The methods and systems used to authenticate objects that mark the XRF markup are disclosed. The method includes the following steps: providing a response to the detected wavelength spectrum contour X ray signal in X X-ray or gamma ray radiation is applied to the object from the object to; as well as X - ray signal the detection wavelength spectral profile part of the filter, in order to suppress the trend component and periodic components from the wavelength spectrum contour. The noise of the trend component and periodic component and X ray signal part and at least one association in clutter, and get the SNR and / or SNR filtered profile improvement, from the filtered profile, spectral peak characteristics of related materials to include the recognition accuracy and reliability to improve with the object of the. By processing the filtered contour to identify one or more peaks that meet the predetermined conditions, the wavelength of the identified peak indicates the characteristics of the material contained in the object to authenticate the object.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于读取X射线荧光标记的系统和方法
本专利技术属于X射线荧光(XRF)标记领域,具体涉及用于读取指示用于标记对象的材料和组合物的XRF信号的技术。
技术介绍
X射线荧光(XRF)标记是用于检测并可能量化可以用于标记对象的化学材料元素和/或组合物成分的技术。然后可以基于所检测的材料来识别对象的参数/标识。在下文中,X射线荧光(XRF)用于指代特性“二次”(或荧光)X射线从已经由主X射线或伽马射线辐射激发的材料的发射。措辞荧光是指导致不同能量(通常较低)的辐射的再发射的对特定能量发射的吸收。X射线荧光(XRF)现象基于以下事实:当材料暴露到短波长的X射线或伽马射线时,它们会从原子的内轨道排出电子,这由此使得较高轨道中的电子“落到”较低/内轨道中,并且在该处理中,释放出能量等于所涉及的两个轨道之间的能量差的光子。不同的化学元素具有不同特性能量的电子轨道/壳层,因此来自对象/材料的XRF响应的光谱轮廓指示化学元素并可能指示材料/对象中包括的各元素的量。材料的假冒和供应链转移是影响许多领域的现象。不道德的制造商经常通过复制与“品牌”公司关联的标注(labeling)来伪造劣质的许多材料,包括但不限于原料、电子器件、聚合物以及药物,并进入供应链。为此,领域中存在已知的各种技术,这些技术使用XRF标记来识别对象/材料并确定它们的来源/制造商/所有者和/或各种参数,从而使得能够辨别原创材料/商品与假冒材料/商品。因为原创和假冒材料的化学组成可能是类似的,所以一些技术使用添加的XRF标记物(诸如具有特定先验已知XRF特征(signature)的材料的组合物),这些标记物被特 ...
【技术保护点】
一种X射线荧光XRF装置,该XRF装置包括:辐射检测器,该辐射检测器用于检测响应于由X射线或伽马射线辐射照射对象而从所述对象到达的X射线信号,并且提供指示所检测的X射线信号的数据;和信号读取处理器,该信号读取处理器与所述检测器通信,所述处理器适于接收并处理所检测的X射线信号,以识别所述对象中包括的材料的特征;其中,所述处理器包括:光谱数据提供器,该光谱数据提供器被配置为确定指示所检测的X射线信号的至少一部分的波长光谱轮廓的数据;和滤波模块,该滤波模块适于对指示所述波长光谱轮廓的所述数据进行滤波并获得经滤波轮廓,所述滤波被配置为抑制来自所述波长光谱轮廓的趋势分量和周期分量,其中,所述趋势分量和周期分量与由所述辐射检测器检测的X射线信号部分中的噪声和杂波中的至少一个关联;从而,所述经滤波轮廓具有改善的信噪比和/或信杂比,从所述经滤波轮廓,能够以提高的准确性和可靠性识别与所述对象中包括的材料的特征关联的光谱峰。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.04.02 US 62/142,1001.