式会造成显示不良;图2中的设置方式会造成后续对位图形的对位情况无法准确表征显示区的有机膜层的对位情况,且将母板切割形成独立的显示基板后,无法检测显示区域中有机膜层的对位情况。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种显示基板、有机发光器件、有机发光器件的膜层蒸镀检测方法、显示装置,以更准确地检测显示区的有机膜层的对位情况,并减少显示不良。为了解决上述技术问题之一,本专利技术提供一种显示基板,包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域,所述非显示区域中设置有至少一个限位标记组,所述显示区域具有多条边,相邻两条边之间形成圆倒角;所述非显示区域包括与所述显示区域的边一一相对的边框部以及与所述圆倒角一一相对的拐角部;所述限位标记组位于所述拐角部。优选地,每个所述限位标记组包括多个限位标记,每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置;对于任意一个限位标记组,多个所述限位标记限定的多个所述理论蒸镀区排成多行多列。优选地,对于任意一个限位标记组,多个所述限位标记和所述多个所述理论蒸镀区围成对位区,所述对位区沿所述显示区域长度方向和宽度方向的尺寸均在100μm~130μm之间。优选地,所述限位标记为条形,对于任意一个限位标记组:所述多个限位标记至少包括两个第一限位标记和两个第二限位标记,所述第一限位标记沿第一方向延伸,所述第二限位标记沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸;两个所述第一限位标记沿所述第二方向排列,两个所述第二限位标记沿所述第一方向排列,且该两个第二限位标记位于两个所述第一限位标记中心连线的两侧。优选地,所述限位标记组中的多个限位标记还包括第三限位标记,所述第三限位标记为条形且沿所述第二方向延伸,所述第三限位标记与其中一个所述第一限位标记相交叉,形成十字结构。优选地,所述显示区域设置有像素界定层,所述像素界定层上设置有多个像素开口,所述显示区域还设置有与像素开口一一对应的电极;所述非显示区域设置有外延膜层,所述外延膜层上设置有与限位标记一一对应的通孔,所述限位标记设置在所述通孔中;所述外延膜层与所述电极同层设置且材料相同,所述限位标记与所述像素界定层同层设置且材料相同。优选地,所述外延膜层和所述限位标记中的一者透光,另一者不透光。相应地,本专利技术还提供一种有机发光器件,包括上述显示基板,所述显示基板的显示区域设置有多种有机膜层,所述显示基板的非显示区域设置有与所述限位标记组一一对应的对位图形组,所述对位图形组位于相应的限位标记组所在的拐角部。优选地,每个限位标记组包括多个限位标记,每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置;每个对位图形组包括多个对位图形,每个对位图形组的多个对位图形与多种有机膜层的材料一一对应相同;对于任意一个对位图形组,该对位图形组中的多个对位图形与该对位图形组所对应的限位标记组限定出的多个理论蒸镀区一一对应。相应地,本专利技术还提供一种显示装置,包括上述有机发光器件。相应地,本专利技术还提供一种有机发光器件的膜层蒸镀检测方法,包括:S1、提供上述有机发光器件;S2、利用限位标记组及相应的对位标记组来确定显示基板的显示区域中有机膜层的蒸镀偏移量。优选地,所述步骤S2包括:S21、对于每个限位标记组,均根据该限位标记组中的多个限位标记确定多个理论蒸镀区的位置;S22、检测每个对位图形的实际位置相对于相应理论蒸镀区的位置的偏移量,并以对应于同一种有机膜层的各对位图形的最大偏移量作为该有机膜层的蒸镀偏移量。优选地,所述步骤S21包括在每个对位区中进行的以下步骤:S211、获取每个限位标记的中心位置;S212、获取以下多个交点的位置:沿所述第一方向延伸的两条第一直线与沿所述第二方向延伸的两条第二直线交叉形成的多个交点、两个第一限位标记的中心连线与两个第二限位标记的中心连线的交点,并将所述多个交点的位置分别作为多个理论蒸镀区的位置;其中,两条第一直线分别经过两个第一限位标记的中心,两条第二直线分别经过两个第二限位标记的中心;所述步骤S22包括:S221、获取每个对位图形的中心位置;S222、计算每个对位图形的中心位置与相应理论蒸镀区的位置之间的偏移量。优选地,所述非显示区设置有外延膜层,所述外延膜层上设置有与限位标记一一对应的通孔,所述限位标记设置在所述通孔中,所述电极不透光,所述第二膜层透光;所述步骤S211包括:分别在有机发光器件的两侧设置第一光源和第一光采集件,所述第一光源的光线能够穿过所述外延膜层和所述对位图形,以被所述第一光采集件采集;根据第一光采集件采集到的光线确定每个限位标记的边缘位置,并根据每个限位标记的边缘位置计算相应限位标记的中心位置;所述步骤S221包括:在所述第一光采集件的同侧设置第二光源,在所述第一光源的同侧设置第二光采集件;所述第二光源用于激发所述对位图形发光,所述第二光采集件用于采集所述对位图形发射的光线;根据第二光采集件采集到的光线确定每个对位图形的边缘位置,并根据每个对位图形的边缘位置计算相应对位图形的中心位置。