一种X射线荧光XRF装置,该XRF装置包括:辐射检测器,该辐射检测器用于检测响应于由X射线或伽马射线辐射照射对象而从所述对象到达的X射线信号,并且提供指示所检测的X射线信号的数据;和信号读取处理器,该信号读取处理器与所述检测器通信,所述处理器适于接收并处理所检测的X射线信号,以识别所述对象中包括的材料的特征;其中,所述处理器包括:光谱数据提供器,该光谱数据提供器被配置为确定指示所检测的X射线信号的至少一部分的波长光谱轮廓的数据;和滤波模块,该滤波模块适于对指示所述波长光谱轮廓的所述数据进行滤波并获得经滤波轮廓,所述滤波被配置为抑制来自所述波长光谱轮廓的趋势分量和周期分量,其中,所述趋势分量和周期分量与由所述辐射检测器检测的X射线信号部分中的噪声和杂波中的至少一个关联;从而,所述经滤波轮廓具有改善的信噪比和/或信杂比,从所述经滤波轮廓,能够以提高的准确性和可靠性识别与所述对象中包括的材料的特征关联的光谱峰。2.根据权利要求1所述的XRF装置,所述XRF装置包括辐射发射器,该辐射发射器适于发射用于照射所述对象的所述X射线或伽马射线辐射。3.根据权利要求1或2所述的XRF装置,所述XRF装置包括识别模块,该识别模块被配置且可操作为处理所述经滤波轮廓,以识别其中满足预定条件且与所述对象中包括的材料的XRF特征关联的一个或更多个峰。4.根据权利要求1至3中任一项所述的XRF装置,所述XRF装置包括数据存储,该数据存储存储将指示多个对象的信息与指示多个XRF标记物的标记数据关联的关联数据,各XRF标记物指示一个或更多个材料的XRF特征,所述XRF特征用于分别标记所述多个对象,并且其中,所述XRF装置包括识别模块,该识别模块被配置为利用所述关联数据来关联标记所述对象且出现在所述经滤波轮廓中的XRF标记物,并且基于对于所述对象获得的所述XRF特征数据确定指示所述对象的对象数据。5.根据权利要求4所述的XRF装置,其中,所述XRF标记物包括并由包括以下各项中的一个或更多个的材料形成:原始形式的所述对象;添加到所述对象以标记所述对象的一个或更多个添加XRF标记材料;以及用于将所述XRF标记材料粘到所述对象的载体材料。6.根据权利要求1至5中任一项所述的XRF装置,所述XRF装置被配置为手持XRF检测装置;所述XRF装置包括通信模块,该通信模块被配置为向远程的处理中心传送指示所述经滤波轮廓的数据,并且从所述处理中心获得作为响应的指示所述对象的对象数据。7.根据权利要求6所述的XRF装置,其中,所述对象数据包括指示以下各项中的一个或更多个的数据:所述对象的标识;与所述对象关联的产品的标识、所述对象的制造商的标识;所述对象的批号、所述对象的制造日期、所述对象的制造场所和/或所述对象的序列号;以及所述对象的拥有者的标识符。8.根据权利要求6或7所述的XRF装置,所述XRF装置包括显示器和显示控制器,该显示控制器被配置为操作所述显示器以呈现指示所述对象数据的标记。9.根据权利要求6至8中任一项所述的XRF装置,其中,所述通信模块是无线通信模块。10.根据权利要求6至9中任一项所述的XRF装置,所述XRF装置包括位置定位器,该位置定位器被配置为识别所述XRF装置的位置,以及其中,所述通信模块能够将指示所述位置的数据连同所述经滤波轮廓的所述数据一起传送到所述处理中心。11.根据权利要求6至10中任一项所述的XRF装置,所述XRF装置还包括光学读取器,该光学读取器被配置为读取与所述对象关联的光学代码,并且其中,所述通信模块能够将指示所述光学代码的数据连同所述经滤波轮廓的所述数据一起传送到所述处理中心。12.根据权利要求11所述的XRF装置,其中,所述光学代码是条形码或QR码。13.根据权利要求1至12中任一项所述的XRF装置,其中,所述处理器适于进行以下各项:-操作所述滤波模块,以应用所述滤波以对在多个时间帧中从所述对象到达的所述X射线信号的多个部分的多个波长光谱轮廓进行滤波,以抑制来自所述多个波长光谱轮廓的趋势分量和周期分量;并且-从指示被滤波的所述多个波长光谱轮廓的数据计算所述经滤波轮廓。14.根据权利要求13所述的XRF装置,其中,计算所述经滤波轮廓包括计算被滤波的所述多个波长光谱轮廓的平均轮廓。15.根据权利要求1至14中任一项所述的XRF装置,其中,所述滤波模块适于向所述波长光谱轮廓应用时间序列技术,以抑制所述趋势分量和所述周期分量并且获得具有改善的SNR或SCR的所述经滤波轮廓。16.根据权利要求15所述的XRF装置,其中,所述滤波模块适于利用预定自回归AR模型来进行所述滤波。17.根据权利要求16所述的XRF装置,其中,所述预定自回归AR模型是自回归积分移动平均ARIMA模型。18.根据权利要求15至17中任一项所述的XRF装置,其中,所述滤波模块适于在对所检测的X射线信号的所述部分进行滤波时利用以下各项中的至少一个:博克思-詹金斯处理和季节分解处理。19.根据权利要求15至18中任一项所述的XRF装置,其中,所述滤波模块包括季节性滤波器,该季节性滤波器操作为抑制所述周期分量;所述季节性滤波器适于进行以下各项:a.向所获得的所述波长光谱轮廓应用移动平均,以获得经平滑波长光谱轮廓;b.在所述波长光谱轮廓与所述经平滑波长光谱轮廓之间差分,从而获得指示所述周期分量的季节性轮廓,并且通过计算所述季节性轮廓的移动中间平均来使所述季节性轮廓平滑;以及c.在所述波长光谱轮廓与所述季节性轮廓之间差分,从而获得抑制了所述周期分量的经抑制周期性波长光谱轮廓。20.根据权利要求15至19中任一项所述的XRF装置,所述XRF装置包括固定滤波器,该固定滤波器操作为抑制所述趋势分量;所述固定滤波器适于进行以下各项:a.向所述波长光谱轮廓或向所述经抑制周期性波长光谱轮廓应用移动平均处理...
【专利技术属性】
技术研发人员:Y·格罗夫,
申请(专利权)人:索雷克核研究中心,安全事业有限公司,
类型:发明
国别省市:以色列,IL
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