在本专利技术中,显示区域的圆倒角的设置使得非显示区域的拐角部的宽度大于边框部的宽度,因此,将限位标记组设置在空间较大拐角部时,可以减小限位标记组对信号线的影响,从而减少显示不良,改善有机发光器件和显示装置的显示效果。另外,本专利技术中的限位标记组设置在显示基板上,距离显示区域较近,从而可以更准确地检测显示区域的像素偏移量,进而改善监控效果,从而进一步保证有机发光器件和显示装置的质量。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术,但并不构成对本专利技术的限制。在附图中:图1是现有技术中的对位区的第一种设置位置示意图;图2是现有技术中的对位区的第二种设置位置示意图;图3是图1和图2中的对位区中的结构示意图;;图4是本专利技术实施例中提供的显示基板示意图;图5是本专利技术实施例中对位区的各限位标记的结构和排列方式示意图;图6是沿图5的B-B’线的剖视图;图7是形成有对位图形的对位区中示意图;图8是本专利技术实施例中提供的膜层本文档来自技高网...
显示基板、有机发光器件及膜层蒸镀检测方法、显示装置

【技术保护点】
一种显示基板,其特征在于,包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域,所述非显示区域中设置有至少一个限位标记组,所述显示区域具有多条边,相邻两条边之间形成圆倒角;所述非显示区域包括与所述显示区域的边一一相对的边框部以及与所述圆倒角一一相对的拐角部;所述限位标记组位于所述拐角部。

【技术特征摘要】
1.一种显示基板,其特征在于,包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域,所述非显示区域中设置有至少一个限位标记组,所述显示区域具有多条边,相邻两条边之间形成圆倒角;所述非显示区域包括与所述显示区域的边一一相对的边框部以及与所述圆倒角一一相对的拐角部;所述限位标记组位于所述拐角部。2.根据权利要求1所述的显示基板,其特征在于,每个所述限位标记组包括多个限位标记,每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置;对于任意一个限位标记组,多个所述限位标记限定的多个所述理论蒸镀区排成多行多列。3.根据权利要求2所述的显示基板,其特征在于,对于任意一个限位标记组,多个所述限位标记和所述多个所述理论蒸镀区围成对位区,所述对位区沿所述显示区域长度方向和宽度方向的尺寸均在100μm~130μm之间。4.根据权利要求2所述的显示基板,其特征在于,所述限位标记为条形,对于任意一个限位标记组:所述多个限位标记至少包括两个第一限位标记和两个第二限位标记,所述第一限位标记沿第一方向延伸,所述第二限位标记沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸;两个所述第一限位标记沿所述第二方向排列,两个所述第二限位标记沿所述第一方向排列,且该两个第二限位标记位于两个所述第一限位标记中心连线的两侧。5.根据权利要求4所述的显示基板,其特征在于,所述限位标记组中的多个限位标记还包括第三限位标记,所述第三限位标记为条形且沿所述第二方向延伸,所述第三限位标记与其中一个所述第一限位标记相交叉,形成十字结构。6.根据权利要求2所述的显示基板,其特征在于,所述显示区域设置有像素界定层,所述像素界定层上设置有多个像素开口,所述显示区域还设置有与像素开口一一对应的电极;所述非显示区域设置有外延膜层,所述外延膜层上设置有与限位标记一一对应的通孔,所述限位标记设置在所述通孔中;所述外延膜层与所述电极同层设置且材料相同,所述限位标记与所述像素界定层同层设置且材料相同。7.根据权利要求6所述的显示基板,其特征在于,所述外延膜层和所述限位标记中的一者透光,另一者不透光。8.一种有机发光器件,其特征在于,包括权利要求1至7中任意一项所述的显示基板,所述显示基板的显示区域设置有多种有机膜层,所述显示基板的非显示区域设置有与所述限位标记组一一对应的对位图形组,所述对位图形组位于相应的限位标记组所在的拐角部。9.根据权利要求8所述的有机发光器件,其特征在于,每个限位标记组包括多个限位标记,每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置;每个对位图形组包括多个对位图形,每个对位图形组的多个对位图形与多种有...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨凡莫再隆
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司成都京东方光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1